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Dokumentenidentifikation DE4108651C1 08.10.1992
Titel Siebdruckverfahren
Anmelder ABB Patent GmbH, 6800 Mannheim, DE
Erfinder Wolff, Bettina, Dipl.-Ing. (FH), 4030 Ratingen, DE;
Pilsinger, Günter, 4000 Düsseldorf, DE
DE-Anmeldedatum 16.03.1991
DE-Aktenzeichen 4108651
Veröffentlichungstag der Patenterteilung 08.10.1992
Veröffentlichungstag im Patentblatt 08.10.1992
IPC-Hauptklasse B41M 1/12
IPC-Nebenklasse B41F 15/36   
Zusammenfassung Es wird ein Siebdruckverfahren zur Erzeugung von definierten und reproduzierbaren Schichtdicken bei planparallelen Substraten dargestellt.
Um definierte, reproduzierbare Schichtdicken zu erhalten, wird eine Meßstation (13, 13a) vorgeschlagen, die den Absprung x - das heißt den Abstand zwischen der Siebdruckfilmunterseite und der zu bedruckenden Substratoberfläche - vor einem Druckvorgang direkt oder indirekt ausmißt und daß der Meßwert einem Rechner eingegeben wird, der die Abweichung vom Sollwert ermittelt und einen Steuerbefehl an eine Verstelleinrichtung (10, 11) des Drucktisches (6) oder der Siebrahmenhalterung (1) veranlaßt.

Beschreibung[de]

Die Erfindung betrifft ein Siebdruckverfahren zum Herstellen von definierten, reproduzierbaren Schichtdicken auf planparallelen Substraten, wobei der Absprung, also die Differenz zwischen der Siebdruckfilmunterseite und der zu bedruckenden Substratoberfläche durch Ausmessen ermittelt wird und die erhaltenen Meßwerte für eine relative Abstandseinstellung zwischen Siebrahmenhalterung und Drucktisch (Substrataufage) verwendet werden.

Die zu bedruckenden Subtrate sind mit gewissen Höhentoleranzen behaftet, die den Absprung verändern. So wird bei einem fest eingestellten Schließweg, der regelmäßig einen festgelegtem Absprung entspricht, um die Siebdruckfilmunterseite auf die zu bedruckende Substratoberfläche zu bringen, die Druckschichtdicke entsprechend den Substrathöhentoleranzen schwanken. Wird der Absprung zu groß, so wird das Drucksieb - einschließlich des daran fest haftenden Siebdruckfilmes - zu stark durchgebogen.

Die Folge ist, daß am Siebrand eine höhere Spannung und damit eine geringere Druckschicht auftritt als im Siebinneren, d. h. die Schicht wird nicht über die gesamte zu bedruckende Fläche mit einer konstanten Stärke aufgetragen.

Nun ist es bei bestimmten Substraten, z. B. bei Keramikzylindern für Vakuumschaltkammern, deren Stirnseiten mittels Siebdruck mit einer lötfähigen Paste versehen werden sollen, eminent wichtig, eine definierte und reproduzierbare Schichtdicke aufzubringen. Auf diese aufzubringende Schicht sollen später Metalldeckel angelötet werden. Die Güte der Lötstellen und somit die Dichtheit der Vakuumschaltkammer hängt von einer vorgegebenen, streng einzuhaltenden Lotpastenschichtdicke ab.

Das eingangs genannte Verfahren zum Siebdrucken ist aus der DD 2 70 041 A1 bekannt. Dabei werden im Drucktisch versenkbare Meßstifte sowie ein Antastbalken verwendet, die sowohl die Substratoberfläche als auch die Siebdruckfilmunterseite antasten. In einer Auswerteeinrichtung wird die Meßwertedifferenz gebildet und die Druckform so lange verstellt, bis der Absprung sein Sollmaß erreicht hat. Dieses Meßverfahren ist störträchtig und insbesondere zeitaufwendig. Die Antastelemente müssen des öfteren kalibriert werden. Die Mechanik ist anfällig; insbesondere kann das Meßergebnis durch eine zu hohe Antastkraft an der empfindlichen Siebdruckfilmunterseite verfälscht werden.

Die Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Siebdruckverfahren anzugeben, mit dem eine definierte, reproduzierbare Schichtdicke bei mit Toleranzen behafteten Substraten ermöglicht werden kann.

Die Lösung gelingt mit einer Meßstation, die den Absprung vor einem Druckvorgang direkt oder indirekt durch berührungsloses Abtasten der Substratoberkante ausmißt, der Meßwert einem Rechner eingegeben wird, der die Abweichung vom Sollwert ermittelt und einen Steuerbefehl an die Verstelleinrichtung des Drucktisches oder der Siebrahmenhalterung veranlaßt.

Die Meßstation kann zum Beispiel mittels Laserstrahl (oder anderer geeigneter Meßwertaufnehmer) die relative Höhe der an die zu bedruckende Fläche sich anschließenden oberen Kante des Substrates ausmessen. Dabei ist die feststehende Höhe des Auflagetisches zuzüglich der Sollmaßhöhe des Substrates als absolutes Nullmaß kodierbar. Eine Abweichung von diesem Wert wird vom Rechner in einen entsprechenden Befehl zur Verstellung der Siebrahmenhalterung oder des Drucktisches umgesetzt.

Die Verstelleinrichtung kann mechanisch oder hydraulisch über Schritt- bzw. Linearmotoren erfolgen. Zwischen Meßstation, Rechner sowie Befehlsgeber zur Steuerung der Motoren kann ein Regelkreis hergestellt sein, bei dessen Anwendung der Erfolg der Verstellung rückgemeldet wird.

Mit der Erfindung ist es möglich, unabhängig von der Höhentoleranz des Substrates immer exakt die geforderten Abstände einzuhalten.

Die gleiche Meßmethode kann zusätzlich an der Unterseite (Unterkante) des Siebdruckfilmes vorgenommen werden; dies hat den Vorteil, daß dabei der Verschleiß des Siebdruckfilmes berücksichtigt, das heißt kompensiert wird.

Die Meßwerte beider Meßstationen werden natürlich dem entsprechend programmierten Rechner eingegeben. Bei verschlissenem Siebdruckfilm kann zusätzlich eine Warnmeldung abgegeben werden.

Durch das stetige Abfragen und korrigieren des Absprunges x vor dem Drucken ist eine automatische in den Siebdruckprozeß integrierte Schichtdickenverstetigung erreicht.

Die Erfindung soll anhand eines schematisch dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert werden.

Zu erkennen ist die Siebrahmenhalterung 1, die den Siebrahmen 2 nit dem Drucksieb 3, das - z. B. über eine Klebeverbindung - den Siebdruckfilm 4 trägt, in Position hält. Durch die Schnittdarstellung der Teile 3 sowie 4 ist die zu druckende Kontur 5 im Siebdruckfilm erkennbar. In diese wird beim Drucken automatisch mittels eines Druckspachtels 8 (Rakelwerk) die Druckmasse 9 eingebracht. Der Absprung x ist definiert durch den Abstand zwischen der Siebdruckfilmunterseite 15 und der Substratoberfläche 14 des auf einen Drucktisch 6 aufliegenden planen Substrates 7.

Vor dem Drucken wird mit einen Vorrakel (Spachtel) das Drucksieb 3 mit Druckmasse gefüllt. Nachdem durch eine Relativbewegung von Siebdruckrahmenhalterung 1 und/oder Drucktisch 6 die Druckstellung - in der Siebdruckfilmunterseite 15 an der Substratoberfläche 14 anliegt - erreicht ist, wird die Druckmasse 9 mittels des Druckspachtels 8 (Druckrakelwerk) in das Drucksieb 3 hineingepreßt. Dadurch wird auf der anderen Seite Druckmasse aus den Drucksieb 3 heraus- und in die Kontur 5 des Siebdruckfilmes 4 hineingepreßt. Die in die Kontur 5 hineingepreßte Druckmasse verbleibt am Substrat 7 als Schichtauftrag.

Die Schichtdicke der aufgedruckten Schicht und deren Reproduzierbarkeit wird also bestimmt durch die Dicke des Siebdruckfilmes an der Unterseite des verwendeten Drucksiebes 4 und vom Abstand x.

Da der Absprung x sich in der Größenordnung von µm bewegt, sind die übrigen Teile wesentlich verkleinert dargestellt.

Der Drucktisch 6 ist über eine Verstelleinrichtung, bestehend aus einem Getriebe 10 oder spielfrei arbeitenden Gewindespindeln sowie einem Schrittmotor 11, höhenverstellbar ausgebildet. Über das Getriebe wird der Drucktisch in axialer Richtung (siehe Pfeil y) verschoben. Das Getriebe kann mechanisch oder hydraulisch funktionieren.

Der Schrittmotor 11 erhält seine Steuerbefehle von einer Steuerelektronik 12, in der ein Rechner integriert ist. Diese wird wiederum von Meßstationen 13, 13a mit Meßwerten versorgt.

Die Meßstation 13 tastet mit einem, beispielsweise optischen System (Lasermessung), die der zu bedruckenden Fläche 14 zugeordnete Substratoberkane A ab. Eine Abweichung des in der Steuerelektronik eingeprägten Sollwertes der Substratoberkante wird ermittelt und ein entsprechender Befehl an den Schrittmotor weitergeleitet.

Die Unterkante B der dem Substrat zugewandten Siebdruckfilmfläche 15 kann ebenfalls mit Hilfe einer Meßstation 13a überwacht werden. Deren Stellung läßt eine Aussage über den Verschleiß des Siebdruckfilmes 4 zu und kann bei Unterschreitung eines vorgegebenen Sollwertes zu einer Warnmeldung oder zu einem Abschalten der Siebdruckanlage verarbeitet werden.

Es ist natürlich auch möglich, den Absprung x direkt zu messen; auch ist eine Verstellmöglichkeit der Siebrahmenhalterung 1 eine Methode den Absprung x einzuregulieren.


Anspruch[de]
  1. 1. Siebdruckverfahren zum Herstellen von definierten, reproduzierbaren Schichtdicken auf planparallelen Substraten, wobei der Absprung, also die Differenz zwischen der Siebdruckfilmunterseite und der zu bedruckenden Substratoberfläche durch Ausmessen ermittelt wird und die erhaltenen Meßwerte für eine relative Abstandseinstellung zwischen Siebrahmenhalterung und Drucktisch (Substratauflage) verwendet werden, dadurch gekennzeichnet, daß vor jedem Druckvorgang der Absprung (x) gemessen wird, wobei von einer Meßstation (13) lediglich die Substratoberkante (A) berührungsfrei abgetastet und die Meßwerte einem Rechner zugeführt werden, der den Absprung (x) berechnet und im Bedarfsfalle einen Steuerbefehl an die Verstelleinrichtung (10, 11) des Drucktisches (6) oder Siebrahmenhalterung (1) abgibt.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich die Unterkante (B) des dem Substrat (7) zugewandten Siebdruckfilmes (4) von einer Meßeinrichtung erfaßt wird, deren Meßwert vom Rechner mitverarbeitet wird.
  3. 3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß in den Meßstationen (13, 13a) die Kantenabtastungen mit einem Laser vorgenommen werden.
  4. 4. Siebdruckverfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat (7) von einem Keramikzylinder gebildet ist, auf dessen Stirnseiten eine Metallschicht aufgebracht wird.






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