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Dokumentenidentifikation DE3785986T2 09.12.1993
EP-Veröffentlichungsnummer 0260808
Titel Verbindungsstruktur zur Verbindung einer Speichereinheit an eine Speichersteuereinheit.
Anmelder Tokyo Electric Co., Ltd., Tokio/Tokyo, JP
Erfinder Matsushita, Tsuyoshi, Tagata Shizuoka, JP
Vertreter Grünecker, A., Dipl.-Ing.; Kinkeldey, H., Dipl.-Ing. Dr.-Ing.; Stockmair, W., Dipl.-Ing. Dr.-Ing. Ae.E. Cal Tech; Schumann, K., Dipl.-Phys. Dr.rer.nat.; Jakob, P., Dipl.-Ing.; Bezold, G., Dipl.-Chem. Dr.rer.nat.; Meister, W., Dipl.-Ing.; Hilgers, H., Dipl.-Ing.; Meyer-Plath, H., Dipl.-Ing. Dr.-Ing.; Ehnold, A., Dipl.-Ing.; Schuster, T., Dipl.-Phys.; Vogelsang-Wenke, H., Dipl.-Chem. Dipl.-Biol.Univ. Dr.rer.nat.; Goldbach, K., Dipl.-Ing.Dr.-Ing.; Aufenanger, M., Dipl.-Ing.; Klitzsch, G., Dipl.-Ing., Pat.-Anwälte, 80538 München
DE-Aktenzeichen 3785986
Vertragsstaaten DE, FR, GB
Sprache des Dokument En
EP-Anmeldetag 14.08.1987
EP-Aktenzeichen 873071997
EP-Offenlegungsdatum 23.03.1988
EP date of grant 26.05.1993
Veröffentlichungstag im Patentblatt 09.12.1993
IPC-Hauptklasse G11C 5/00
IPC-Nebenklasse G06K 19/06   

Beschreibung[de]

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Speichereinheit mit einem Halbleiterspeicher zum Speichern von Informationen, wie Daten und/oder Sätze, und einen Speichercontroller für die Speichereinheit, welcher mit der Speichereinheit verbunden ist. Insbesondere, betrifft die Erfindung eine Verbindungsstruktur für das Verbinden einer solchen Speichereinheit mit einem Verbindungselement des Speichercontrollers.

Herkömmlich ist eine einen Halbleiterspeicher aufweisende Speichereinheit in ein Verbindungselement eingefügt, das mit einem Controller verbunden ist, um dem Halbleiterspeicher mit dem Controller zum Schreiben oder Lesen von Informationen in dem Halbleiterspeicher der Speichereinheit bzw. aus dem Halbleiterspeicher elektrisch zu verbinden. Wenn die Speichereinheit in das Verbindungselement eingefügt ist, ist die Speichereinheit durch mehrere Kontakte mit dem Controller verbunden. Diese Kontakte sind grob eingeteilt in Signalankontakte, durch welche Signale übertragen werden, und Massekontakte. Die Signalkontakte lassen sich grob unterteilen in Informationssignalkontakte und Prüfkontakte. Signale die Informationen beinhalten, die in die in die Speichereinheit geschrieben oder aus ihr gelesen werden, werden über die Informationssignalkontakte übertragen. Einige dieser Informationssignalkontakte werden dann benutzt die Speichereinheit mit einer Spannungsquelle zu verbinden. Die Prüfkontakte werden dann benutzt, festzustellen ob die Speichereinheit sicher mit dem Verbindungselement verbunden ist.

Solch eine herkömmliche Verbindungsstruktur hat die folgenden Nachteile. Wenn eine Speichereinheit durch einem Benutzer gehandhabt wird, so wird in einigen Fällen der Benutzer oder die Speichereinheit mit statischer Elektrizität geladen, wodurch ein Differenzpotential zwischen der Speichereinheit und dem Verbindungselement erzeugt wird. Dementsprechend ist es möglich, daß sich die angesammelte statische Elektrizität im Betreiber oder in der Speichereinheit durch den Halbleiterspeicher der Speichereinheit beim Einfügen der Speichereinheit in das Verbindungselement entlädt, was zum Zerstören des Halbleiterspeichers oder des Inhalts des Halbleiterspeichers führt. Zum Vermeiden eines solchen Ereignisses ist es üblich, daß die Speichereinheit und das Verbindungselement mit Masseanschlüssen versehen werden, um die statische Elektrizität über den Massepunkt zu entladen. Dennoch ist es möglich, das die statische Elektrizität durch die Signalanschlüsse der Speichereinheit und dem Verbindungselement und dem Halbleiterspeicher entladen wird, ist bevor die statische Elektrizität durch die Masseanschlüsse entladen wird. Deshalb ist der Stand der Technik nicht dazu in der Lage, eine Zerstörung des Halbleiterspeichers mit Sicherheit zu vermeiden. Die Anschlüsse der Speichereinheit und die des Verbindungselements sind in einer Linie so angeordnet, daß im Prinzip alle Anschlüsse der Speichereinheit gleichzeitig mit den entsprechenden Anschlüssen des Verbindungselements verbunden werden sollten. Tatsächlich werden die Anschlüsse der Speichereinheit aber nicht gleichzeitig verbunden mit denen des Verbindungselements, wodurch es möglich ist, daß, das oben beschriebene Mißgeschick dennoch vorkommen kann. Zum Beispiel, wenn die Speichereinheit in das Verbindungselement leicht schräg eingeführt wird, ist eine gleichzeitige Verbindung der Anschlüsse der Speichereinheit mit denen des Verbindungselements unmöglich.

Wenn eine elektrische Verbindung der Speichereinheit mit dem Steuerschaltkreis durch mehrere Anschlüsse, durch Einfügen der Speichereinheit in ein Verbindungselement hergestellt wird, müssen die Anschlüsse sicher elektrisch verbunden sein, um eine korrekte Informationsübertragung zwischen der Speichereinheit und dem Steuerschaltkreis zu gewährleisten. Herkömmlich enthalten die Speichereinheit und das Verbindungselement Prüfanschlüsse. Aus der korrekten Verbindung der Prüfanschlüsse leitet man ab, daß auch die restlichen Anschlüsse korrekt verbunden sind. Wenn die Speichereinheit schräg in das Verbindungselement eingefügt wird, ist es z. B. möglich, daß einige Anschlüsse nicht verbunden sind, obwohl die Prüfanschlüsse verbunden sind. Wenn Information zwischen der Speichereinheit und dem Controller mit den unkorrekt verbundenen Anschlüssen übertragen wird, ist eine präzise Informationsübertragung nicht möglich und eine Veränderung oder Zerstörung der Inhalte der Speichereinheit ist möglich. Insbesondere bei statischen RAMs einer C-MOS-Struktur, werden die Inhalte wahrscheinlich zerstört, wenn Information zwischen dem statischen RAM und dem Controller übertragen wird, und die Anschlüsse von der Stromversorgung getrennt werden.

Die Japanische Anmeldung Nr. 60-236183 offenbart ein Verbindungselement für eine Speichereinheit, wo sequentiell die Verbindungen durch veränderte Längen der Anschlüsse an einem rechteckigen Steckträger hergestellt werden. Jedoch hat dieses den Nachteil, daß es schwierig herzustellen ist und im Betrieb und unzuverlässig ist, da sich die Anschlüsse nicht bis an die Kanten des Trägers erstrecken. Die vorliegende Erfindung hat zum Ziel dieses Problem zu überwinden.

Die vorliegende Erfindung schafft dementsprechend eine Verbindungsstruktur für die elektrische Verbindung einer Speichereinheit mit einem externen Controllerverbindungselement, in welchem diese Speichereinheit einer Reihe von Informationssignalanschlüssen hat, neben denen Prüf- und Masseanschlüssen angeordnet sind und einer gegenüberstehenden entsprechenden Reihe von Informationsaufnahmeanschlüssen, neben denen auch Prüf- und Masseanschlüsse angeordnet sind. Diese Struktur ist gekennzeichnet dadurch, daß das Verbindungselement (8) eine gerade Kante hat und daß die Anschlüsse bündig mit der besagten geraden Kante abschließen, daß die Speicherseitenkante eine Form hat, welche zwei vorstehende äußere Seiten (3) aufweist mit welchen die Masseanschlüsse (10) bündig abschließen, ein Mittelseitenteil, mit welchen die äußeren Enden der Signalanschlüsse bündig abschließen, und welche durch eine Linie definiert werden, die parallel aber zurückgesetzt durch eine Distanz von der äußeren hervorstehenden Seite (3) angeordnet ist, und dazwischenliegende Seiten, mit welchen die äußeren Enden der Prüfanschlüsse (7) bündig abschließen, und welche jeweils durch eine Linie definiert werden, welche parallel aber zurückgesetzt durch eine Distanz von der äußeren hervorstehenden Seite (3) angeordnet ist, wobei die Distanz a < b ist, so daß die Signalanschlüsse vor den Prüfanschlüssen verbunden werden, und alle Anschlüsse bündig mit ihren bezüglichen Gerätekanten abschließen. Wenn deshalb die Speichereinheit schräg in das Verbindungselement eingefügt wird, werden die Masseanschlüsse mit den jeweiligen Aufnahmemasseanschlüssen verbunden, bevor die Signalanschlüsse mit den jeweiligen Aufnahmesignalanschlüssen verbunden werden und die Anschlüsse sind jetzt sicher durch das flächenbündige Abschließen mit ihren Kanten verbunden. Dementsprechend wird die in der Speichereinheit angesammelte statische Elektrizität beim Einfügen der Speichereinheit in das Verbindungselement sicher über eine Masse entladen, ohne daß eine Entladung über den Halbleiterspeicher der Speichereinheit auftritt.

Wenn die Anschlüsse so angeordnet sind, daß die Prüfanschlüsse der Signalanschlüsse der Speichereinheit mit den Aufnahmeprüfanschlüssen der entsprechenden Aufnahmesignalanschlüssen verbunden werden, nachdem die restlichen Anschlüsse zusammengeschaltet worden sind, ist die komplette Verbindung der Anschlüsse durch die Verbindung der Prüfanschlüsse mit den Aufnahmeprüfanschlüssen bekannt. Dementsprechend ist es möglich, genau festzustellen, ob die Speichereinheit korrekt mit dem Verbindungselement verbunden ist.

Beispiele der vorliegenden Erfindung werden unter Bezugnahme nachfolgend auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, worin

Fig. 1 ein Blockdiagramm, eines ersten Ausführungsbeispieles der vorliegenden Erfindung, welches den Zustand der Verbindung einer Speichereinheit mit einer Verbindungsstruktur und einer elektronischen Einrichtung zeigt.

Fig. 2 ist ein Zeitdiagramm, welche die jeweiligen Zeitverläufe der Signale zeigt, die zwischen der Speichereinheit und der elektronischen Einrichtung nach Fig. 1 übertragen werden; und

Fig. 3 ist ein Blockdiagramm, das eine Speichereinheit und ein Verbindungselement zeigt, das eine Verbindungsstruktur enthält.

Ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird im folgenden unter Bezugnahme auf die Fig. 1 und 2 beschrieben. Eine rechteckige Speichereinheit 1 ist mit einem Halbleiterspeicher 2 versehen. Eine Anschlußgruppe 4 ist an einer Seite 3 der Speichereinheit 1 ausgebildet. Die Anschlußgruppe 4 weist ein Paar von Masseanschlüssen 5 ein, die an den gegenüberliegenden Enden der Anschlußgruppe 4 angebracht sind, ein Paar Prüfanschlüsse 7, die jeweils innerhalb und neben den Masseanschlüssen 5 angeordnet sind, und eine Anzahl von Informationssignalanschlüssen 6, die in einer Linie zwischen dem Paar der Prüfanschlüsse 7 angeordnet sind. Die äußeren Enden der Masseanschlüsse 5 schließen bündig mit der Seite 3 der Speichereinheit 1 ab, die äußeren Enden der Informationssignalanschlüsse 6 liegen bündig auf einer Linie, die sich parallel zur Seite 3 aber zurückgesetzt in einer Distanz a von ihr erstreckt. Die äußeren Enden der Prüfanschlüsse 7 liegen bündig auf einer Linie, die sich parallel aber zurückgesetzt von einer Distanz b von der Seite 3 erstreckt, wobei a < b ist. Die Masseanschlüsse 5 und die Informationssignalanschlüsse 6 sind elektrisch mit dem Halbleiterspeicher 2 verbunden und die Prüfanschlüsse 7 sind kurzgeschlossen. Die Informationssignalanschlüsse und die Kontrollanschlüsse 7 bilden eine Gruppe von Signalanschlüssen 20.

Die Speichereinheit 1 wird eingefügt in ein Verbindungselement 8, welches wie aus Fig. 1 ersichtlich ist eine gerade Kante hat. Das Verbindungselement 8 hat eine Anschlußgruppe 9, welche zwei Aufnahmemasseanschlüsse 10, entsprechend den Masseanschlüssen 5 der Speichereinheit 1 enthält, eine Vielzahl von Aufnahmeinformationssignalanschlüssen 13, entsprechend den Informationssignalanschlüssen 6 der Speichereinheit 1, und zwei Aufnahmeprüfsignalanschlüsse 11 und 12, entsprechend den Prüfanschlüssen 7 der Speichereinheit 1. Die Aufnahmemasseanschlüsse 10, die Aufnahmeinformationssignalanschlüsse 13 und die Prüfsignalanschlüsse 11 und 12 sind entlang einer geraden Linie angeordnet. Die zwei Aufnahmemasseanschlüsse 10 und der Aufnahmeprüfsignalanschluß 12 der beiden Aufnahmeprüfsignalanschlüsse sind jeweils mit Massen G verbunden und die restlichen Anschlüsse des Verbindungselements 8 sind mit einer elektronischen Einrichtung 14 verbunden, welche später noch beschrieben wird. Die Anschlüsse 11, 12 und 13 sind in einer Gruppe der Aufnahmesignalanschlüsse 21 enthalten.

Die elektronische Einrichtung 14 enthält einen Schaltkreis 15, einen Verzögerungsschaltkreis 16, einen Logikschaltkreis 17 und einen Steuerschaltkreis für die Speichereinheit 18, genannt Controller. Der Controller 18 ist durch den Schaltkreis 15 mit dem Verbindungselement 8 verbunden. Der Schaltkreis 15 ist verbunden mit dem Aufnahmeprüfsignalanschluß 11 und dem mit dem Ausgangsanschluß des Verzögerungsschaltkreises 16, welcher über einen Widerstand R mit der Spannungsquelle V seinerseits verbunden ist. Der Eingangsanschluß und der Ausgangsanschluß des Verzögerungsschaltkreises 16 ist jeweils mit den Eingangsanschlüssen des Logikschaltkreis 17 verbunden. Der Ausgangsanschluß des Logikschaltkreises 17 ist mit dem Steuerschaltkreis 18 verbunden.

Der Steuerschaltkreis 18 ist eine Spannungsquelle auf die über den Schaltkreis 15 eine der Aufnahmeinformationssignalanschlüsse 13 mit Strom versorgt ist.

Eine Art der Verbindung der Anschlüsse des Verbindungselements 8 und der Speichereinheit 1 beim Einfügen der Speichereinheit 1 in das Verbindungselement 8 wird hiernach beschrieben. Wie aus Fig. 1 ersichtlich, sind die Informationssignalanschlüsse 6 zurückgesetzt angeordnet mit einer Distanz a von den Masseanschlüssen 5, ausgerichtet in einer Linie mit der Seite 3 der Speichereinheit 1, und die Prüfanschlüsse 7 sind zurückgesetzt angeordnet mit einer Distanz b von den Masseanschlüsse 5 (a < b). Beim Einfügen der Speichereinheit 1 in das Verbindungselement 8 sind die Masseanschlüsse 5 jeweils an den gegenüberliegenden Enden der Anschlußgruppe 4 angeordnet, welche mit den Aufnahmemasseanschlüssen 10 des Verbindungselements 8 jeweils verbunden werden, bevor die restlichen Anschlüsse der Speichereinheit 1 mit dem Aufnahmeanschlüssen des Verbindungselements 8 verbunden werden. Danach, wenn die Speichereinheit 1 in das Verbindungselement 8 weiter eingefügt wird, werden die Informationssignalanschlüsse 6 der Speichereinheit 1 mit den Aufnahmeinformationssignalanschlüssen 13 des Verbindungselements 8 verbunden, und schließlich werden die Prüfanschlüsse der Speichereinheit 1 mit den Aufnahmeprüfanschlüssen 11 und 12 des Verbindungselements 8 verbunden. Demzufolge werden die Anschlüsse der Speichereinheit 1 nacheinander mit denen des Verbindungselements 8 verbunden. Beim Herausziehen der Speichereinheit 1 aus den Verbindungselement 8 werden die Anschlüsse in umgekehrter Reihenfolge gelöst, nämlich, die Prüfanschlüsse 7 werden zuerst von den Aufnahmeprüfanschlüssen 11 und 12 gelöst, und die Masseanschlüsse 5 des Verbindungselementes 8 werden zuletzt von den Aufnahmemasseanschlüssen 10 des Verbindungselements 8 gelöst.

Obgleich das Zeitverhalten der Verbindung und der Lösung unterschiedlich zwischen den Anschlüssen ist, so werden die Anschlüsse immer verbunden oder gelöst mit verbundenen Masseanschlüssen 5 der Speichereinheit 1 und den Aufnahmemasseanschlüssen des Verbindungselements 8. Dementsprechend wird beim Einfügen der Speichereinheit 1 in das Verbindungselement 8 die angesammelte statische Elektrizität in der Speichereinheit 1 an der Masse G ohne Fehler entladen, bevor die Signalanschlüsse 20 mit den Aufnahmesignalanschlüssen 21 verbunden werden. Folglich wird der Halbleiterspeicher 2 an sich und der Inhalt des Halbleiterspeichers 2 geschützt. Da die Prüfanschlüsse 7 zuletzt mit den Aufnahmeprüfanschlüssen 11 und 12 verbunden werden, wird die Verbindung der restlichen Anschlüsse bestätigt durch das Feststellen der Verbindung der Prüfanschlüsse 7 und der Aufnahmeprüfanschlüsse 11 und 12. Deshalb wird eine Informationsübertragung durch unkorrektes Verbinden der Speichereinheit 1 mit dem Verbindungselement 8 vermieden, so daß fehlerhafte Schreib- und Leseoperationen vermieden werden.

Die elektrische Funktion der so ausgebildeten Verbindungsstruktur wird nun unter Bezugnahme auf die Fig. 2 beschrieben. Beim Einfügen der Speichereinheit 1 in das Verbindungselement 8 werden zuerst die Masseanschlüsse 5 mit den Aufnahmemasseanschlüssen 10 verbunden, so daß eine Masseleitung entsteht. Danach werden die Informationssignalanschlüsse 6 mit den Aufnahmesignalanschlüssen 13 verbunden, so daß Signalleitungen entstehen. In diesem Moment, da der Schaltkreis 15 geöffnet ist, bleiben die Signalleitungen gelöst von dem Steuerschaltkreis 18. Danach werden die Prüfanschlüsse 7 mit den Aufnahmeprüfanschlüssen 11 und 12 verbunden, wobei das Potential eines Nachweissignals DET2 von einem hohen Niveau auf ein niedriges wechselt. Das Nachweissignal DET2 des niedrigen Niveaus wird zum Verzögerungsschaltkreis 16 übertragen, und danach erzeugt der Verzögerungsschaltkreis 16 ein Verzögerersignal DET3 das den Schaltkreis 15 einschaltet. Dadurch wird der Informationssignalanschluß 13 durch die Signalleitung mit dem Controller 18 verbunden. Zur selben Zeit wird ein Nachweissignal DET1, welches das logische Produkt des Nachweissignals DET2 und des Verzögerungssignals DET3 ist, zum Controller 18 gegeben, um den Controller 18 zu betätigen. Demzufolge wird der Schaltkreis 15, der die Signalleitungen mit dem Controller 18 verbindet und den Controller 18 betätigt mit einer kurzen Verzögerung nach dem Verbinden der Signalleitungen mit dem Controller 18 geschaltet. Dementsprechend bestätigt der Controller 18 die sichere Verbindung der Speichereinheit 1 mit dem Verbindungselement 8, durch Kontrolle des Nachweissignals DET1, nämlich das logische Produkt des Nachweissignals DET2 und dem verzögerten Signal DET3, welches ermittelt wird, durch Verzögerung des Nachweissignals DET2, und dann steuert die Speichereinheit 1 für eine Datenschreiboperation.

Auf der anderen Seite überwacht der Controller 18 beim Herausziehen der Speichereinheit 1 aus dem Verbindungselement 8 das Kontrollnachweissignal DET1 und stellt dadurch fest, daß die Speichereinheit aus dem Verbindungselement gelöst wurde, wenn die Prüfanschlüsse 7 von den Aufnahmeprüfanschlüssen 11 und 12 gelöst werden, weil sich dadurch das Nachweissignals DET1 ändert, welches sich durch Veränderung des Nachweissignals DET2 ergibt. In einer Zeitperiode die der Zeit entspricht, die notwendig ist für die Bewegung der Speichereinheit 1 über eine Distanz b-a relativ zum Verbindungselement 8, von einem Moment des Wechselns des Nachweissignals DET1 vom hohen zum niedrigen Niveau zu einem Moment der Trennung der Informationssignalanschlüsse 6 von den Aufnahmeinformationssignalanschlüssen 13, können die fließenden Daten verarbeitet werden, ohne daß diese Daten durcheinandergebracht werden. In Fig. 2 ist eine Zeit T1 zu sehen, in welcher die Speichereinheit 1 vom Verbindungselement 8 gelöst wird. Das Nachweissignal DET1 wechselt vom hohen zum niedrigem Niveau und dadurch werden die Signalleitungen vom Schaltkreis 15 gelöst. Die Zeit T2, ist notwendig, um Daten zu schreiben, wobei die Ungleichung T1 > T2 gilt.

Die Anwendung der vorliegenden Erfindung ist es nicht beschränkt auf eine Speichereinheit 1 in Form einer Speicherkarte, einer ROM-Cartrigde oder eine verbindbare gedruckte Schaltkarte, die mit einem Speicher versehen sind. Die vorliegende Erfindung ist anwendbar auf alle Arten von Speichereinheiten mit der gleichen oder einer ähnlichen Konstruktion.

Im folgenden wird eine Verbindungsstruktur anhand der Fig. 3 beschrieben, in welcher gleiche oder ähnliche Teile wie sie vorher bezugnehmend auf das erste Ausführungsbeispiel jeweils beschrieben wurden, die selben Bezugszeichen aufweisen und auf die Beschreibung verzichtet wird.

In dieser Struktur ist eine Anschlußgruppe 4 mit Masseanschlüssen 5, Informationssignalanschlüssen 6 und Prüfanschlüssen 7 in einer Speichereinheit 1 im bündigen Abschluß mit einer Seite 3 der Speichereinheit 1 angeordnet. Eine Anschlußgruppe 9 des Verbindungselements 8 hat den gleichen Aufbau wie die Anschlußgruppe 4 der Speichereinheit 1 des ersten Ausführungsbeispiels. Das heißt, im Verbindungselement 8 sind Masseanschlüsse 10 angeordnet im bündigen Abschluß mit einer äußeren Fläche einer Speichereinheitaufnahmeöffnung 22 am Verbindungselement 8, Aufnahmeinformationssignalanschlüsse 13, sind zurückgesetzt angeordnet mit einer Distanz a von der äußeren Fläche der Speichereinheitaufnahmeöffnung 22, und Aufnahmeprüfanschlüsse 11 und 12, sind zurückgesetzt angeordnet mit einer Distanz b von der äußeren Fläche der Speichereinheitaufnahmeöffnung 22.

Beim Einfügen der Speichereinheit 1 in das Verbindungselement 8, ähnlich zu dem des ersten Ausführungsbeispiels, werden zuerst die Masseanschlüsse 5 in Kontakt mit den Aufnahmemasseanschlüssen 10 gebracht. Danach werden die Informationssignalanschlüsse 6 in Kontakt mit den Aufnahmeinformationsanschlüssen 13 gebracht und anschließend werden die Prüfanschlüsse 7 in Kontakt mit den Aufnahmekontrollanschlüssen 11 und 12 gebracht. Dementsprechend wird beim Einfügen der Speichereinheit 1 in das Verbindungselement 8 die in der Speichereinheit 1 angesammelte statische Elektrizität sicher über die Masse G entladen, und eine Informationsübertragung ohne sichere Verbindung des Speichergerätes 1 mit dem Verbindungselement 8 wird vermieden.


Anspruch[de]

Eine Verbindungsstruktur für die elektrische Verbindung einer Speichereinheit (1) mit einem externen Controllerverbinder (8) in welcher die Speichereinheit (1) eine Reihe von Informationssignalanschlüssen (6) aufweist, neben denen Prüfanschlüsse (7) angeordnet sind, neben denen vortretende Masseanschlüsse (5) angeordnet sind, und einer gegenüber stehenden entsprechenden Reihe von Aufnahmeinformationsanschlüssen (13), neben denen auch Prüfanschlüsse (11, 12) und Masseanschlüssen (10) angeordnet sind, gekennzeichnet dadurch, daß das Verbindungselement (8) eine gerade Kante hat und daß die Anschlüsse bündig mit der besagten geraden Kante ab schließen, daß die Speichereinheitsseitenkante eine Form hat, welche zwei vorstehende äußere Seiten (3) aufweist mit welchen die Masseanschlüsse (10) bündig abschließen, ein Mittelseitenteil, mit welchem die äußeren Enden der Signalanschlüsse bündig abschließen, und welche durch eine Linie definiert werden, die parallel aber zurückgesetzt durch eine Distanz (a) von der äußeren hervorstehenden Seite (3) angeordnet ist, und dazwischenliegenden Teilen, mit welchen die äußeren Enden der Prüfanschlüsse (7) bündig abschließen, und welche jeweils durch eine Linie definiert werden, welche parallel aber zurückgesetzt durch eine Distanz (b) von der äußeren hervorstehenden Seite (3) angeordnet ist, wobei die Distanz a < b ist, so daß die Signalanschlüsse vor den Prüfanschlüssen verbunden werden, und alle Anschlüsse bündig mit ihren bezüglichen Gerätekanten abschließen.







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