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Dokumentenidentifikation DE102005032515A1 25.01.2007
Titel Endoskopoptik
Anmelder Henke-Sass, Wolf GmbH, 78532 Tuttlingen, DE
Erfinder Rehe, Oliver Heiko, 78532 Tuttlingen, DE;
Blackwell, John, Ely, GB
Vertreter GEYER, FEHNERS & PARTNER (G.b.R.), 80687 München
DE-Anmeldedatum 12.07.2005
DE-Aktenzeichen 102005032515
Offenlegungstag 25.01.2007
Veröffentlichungstag im Patentblatt 25.01.2007
IPC-Hauptklasse G02B 13/24(2006.01)A, F, I, 20051017, B, H, DE
IPC-Nebenklasse G02B 23/24(2006.01)A, L, I, 20051017, B, H, DE   A61B 1/002(2006.01)A, L, I, 20051017, B, H, DE   A61B 1/04(2006.01)A, L, I, 20051017, B, H, DE   A61B 17/00(2006.01)A, L, I, 20051017, B, H, DE   A61B 17/94(2006.01)A, L, I, 20051017, B, H, DE   
Zusammenfassung Es wird bereitgestellt eine Endoskopoptik mit einem Objektiv (1), das in einer Zwischenbildebene (Z1) ein Zwischenbild eines abzubildenden Objekts erzeugt, sowie einem dem Objektiv (1) nachgeordneten Leitsystem (3), das mehrere, hintereinander angeordnete Umkehrsysteme (6) zum Weiterleiten des Zwischenbildes umfaßt, wobei zwischen der Zwischenbildebene (Z1) und dem Leitsystem (3) ein Optikmodul (2) angeordnet ist, das den Durchmesser des durch das Optikmodul (2) verlaufenden Strahlenbündels verringert und seine Divergenz erhöht.

Beschreibung[de]

Die Erfindung betrifft eine Endoskopoptik mit einem Objektiv, das in einer Zwischenbildebene ein Zwischenbild eines abzubildenden Objekts erzeugt, sowie mit einem dem Objektiv nachgeordneten Leitsystem, das mehrere, hintereinander angeordnete Umkehrsysteme zum Weiterleiten des Zwischenbildes umfaßt.

Eine solche Endoskopoptik wird z. B. in einem Endoskop für minimalinvasive Eingriffe eingesetzt, um das Operationsgebiet darzustellen. Dabei kann das mittels dem Leitsystem weitergeleitete Bild auf ein Videosystem abgebildet oder über ein Okular direkt betrachtet werden.

Es besteht ein Bedarf an der Verbesserung der Abbildung, um das Operationsgebiet genauer darstellen zu können. Insbesondere die Einführung hochauflösender Kameras (HDTV) führt zunehmend zu einer Nachfrage nach besseren Optiken.

Ausgehend hiervon ist es Aufgabe der Erfindung, eine Endoskopoptik der eingangs genannten Art derart weiterzubilden, daß ihre Abbildungseigenschaften verbessert sind.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe bei einer Endoskopoptik der eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß zwischen der Zwischenbildebene und dem Leitsystem ein Optikmodul angeordnet ist, das den Durchmesser des durch das Optikmodul verlaufenden Strahlenbündels verringert und seine Divergenz erhöht.

Es hat sich überraschender Weise gezeigt, daß sich ein derartiges Strahlenbündel, dessen Durchmesser bei Austritt aus dem Optikmodul kleiner und dessen Divergenz größer ist als beim Eintritt in das Optikmodul verlustfreier durch die Umkehrsysteme des Leitsystems führen läßt. Damit wird die Transmission und Auflösung des Optiksystems insgesamt erhöht, so daß verbesserte Abbildungseigenschaften vorliegen.

Insbesondere kann das Optikmodul noch so entworfen bzw. ausgelegt werden, daß es einen durch die Umkehrsysteme bedingten Abbildungsfehler zumindest teilweise kompensiert. Bevorzugt wird die Bildfeldwölbung und/oder die Vignettierung verringert. Es können also zusätzliche Korrekturen durchgeführt werden, die die Abbildungsqualität weiter erhöhen.

Das Optikmodul kann aus einer einzigen Linse bestehen, die insbesondere als Konvex-Konkav-Linse ausgebildet ist. Es muß somit nur ein einziges zusätzliches Optikelement vorgesehen werden, so daß bei geringfügig höheren Kosten eine deutlich bessere Abbildung ermöglicht werden kann.

Das Optikmodul ist insbesondere näher an der Zwischenbildebene als am Leitsystem angeordnet. Neben der Anordnung mit einem Abstand vom Leitsystem kann das Optikmodul auch direkt mit dem Leitsystem in Kontakt stehen (die entsprechenden Grenzflächen können miteinander verkittet sein).

Das Optikmodul kann positive oder negative Brechkraft aufweisen.

Insbesondere kann das Optikmodul den Strahlenbündeldurchmesser derart verringern, daß er kleiner ist als in der Zwischenbildebene. Der Verkleinerungsfaktor kann im Bereich von 1,2 bis 2 liegen.

Ferner kann ein dem Leitsystem nachgeordnetes, weiteres Optikmodul vorgesehen sein, das den Durchmesser des in das weitere Optikmodul eintretenden Strahlenbündels erweitert und seine Divergenz verringert. Damit weist das Strahlenbündel, wenn es auf das weitere Optikmodul trifft, einen kleineren Durchmesser und eine größere Divergenz auf im Vergleich zu dem Strahlenbündel, das das weitere Optikmodul verläßt. In dieser Weise kann insbesondere die Änderung des Durchmessers des Strahlenbündels und die Änderung der Divergenz des Strahlenbündels, die vom dem Leitsystem vorgeordneten Optikmodul durchgeführt werden, wieder aufgehoben werden.

Das weitere Optikmodul kann aus einer einzigen Linse bestehen, die bevorzugt eine Konkav-Konvex-Linse ist.

Das weitere Optikmodul kann so ausgebildet sein, daß es einen durch die Umkehrsysteme bedingten Abbildungsfehler (beispielsweise Bildfeldwölbung, Vignettierung) zumindest teilweise kompensiert. Damit wird eine weitere Verbesserung der Abbildungsqualität erreicht.

Das weitere Optikmodul kann vom Leitsystem beabstandet oder auch direkt mit diesem verbunden sein (z.B. verkittet).

Die beiden Optikmodule können gleich ausgebildet sein. Damit wird die Anzahl von unterschiedlichen Optikelementen, die herzustellen sind, verringert.

Insbesondere ist es möglich, wenn die beiden Optikmodule gleich ausgebildet sind, daß sie zu einer Achse senkrecht zur optischen Achse der Endoskopoptik symmetrisch angeordnet sind.

Die Optikmodule können natürlich auch unterschiedlich ausgebildet sein und mehr als eine Linse enthalten. Die Linsenflächen der Optikmodule können plane, sphärische oder asphärische Flächen sein. Es können auch GRIN-Linsen (Linsen mit variierendem Brechungsindex) eingesetzt werden.

Die Umkehrsysteme können jeweils aus zwei Plankonvex-Stäben und einem dazwischen angeordneten Tripletstab ausgebildet sein, wobei die plane Seite der Plankonvex-Stäbe jeweils zum Tripletstab weist. Aufgrund des bzw. der Optikmodule ist ein derart einfacher Aufbau der Umkehrsysteme möglich. Insbesondere können Abbildungsfehler der Umkehrsysteme akzeptiert werden, wenn sie durch die Optikmodule kompensiert werden.

Die beiden Plankonvex-Stäbe können bis auf ihre Länge identisch ausgebildet sein.

Insbesondere kann zwischen zwei Umkehrsystemen eine Abschattungsblende angeordnet werden, deren Blendenöffnung dem Strahlenbündeldurchmesser an dieser Stelle entspricht bzw. geringfügig größer ist. Mit einer solchen Abschaltungsblende wird Streulicht effektiv unterdrückt.

Die Abschattungsblende kann aus mehreren, hintereinander angeordneten Teilblenden mit abnehmender Größe der Blendenöffnung ausgebildet sein. Dies führt zu einer noch effektiveren Streulichtunterdrückung.

Dem zweiten Optikmodul kann ein Okular und/oder ein Bildsensor nachgeordnet sein. Insbesondere kann der Bildsensor auch in Kontakt mit dem zweiten Optikmodul stehen.

Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnungen beispielshalber noch näher erläutert, wobei auch in den Zeichnungen erfindungswesentliche Merkmale offenbart sind. Es zeigen:

1 einen schematischen Linsenschnitt einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Endoskopoptik;

2 einen vergrößerten Ausschnitt von 1, der das Objektiv, das erste Optikmodul sowie den ersten Teil des Leitsystems 3 umfaßt;

3 die Modulationsübertragungsfunktion der Endoskopoptik gemäß 1;

4 die Modulationsübertragungsfunktion einer herkömmlichen Endoskopoptik;

5 eine Darstellung des Fehlers der Bildfeldwölbung für die Endoskopoptik gemäß 1;

6 eine 5 entsprechende Darstellung für eine herkömmliche Endoskopoptik, und

7 eine Ausführungsform der Blende zwischen zwei Umkehrsystemen.

Bei der in 1 gezeigten Ausführungsform umfaßt die Endoskopoptik ein Objektiv 1, ein erstes Optikmodul 2, ein Lichtleitsystem 3, ein zweites Optikmodul 4 sowie eine Okularoptik 5, die in dieser Reihenfolge hintereinander angeordnet sind, wobei der Durchmesser dieser Optikelemente hier 2,7 mm beträgt.

Das Leitsystem 3 umfaßt drei Umkehrsysteme 6, die alle gleich ausgebildet sind und von denen zur Vereinfachung der Darstellung nur eines komplett dargestellt ist, das zweite und dritte Umkehrsystem 6 sind nur teilweise dargestellt.

Jedes Umkehrsystem 6 umfaßt drei hintereinander angeordnete Stäbe 7, 8, 9, wobei die beiden äußeren Stäbe 7 und 9 jeweils eine konvexe Endseite 10, 11 und eine plane Endseite 12, 13 aufweisen. Die planen Endseiten 12 und 13 sind einander zugewandt, wobei dazwischen der zweite Stab 8 angeordnet ist, der zwei konvexe Endseiten 14, 15 aufweist. Der zweite Stab 8 ist aus einem Mittelabschnitt 16 mit zwei konkaven Grenzflächen sowie zwei mit den konkaven Grenzflächen verkitteten Endabschnitten 17, 18 ausgebildet die ihrerseits jeweils zwei konvexe Grenzflächen umfassen. Die den konkaven Grenzflächen des Mittelabschnitts 16 abgewandten konvexen Seiten der Endabschnitte 17, 18 bilden die konvexen Enden 14, 15 des zweiten Stabs 8.

Die Stäbe 7, 8 und 9 sind voneinander beabstandet und sind so ausgelegt, daß das durch die Stäbe 7 bis 9 aufgebaute Umkehrsystem 6 ein Bild, das eingangsseitig vorliegt (also links vom Umkehrsystem 6 in 1), so weiterleitet, daß es ausgangsseitig (also rechts vom Umkehrsystem in 1) um 180° gedreht abgebildet wird. So leitet beispielsweise das in 1 vollständig gezeigte Umkehrsystem ein in einer ersten Zwischenbildebene Z1 vom Objektiv 1 erzeugte Bild eines zu untersuchenden Objektes in eine dem Umkehrsystem 6 nachgeordnete zweite Zwischenbildebene Z2. In dieser Art wird das Bild mehrmals durch die Umkehrsysteme 6 umgedreht und weitergeleitet, so daß es schließlich vom Anwender über das Okular 5 vergrößert wahrgenommen oder mittels einem dem Okular 5 nachgeordneten Bildereinheit 19 erfaßt werden kann. Die Bildeinheit 19 weist eine Abbildungsoptik sowie einen Bildsensor (z.B. CCD-, CMO S-Sensor) auf, die in 1 nicht im Detail dargestellt sind.

Die Stäbe 7, 9 sind aus einem Material mit einem Brechwert n im Bereich von 1,5 und 1,6 und einer Abbe-Zahl &ngr;d im Bereich von 60 bis 68 gebildet. Das Material der Endabschnitte 17, 18 weist einen Brechwert n von 1,55 bis 1,65 und eine Abbe-Zahl &ngr;d von 60 bis 68 auf, und für das Material des Mittelabschnittes 16 liegt der Brechwert n im Bereich von 1,7 bis 1,8 und die Abbe-Zahl &ngr;d im Bereich von 45 bis 55.

Um den Kontrast und die Helligkeit des über das Okular 5 wahrnehmbaren Bildes zu erhöhen, ist, wie insbesondere 2 entnommen werden kann, das erste Optikmodul 2 zwischen der Zwischenbildebene Z1 und dem Leitsystem 3 angeordnet. Das erste Optikmodul 2, das hier als Konvex-Konkav-Linse ausgebildet ist, bewirkt eine Verringerung des Durchmessers des Strahlenbündels, so daß das in das Optikmodul 2 einfallende Strahlenbündel einen größeren Durchmesser D1 aufweist als das aus dem Optikmodul 2 ausfallende Strahlenbündel mit dem Strahldurchmesser D2. Gleichzeitig erhöht das Optikmodul 2 die Divergenz des Strahlenbündels. Es hat sich gezeigt, daß durch diese Maßnahme das Strahlenbündel derart verlustfreier durch die Umkehrsysteme 6 geleitet werden kann, daß eine Erhöhung der Bildhelligkeit und des Bildkontrastes vorliegt.

Ausgangsseitig des Leitsystems 3 bewirkt das zweite Optikmodul 4 (1) eine Vergrößerung des Strahldurchmessers bei gleichzeitiger Verringerung der Strahldivergenz. In dem hier beschriebenen Ausführungsbeispiel ist das zweite Optikmodul eine Konkav-Konvex-Linse, die identisch ausgebildet ist zu der Linse des ersten Optikmoduls 2. Sie ist lediglich derart umgedreht angeordnet, daß die konkave Seite zum Leitsystem 3 und die konvexe Seite zum Okular 5 weist.

Der Brechwert n des Linsenmaterials für die Linsen der Optikmodule 2, 4 liegt im Bereich von n = 1,6 bis 1,9 und die Abbe-Zahl &ngr;d liegt im Bereich von 35 bis 45.

Das Leitsystem 3 ist somit zwischen den beiden Optikmodulen 2 und 4 angeordnet, die den Strahldurchmesser vor dem Einkoppeln verringern und die Strahldivergenz erhöhen und nach dem Auskoppeln den Strahldurchmesser erhöhen und die Strahldivergenz verringern. Dies führt zu einer erhöhten Transmission und Auflösung des gesamten Optiksystems.

In 3 ist die Modulationsübertragungsfunktion der Endoskopoptik gemäß 1 dargestellt, wobei entlang der x-Achse die Ortsfrequenz in Perioden pro mm und entlang der y-Achse der Modulationsübertragungsfaktor aufgetragen ist. Es sind in 3 die tangentiale (gestrichelte Linie) und saggitale (Strichpunktlinie) Komponente T, S für einen halben Bildwinkel von 52,5° eingezeichnet. Zum Vergleich ist als durchgezogene Linie die beugungsbegrenzte (und somit optimale) Komponente TD dargestellt.

In 4 ist zum Vergleich die Modulationsübertragungsfunktion einer herkömmlichen Endoskopoptik in gleicher Weise wie in 3 dargestellt. Der Vergleich zwischen 4 und 3 zeigt deutlich die Verbesserung der optischen Übertragungsfunktion und somit des Kontrastes und der Auflösung der erfindungsgemäßen Endoskopoptik.

Ferner ist das erste Optikmodul 2 noch so ausgebildet, daß es einen durch das Leitsystem 3 bedingten Abbildungsfehler zumindest teilweise kompensiert. Das gleiche gilt für das zweite Optikmodul 4. Insbesondere ist hier mit den Optikmodulen 2, 4 die Bildfeldwölbung verringert.

In 5 ist jeweils der saggitale und tangentiale Anteil für drei verschiedene Wellenlängen dargestellt, wobei entlang der x-Achse in mm der radiale Abstand vom Mittelpunkt bzw. von der optischen Achse der Endoskopoptik und entlang der y-Achse die auf 1 normierte Bildhöhe aufgetragen ist. Die saggitale Komponente ist jeweils mit S und einem Index von 1 bis 3 bezeichnet, wobei der Index 1 für eine Wellenlänge von 486 nm, der Index 2 für eine Wellenlänge von 588 nm und der Index 3 für eine Wellenlänge von 656 nm steht. In gleicher Weise ist die tangentiale Komponente mit einem T und dem entsprechenden Index gekennzeichnet. Ein Vergleich der Bildwölbung von 5 für die vorliegende Endoskopoptik mit der entsprechenden Darstellung für eine herkömmliche Endoskopoptik (also ohne die Optikmodule 2 und 4) in 6 zeigt deutlich die erreichte Verbesserung bei der Bildfeldwölbung.

Ferner tragen die Optikmodule noch dazu bei, daß die Vignettierung deutlich verringert wird.

Insgesamt läßt sich mittels den Optikmodulen 2, 4 eine deutliche Verbesserung der Abbildungseigenschaften erreichen.

Die Krümmungsradien und Abstände der optischen Grenzflächen der Optikmodule 2, 4 sowie des Leitsystems gemäß dem Aufbau von 1 kann der Fachmann in Abhängigkeit des verwendeten Objektivs 1 und der vorgegebenen optischen Anforderungen (z. B. Bildfeldgröße) beispielsweise unter Verwendung eines entsprechenden Optikprogramms leicht ermitteln, da ihm die Abfolge der Grenzflächen gemäß 1 bekannt ist.

Zusätzlich enthält die Endoskopoptik, wie in 1 gezeigt ist, eine Abschattungsblende 20 zwischen zwei Umkehrsystemen 6. Die Abschattungsblende 20 ist bevorzugt in der entsprechenden Zwischenbildebene (hier Z2) zwischen den beiden Umkehrsystemen 6 oder nahe an der Zwischenbildebene angeordnet. Insbesondere ist die Blende 20 näher an der Zwischenbildebene als an den entsprechenden Endflächen der benachbarten Umkehrsysteme 6.

Die Blendenöffnung ist so gewählt, daß das Zwischenbild nicht abgeschnitten wird. Mittels der Blende 20 wird eine Streulichtunterdrückung erreicht, die zu einer verbesserten Abbildungseigenschaft der Endoskopoptik führt.

Die Blendenöffnung der Blende 20 kann geringfügig größer als das Zwischenbild sein. Darunter wird hier insbesondere verstanden, daß die Blendenöffnung um maximal 10% oder um maximal 5% größer ist als das Zwischenbild. Durch diese geringfügig größere Ausbildung der Blendenöffnung als das Zwischenbild läßt sich das Endoskop sogar noch etwas verbiegen, ohne daß es zu einer Verschlechterung der Abbildungseigenschaften kommt.

Die Endoskopoptik kann eine einzige Blende 20 oder mehrere Blenden 20 in den entsprechenden Zwischenbildebenen zwischen den Umkehrsystemen 6 aufweisen.

Insbesondere kann die Blende 20 so ausgebildet sein, daß sie aus mehreren, hintereinander angeordneten Teilblenden 21, 22, 23 (7) besteht, deren Blendenöffnung abnimmt. Es liegt somit, im Querschnitt gesehen, eine treppenförmig ausgebildete Blendenstruktur vor, die eine ausgezeichnete Streulichtunterdrückung aufweist. Die Blendenoberfläche kann insbesondere matt schwarz sein.

Es ist möglich, daß Okular 5 wegzulassen und das zweite Optikmodul 4 derart auszubilden, daß der Bildsensor 19 direkt im Anschluß an das zweite Optikmodul 4 angeordnet werden kann. In diesem Fall ist das zweite Optikmodul 4 bevorzugt verschieden zum ersten Optikmodul 2 ausgebildet.

Die Endoskopoptik wird insbesondere in einem Endoskop bzw. in einem medizinischen Endoskop eingesetzt, so daß in diesem Fall ein Endoskop mit verbesserten Abbildungseigenschaften vorliegt.


Anspruch[de]
Endoskopoptik mit einem Objektiv (1), das in einer Zwischenbildebene (Z1) ein Zwischenbild eines abzubildenden Objekts erzeugt, sowie einem dem Objektiv (1) nachgeordneten Leitsystem (3), das mehrere, hintereinander angeordnete Umkehrsysteme (6) zum Weiterleiten des Zwischenbildes umfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Zwischenbildebene (Z1) und dem Leitsystem (3) ein Optikmodul (2) angeordnet ist, das den Durchmesser des durch das Optikmodul (2) verlaufenden Strahlenbündels verringert und seine Divergenz erhöht. Endoskopoptik nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Optikmodul (2) derart ausgebildet ist, daß es einen durch die Umkehrsysteme (6) bedingten Abbildungsfehler zumindest teilweise kompensiert. Endoskopoptik nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Optikmodul (2) als Abbildungsfehler die Bildfeldwölbung zumindest teilweise kompensiert. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Optikmodul (2) aus einer einzigen Linse besteht, die insbesondere als Konvex-Konkav-Linse ausgebildet ist. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Optikmodul (2) näher an der Zwischenbildebene (Z1) als am Leitsystem (3) angeordnet ist. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Optikmodul (2) den Strahldurchmesser derart verringert, daß er kleiner ist als in der Zwischenbildebene (Z1). Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Optikmodul (2) den Strahldurchmesser um einen Faktor von größer als 1,2 und kleiner als 2 verringert. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Optikmodul (2) vom Leitsystem (3) beabstandet ist. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein dem Leitsystem (3) nachgeordnetes, weiteres Optikmodul (4) vorgesehen ist, das den Strahldurchmesser des in das weitere Optikmodul (4) eintretenden Strahlenbündels erweitert und dessen Divergenz verringert. Endoskopoptik nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das weitere Optikmodul (4) aus einer einzigen Linse besteht, die insbesondere als Konkav-Konvex-Linse ausgebildet ist. Endoskopoptik nach einem der Ansprüche 9 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das weitere Optikmodul (4) einen durch die Umkehrsysteme (6) bedingten Abbildungsfehler zumindest teilweise kompensiert. Endoskopoptik nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß beide Optikmodule (2, 4) gleich ausgebildet und zu einer Achse senkrecht zur optischen Achse der Endoskopoptik symmetrisch angeordnet sind. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Umkehrsysteme (6) jeweils aus zwei Plankonvex-Stäben (7, 9) und einem dazwischen angeordneten Tripletstab (8) ausgebildet sind, wobei die plane Seite der Planenkonvex-Stäbe (7, 9) jeweils zum Tripletstab (8) weist. Endoskopoptik nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Plankonvex-Stäbe (7, 9) bis auf ihre Länge identisch ausgebildet sind. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen zwei Umkehrsystemen (6) eine Abschattungsblende (20) angeordnet ist, deren Blendenöffnung dem Strahldurchmesser an dieser Stelle entspricht bzw. geringfügig größer ist. Endoskopoptik nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschattungsblende (20) aus mehreren, hintereinander angeordneten Teilblenden (21, 22, 23) mit abnehmender Größe der Blendenöffnung ausgebildet ist. Endoskopoptik nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß dem zweiten Optikmodul (4) ein Okular (5) und/oder ein Bildsensor (19) nachgeordnet sind/ist.






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