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Dokumentenidentifikation EP1738375 15.02.2007
EP-Veröffentlichungsnummer 0001738375
Titel VERFAHREN ZUR ERKENNUNG VON RESISTIV-OFFEN-DEFEKTEN IN HALBLEITERSPEICHERN
Anmelder Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven, NL
Erfinder AZIMANE, Mohamed, NL-5621 BA Eindhoven, NL
Vertreter derzeit kein Vertreter bestellt
Vertragsstaaten AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR
Sprache des Dokument EN
EP-Anmeldetag 23.03.2005
EP-Aktenzeichen 057090813
WO-Anmeldetag 23.03.2005
PCT-Aktenzeichen PCT/IB2005/051006
WO-Veröffentlichungsnummer 2005093761
WO-Veröffentlichungsdatum 06.10.2005
EP-Offenlegungsdatum 03.01.2007
Veröffentlichungstag im Patentblatt 15.02.2007
IPC-Hauptklasse G11C 29/00(2006.01)A, F, I, 20061205, B, H, EP








IPC
A Täglicher Lebensbedarf
B Arbeitsverfahren; Transportieren
C Chemie; Hüttenwesen
D Textilien; Papier
E Bauwesen; Erdbohren; Bergbau
F Maschinenbau; Beleuchtung; Heizung; Waffen; Sprengen
G Physik
H Elektrotechnik

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