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Dokumentenidentifikation DE10343301B4 22.02.2007
Titel Verfahren und System zum Charakterisieren eines Jitter von wiederholten Mustern
Anmelder Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d.Staates Delaware), Palo Alto, Calif., US
Erfinder Jungermann, Roger Lee, Petaluma, Calif., US;
Viss, Marlin, Santa Rosa, US
Vertreter Schoppe, Zimmermann, Stöckeler & Zinkler, 82049 Pullach
DE-Anmeldedatum 18.09.2003
DE-Aktenzeichen 10343301
Offenlegungstag 02.09.2004
Veröffentlichungstag der Patenterteilung 22.02.2007
Veröffentlichungstag im Patentblatt 22.02.2007
IPC-Hauptklasse G01R 29/02(2006.01)A, F, I, 20051017, B, H, DE
IPC-Nebenklasse G01R 23/16(2006.01)A, L, I, 20051017, B, H, DE   

Beschreibung[de]

Diese Erfindung bezieht sich auf ein Abtasten von Signalverläufen und spezieller auf ein Charakterisieren eines Jitter von wiederholten Mustern unter Verwendung eines Äquivalentzeit-Abtastsystems.

Das Vorliegen eines Jitter, einem Maß von zeitabhängigen Signalfluktuationen, beeinträchtigt die Integrität und Zuverlässigkeit eines Kommunikationssystems, da die Bitfehlerrate des Kommunikationssystems durch die Charakteristika des Jitter beeinflußt wird. Ein Charakterisieren von Komponenten des Jitter, wie z. B. einer zufälligen zeitvariierenden Komponente und einer periodischen zeitvariierenden Komponente, ermöglicht Entwicklern des Kommunikationssystems, Quellen des Jitter festzulegen und die Bitfehlerrate des Kommunikationssystems zu prognostizieren.

Eine Technik zu Charakterisieren des Jitter ist durch Li u.a. im US-Patent Nr. 6,298,315 B1 offenbart. Li u.a. trennt und analysiert die deterministischen und zufälligen Komponenten einer Jitterverteilung basierend auf einem Histogramm, das die Verteilung darstellt, in dem Endbereiche an die Verteilung, die durch das Histogramm definiert sind, angepaßt werden.

Eine weitere Technik wird durch Williams u.a. im US-Patent Nr. 6,263,290 B1 gelehrt. Williams u.a. spezifiziert eine Schwelle aus einem Signalverlauf, erhält Abtastwerte, die die Schwellenspannung umgeben, und interpoliert die Abtastwerte, um eine exakte Zeitkennungsliste zu erzeugen. Die Zeitkennungsliste zeigt die Positionen in der Zeit an, die dem Punkt entsprechen, an dem der Signalverlauf die Schwelle kreuzt, um statistische Eigenschaften von zeitbezogenen Parametern, wie z. B. einem Jitter, darzustellen.

Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Charakterisieren eines Jitter eines wiederholten Musters zu schaffen.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß den Ansprüchen 1 und 5 und ein System gemäß den Ansprüchen 8 und 12 gelöst.

Ein Verfahren und ein System, die gemäß Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung konstruiert sind, charakterisieren ein Jitter eines wiederholten Musters. Eine zufällige Komponente des Jitter wird durch Bestimmen einer Flanke in dem wiederholten Muster, Bestimmen einer Steigung der bestimmten Flanke, und durch Erfassen eines Satzes von Amplitudenwerten bei unterschiedlichen Auftretungen der bestimmten Flanke charakterisiert. Eine Frequenzbereichsdarstellung des Satzes von Amplitudenwerten wird dann erhalten, und identifizierte Spitzen in der Frequenzbereichsdarstellung werden abgeschnitten. Ein RMS-Wert oder ein anderes Maß von Zufallsvariationen der abgeschnittenen Darstellung wird extrahiert und basierend auf der Steigung der bestimmten Flanke in einen entsprechenden RMS-Zeitjitter, der die zufällige Komponente des Jitter darstellt, umgewandelt.

Eine periodische Komponente des Jitter wird durch Bestimmen der Spitzenamplitudenabweichung des erfaßten Satzes von Amplitudenwerten und anschließendes Bestimmen einer periodischen Amplitudenabweichung basierend auf dem RMS-Wert, der Spitzenamplitudenabweichung und der Anzahl von Amplitudenwerten in dem Satz von Amplitudenwerten charakterisiert. Die Spitzenamplitudenabweichung wird dann basierend auf der Steigung der bestimmten Flanke in einen entsprechenden periodischen Zeitjitter, der die periodische Komponente des Jitter darstellt, umgewandelt.

Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachstehend, Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen, näher erläutert. Es zeigen:

1A1B Systeme, die zum Charakterisieren eines Jitter gemäß Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung geeignet sind,

2 ein Flußdiagramm eines Jittercharakterisierungsverfahrens gemäß alternativen Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung,

3A3B Beispiele eines Satzes von Amplitudenwerten, die von einem wiederholten Muster zur Verwendung in der Jittercharakterisierung gemäß den Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung erfaßt werden,

4 eine Frequenzbereichsdarstellung des erfaßten Satzes von Amplitudenwerten.

1A1B zeigen Systeme, die zum Charakterisieren eines Jitter gemäß Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung geeignet sind. Die Systeme umfassen ein Äquivalentzeit-Oszilloskop, einen DCA (DCA = digital communication analyzer = digitaler Kommunikationsanalysator) oder einen anderen Typ einer Äquivalentzeit-Abtasteinrichtungen 10, die einen wiederholten Signalverlauf oder Muster 11 empfängt. Bei diesem Beispiel wird das wiederholte Muster 11 durch einen Mustergenerator 12, wie z. B. einen AGILENT 81250 PARALLEL BITERROR RATE TESTER, über ein DUT (DUT = device under test = Testobjekt) 14 geliefert. Alternativ wird das wiederholte Muster 11 an die Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung 10 durch einen Kommunikationskanal oder eine andere Quelle (nicht gezeigt) geliefert. In 1A ist eine Triggereinrichtung 13 an der Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung 10 durch den Mustergenerator 12 vorgesehen. In 1B wird die Triggereinrichtung 13 von einem Taktsignal 15 über einen Vorskalierer 16 und einen programmierbaren Zähler 18, die sich innerhalb oder außerhalb der Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung 10 befinden, abgeleitet. Das Taktsignal 15 wird von dem wiederholten Muster 11 unter Verwendung von Taktwiedergewinnungstechniken wiedergewonnen, oder das Taktsignal 15 wird separat vom wiederholten Muster 11, wie gezeigt, geliefert.

Die Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung 10 weist eine einstellbare Verzögerung 19 auf, die zum Verzögern der Musterauslöseeinrichtung 13 geeignet ist, um eine Zeitgebung der Abtastwerterfassungen zu steuern. Ein Prozessor 23 ermöglicht, daß die Verzögerung 19 eingestellt werden kann, und ermöglicht, daß die erfaßten Abtastwerte 21 verarbeitet werden können, um den Jitter des wiederholten Musters 11 gemäß den Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung zu charakterisieren.

2 ist ein Flußdiagramm eines Jittercharakterisierungsverfahrens 20 gemäß den Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung. Das Verfahren 20 ist in geeigneter Weise unter Verwendung der Systeme von 1A1B oder unter Verwendung von einem beliebigen anderen System oder Instrument implementiert, das die Abtastwerte 21 des wiederholten Musters 11 erfaßt oder anderweitig liefert und die Fähigkeit aufweist, die erfaßten Abtastwerte 21 zu manipulieren. Alternativ ist ein computerlesbares Medium mit einem Computerprogramm codiert, das einen Computer anweist, das Verfahren 20 auszuführen.

Bei Schritt 22 des Verfahrens 20 wird eine Flanke 25 (in 3A gezeigt), wie z. B. eine ansteigende Flanke, eine abfallende Flanke oder ein anderer Amplitudenübergang über der Zeit, innerhalb des wiederholten Musters 11 bestimmt. Das Bestimmen der Flanke 25 involviert typischerweise ein Triggern der Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung 10, um eine ausreichende Anzahl von Abtastwerten 21 zu erfassen, um zumindest einen Abschnitt des wiederholten Musters 11 zu rekonstruieren und ein Festlegen einer Verzögerung &tgr;, die das Triggern positioniert, so daß die Erfassungen der Abtastwerte 21 zeitlich gesteuert werden, um auf der bestimmten Flanke 25 einzutreten.

Die Steigung S der bestimmten Flanke 25 wird bei Schritt 24 bestimmt, typischerweise basierend auf den erfaßten Mustern des wiederholten Musters 11, die auf der bestimmten Flanke 25 liegen, oder basierend auf den Anstiegs- oder Abfallzeiten der Flanke 25 oder anderen Messungen oder Bestimmungen der Anstiegsrate der Flanke 25, die z. B. in Volt oder Amplitudeneinheiten &Dgr;v pro Einheit Zeit &Dgr;t angezeigt wird.

Bei Schritt 26 sind die Abtastwerte 21 ein Satz von Amplitudenwerten A1–AN, die auf der bestimmten Flanke 25 in dem wiederholten Muster 11 erfaßt werden, wobei jeder von den Amplitudenwerten A1–AN in dem Satz zu einem unterschiedlichen Auftreten der bestimmten Flanke 25 in dem wiederholten Muster 11, wie in 3A gezeigt ist, erfaßt wird. Der Satz von Amplitudenwerten A1–AN wird durch Abtasten des wiederholten Musters mit einer Abtastrate Rs erfaßt, die die Wiederholungsrate Rr des wiederholten Musters 11 nicht überschreitet, und mit einer Verzögerung &tgr; der Triggereinrichtung 13, die die Erfassung von jedem der Amplitudenwerte A1–AN an einer festgelegten Zeitposition positioniert. Bei diesem Beispiel führt die Triggerung dazu, daß die Amplitudenwerte A1–AN bei festgelegten Zeitpositionen, die bei Zeitintervallen T gleichmäßig voneinander beabstandet sind, erfaßt werden. Alternativ wird der Satz von Amplitudenwerten A1–AN von einem Speicher oder einem anderen Speichermedium oder einem Simulator oder anderem Programm erfaßt. Ein Beispiel des erfaßten Satzes von Amplitudenwerten A1–AN, die in Volt angegeben sind, ist in 3B gezeigt.

Bei Schritt 28 des Verfahrens wird eine Frequenzbereichsdarstellung 35 (in 4 gezeigt) des erfaßten Satzes von Amplitudenwerten A1–AN erhalten. Bei einem Beispiel führt der Prozessor 23 eine FFT (FFT = Fast Fourier Transform = schnelle Fourier-Transformation) auf den Amplitudenwerten A1–AN aus, um die Frequenzbereichsdarstellung 35 zu liefern, obwohl eine beliebige geeignete Abbildung von dem Zeitbereich auf den Frequenzbereich die Frequenzbereichsdarstellung 35 liefern kann. Alternativ wird die Frequenzbereichsdarstellung 35 geliefert, indem eine PSD (PSD = power spectral density = Leistungsspektraldichte) entsprechend dem Satz der Amplitudenwerte A1–AN unter Verwendung eines Verfahrens bewertet wird, das in The Use of Fast Fourier Transform for the Estimation of Power Spectra: A Method Based on Time Averaging of Short, Modified Periodograms, P.D. Welch, IEEE Trans. Audio Electro., Bd. AU-15, Juni 1967, S. 70–73, beschrieben ist, oder unter Verwendung eines anderen Verfahrens zum Bewerten der PSD, wie z. B. der pwelch-Funktion in Matlab 5.3 durch the Mathworks, Natick, MA.

Bei Schritt 30 werden die identifizierten Spitzen P innerhalb der Frequenzbereichsdarstellung 35 abgeschnitten, um ein abgeschnittenes Spektrum zu liefern. Bei einem Beispiel umfassen die identifizierenden Spitzen P bei Schritt 30 ein Festlegen der Frequenzbereichsdarstellung 35 auf einer logarithmischen Skala, ein Bestimmen der Durchschnittsamplitude AVE für die Frequenzbereichsdarstellung 35 auf der logarithmischen Skala und ein Wählen einer Schwelle TH, die um einen vorbestimmten Betrag &Dgr; über der Durchschnittsamplitude AVE ist. Die Amplituden in der Frequenzbereichsdarstellung 35, die die Schwelle TH überschreiten, werden dann gemäß dem Schritt 30 abgeschnitten, um das abgeschnittene Spektrum zu liefern. Alternativ werden verschiedene bekannte Techniken verwendet, um die Spitzen P innerhalb der Frequenzbereichsdarstellung 35 zu identifizieren.

Bei Schritt 32 wird ein RMS-Wert &sgr;, der dem abgeschnittenen Spektrum entspricht, bestimmt. Typischerweise wird der RMS-Wert &sgr; durch Quadrieren von jedem Element in dem abgeschnittenen Spektrum, Summieren der Quadrate der Elemente in dem abgeschnittenen Spektrum und Verwenden der Quadratwurzel der Summe der Quadrate der Elemente in dem abgeschnittenen Spektrum bestimmt. Alternativ umfaßt der Schritt 32 ferner ein Verwenden einer inversen FFT oder einer Inversen der Abbildung von vom Zeitbereich auf den Frequenzbereich, der zum Liefern der Frequenzbereichsdarstellung 35 bei Schritt 28 verwendet wurde, um eine abgeschnittene Zeitbereichsdarstellung der Amplitudenwerte A1–AN zu erhalten. Dann wird der RMS-Wert &sgr; bestimmt, indem jedes Element in der abgeschnittenen Zeitbereichsdarstellung der Amplitudenwerte A1–AN quadriert wird, die Quadrate der Elemente in der abgeschnittenen Zeitbereichsdarstellung summiert werden und die Quadratwurzel der Summe der Quadrate der Elemente in der abgeschnittenen Zeitbereichsdarstellung verwendet wird. Wenn die Zeitbereichsdarstellung 35 eine PSD ist, wie in 4 gezeigt ist, dann wird der RMS-Wert &sgr; als die Quadratwurzel der Summe der Elemente in der PSD bestimmt.

Bei Schritt 34 wird der RMS-Wert &sgr; in einen entsprechenden RMS-Zeitjitter basierend auf der bestimmten Steigung S der bestimmten Flanke 25 umgewandelt. Die Umwandlung wird typischerweise durch Teilen des RMS-Werts &sgr; durch die Steigung S der bestimmten Flanke 25 ausgeführt. Bei Anwendungen, wo der RMS-Wert &sgr; verwendet wird, um den periodischen Zeitjitter des wiederholten Musters 11 zu bestimmen, wird der Schritt 34 optional ausgelassen. Schritt 34, wenn derselbe umfaßt ist, bezieht die Amplitudenwerte über die Steigung S der bestimmten Flanke 25 auf entsprechende Zeitpunkte und kann an einem beliebigen Punkt im Verfahren 20 im Anschluß an Schritt 26 ausgeführt werden. Die Schritte 2630 sind im Verfahren 20 umfaßt, um den periodischen Zeitjitter des wiederholten Musters 11 zu bestimmen.

Bei Schritt 36 wird eine Spitzenabweichung App des Satzes der Amplitudenwerte A1–AN bestimmt. Die Spitzenabweichung App ist die Differenz zwischen dem maximalen Amplitudenwert in dem Satz und dem minimalen Amplitudenwert in dem Satz.

Bei Schritt 38 wird eine periodische Amplitudenabweichung B basierend auf dem RMS-Wert &sgr;, der bei Schritt 32 erhalten wurde, der Spitzenabweichung App von Schritt 36 und der Anzahl N der Amplitudenwerte A1–AN in dem Satz von erfaßten Abtastwerten festgelegt. Die periodische Amplitudenabweichung B bei diesem Beispiel ist eine periodische Spitze-Spitze-Amplitudenvariation, jedoch wird eine beliebige andere Darstellung der periodischen Komponenten der Variationen der Amplitudenwerte A1–AN alternativ verwendet.

Das Festlegen der periodischen Amplitudenvariation B bei Schritt 38 umfaßt ein Bestimmen der periodischen Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN, um quadratförmig, sinusförmig oder eine beliebige andere Form zu sein, die die Beschaffenheit der periodischen Komponente des Jitters entsprechend darstellt, ein Bilden einer Verteilung mit einer zufälligen Komponente und der periodischen Komponente mit der bestimmten Form und ein Auflösen nach der periodischen Amplitudenvariation B.

Bei einem Ausführungsbeispiel ist die periodische Komponente quadratisch. Die Verteilung, die als hSQ(x) bestimmt wird, wird gemäß der folgenden Beziehung dargestellt:

Wenn die periodische Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN größer als die zufällige Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN ist, ist die periodische Amplitudenvariation B entsprechend größer als der RMS-Wert &sgr;, und eine geschlossene Lösung für die periodische Amplitudenvariation B wird gemäß der folgenden Beziehung erhalten.

Wenn die zufällige Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN größer als die periodische Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN ist, ist die periodische Amplitudenvariation B entsprechend kleiner als der RMS-Wert &sgr;, und eine numerische Lösung für die periodische Amplitudenvariation B in der Gleichung für hSQ(x) wird erhalten. Die numerische Lösung umfaßt ein Definieren einer Funktion g(x) = log(hSQ(x)) in einem mathematischen Softwarepaket, wie z. B. MATLAB, und ein Lösen, wo die Funktion g(x) = 0 für x, z. B. unter Verwendung der „fzero"-Funktion, die durch Matlab angeboten wird. Ein Definieren der Funktion g(x) vereinfacht eine Konvergenz der numerischen Lösung für die periodische Amplitudenvariation B. Obgleich in diesem Beispiel die Funktion g(x) eine logarithmische Funktion ist, wird alternativ eine beliebige Funktion g(x) oder andere Technik verwendet, die eine Konvergenz einer numerischen Lösung für die periodische Amplitudenvariation B ermöglicht.

Bei einem alternativen Ausführungsbeispiel ist die periodische Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN sinusförmig. Die gebildete Verteilung, die als h(x) bestimmt ist, ist eine numerische Faltung einer zufälligen Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN, bestimmt als r(x), und eine sinusförmige periodische Komponente der Variation der Amplitudenwerte A1–AN, bestimmt als d(x). Die Verteilung h(x) wird durch die Beziehung h(x) = N*sum(d(z).*r(x–z)) dargestellt, wobei der Operator .* ein Element durch eine Elementmultiplizierung oder eine numerische Faltung anzeigt, wobei d(x) = 1/(&pgr;((B/2)2 – x2)S), wobei r(x) eine Gauß'sche Kurve ist, die die zufällige Variation der Amplitudenwerte A1–AN mit dem RMS-Wert &sgr; darstellt, und wobei z ein Array von gleichmäßig beabstandeten Positionen zwischen +B/2 und –B/2 ist. Eine numerische Lösung für die periodische Amplitudenvariation B wird bei diesem Beispiel durch Definieren einer Funktion g(x) = log(h(x)) in einem mathematischen Softwarepaket, z. B. MATLAB, und Lösen, wo die Funktion g(x) = 0 für x, z. B. unter unter Verwendung der „fzero"-Funktion, die durch Matlab angeboten wird, erhalten. Bei diesem Beispiel vereinfacht die Funktion g(x) eine Konvergenz der numerischen Lösung für die periodische Amplitudenvariation B. Eine beliebige Funktion g(x) oder eine beliebige andere Technik, die eine Konvergenz einer numerischen Lösung für die periodische Amplitudenvariation B ermöglicht, wird alternativ verwendet.

Der RMS-Wert &sgr; bezieht sich auf das quadratische Mittel, eine Varianz oder einen beliebigen anderen Indikator oder ein Maß der zufälligen Variation der Amplitudenwerte A1–AN, von denen die zufällige Komponente der Verteilung, die bei Schritt 38 gebildet wurde, festgelegt werden kann.

Bei Schritt 40 des Verfahrens 20 wird die periodische Amplitudenvariation B in einen entsprechenden periodischen Zeijitter basierend auf der Steigung S der bestimmten Flanke 25 umgewandelt, typischerweise durch Dividieren der periodischen Amplitudenvariation B durch die Steigung S der bestimmten Flanke 25.


Anspruch[de]
Verfahren zum Charakterisieren eines Jitter von einem wiederholten Muster, das folgende Schritte aufweist:

Bestimmen (22) einer Flanke in dem wiederholten Muster;

Bestimmen (24) der Steigung der bestimmten Flanke;

Erfassen (26) eines Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN), wobei jeder Amplitudenwert in dem Satz bei einem unterschiedlichen Auftreten der bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster erfaßt wird;

Berechnen (28) einer Frequenzbereichsdarstellung des Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN);

Abschneiden (30) von identifizierten Spitzen in der Frequenzbereichsdarstellung, um eine abgeschnittene Darstellung zu erhalten;

Extrahieren (32) eines RMS-Werts (&sgr;) der abgeschnittenen Darstellung; und

Umwandeln (34) des RMS-Werts (&sgr;) in einen entsprechenden RMS-Zeitjitter basierend auf der Steigung (S) der bestimmten Flanke.
Verfahren gemäß Anspruch 1, das ferner folgende Schritte aufweist:

Bestimmen (36) der Spitzenamplitudenabweichung des Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN);

Bestimmen einer periodischen Amplitudenvariation basierend auf dem RMS-Wert (&sgr;), der Spitzenamplitudenabweichung und der Anzahl von Amplitudenwerten im Satz von Amplitudenwerten (A1–AN); und

Bestimmen eines periodischen Zeitjitters, dadurch, daß die periodische Amplitudenvariation auf die Steigung (S) der bestimmten Flanke bezogen wird.
Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem das Bestimmen (22) der Flanke in dem wiederholten Muster ein Triggern, um eine Reihe von Abtastwerten eines wiederholten Musters mit einer Abtastrate zu erfassen, die die Wiederholungsrate des wiederholten Musters nicht überschreitet, und ein Verzögern des Triggerns umfaßt, um mit der bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster zusammenzufallen, basierend auf der erfaßten Reihe von Abtastwerten. Verfahren gemäß Anspruch 2 oder 3, bei dem das Bestimmen der periodischen Amplitudenvariation ein Bestimmen der Form einer periodischen Komponente des Jitter des wiederholten Musters und ein Bilden einer Verteilung mit einer zufälligen Komponente und einer periodischen Komponente umfaßt. Verfahren zum Charakterisieren eines Jitter eines wiederholten Musters, das folgende Schritte aufweist:

Bestimmen (22) einer Flanke in dem wiederholten Muster;

Bestimmen (24) der Steigung (S) der bestimmten Flanke;

Erfassen (26) eines Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN), wobei jeder Amplitudenwert in dem Satz bei einem unterschiedlichen Auftreten der bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster erfaßt wird;

Berechnen (28) einer Frequenzbereichsdarstellung des Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN);

Abschneiden (30) von identifizierten Spitzen in der Frequenzbereichsdarstellung, um eine abgeschnittene Darstellung zu erhalten;

Extrahieren (32) eines RMS-Werts (&sgr;) der abgeschnittenen Darstellung;

Bestimmen (36) der Spitzenamplitudenabweichung des Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN);

Bestimmen (38) einer periodischen Amplitudenvariation basierend auf dem RMS-Wert (&sgr;), der Spitzenamplitudenabweichung und der Anzahl von Amplitudenwerten in dem Satz von Amplitudenwerten (A1– AN); und

Umwandeln (40) der periodischen Amplitudenvariation in einen entsprechenden periodischen Zeitjitter basierend auf der Steigung (S) der bestimmten Flanke.
Verfahren gemäß Anspruch 5, bei dem das Bestimmen (22) der Flanke in dem wiederholten Muster ein Triggern auslöst, um eine Reihe von Abtastwerten eines wieder- holten Musters mit einer Abtastrate zu erfassen, die die Wiederholungsrate des wiederholten Musters nicht überschreitet, und ein Verzögern des Triggerns umfaßt, um mit der bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster zusammenzufallen, basierend auf der erfaßten Reihe von Abtastwerten. Verfahren gemäß Anspruch 5 oder 6, bei dem das Bestimmen (24) der periodischen Amplitudenvariation ein Bestimmen der Form einer periodischen Komponente des Jitter des wiederholten Musters und ein Bilden einer Verteilung mit einer zufälligen Komponente und einer periodischen Komponente umfaßt. System zum Charakterisieren eines Jitter eines wiederholten Musters gemäß einem Triggern, wobei das System folgende Merkmale aufweist:

eine Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung, die einen Satz von Amplitudenwerten (A1–AN) erfaßt, wobei jeder Amplitudenwert in dem Satz bei einem unterschiedlichen Auftreten einer bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster erfaßt wird; und

einen Prozessor (23), der eine Frequenzbereichsdarstellung des Satzes von Amplitudenwerten berechnet, identifizierte Spitzen in der Frequenzbereichsdarstellung abschneidet, um eine abgeschnittene Darstellung zu erhalten, einen RMS-Wert (&sgr;) der abgeschnittenen Darstellung extrahiert und einen RMS-Zeitjitter, dadurch bestimmt, daß der RMS-Wert auf die Steigung (S) der bestimmten Flanke bezogen wird.
System gemäß Anspruch 8, bei dem der Prozessor (23) die Spitzenamplitudenabweichung des Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN) bestimmt, eine periodische Amplitudenvariation basierend auf dem RMS-Wert (&sgr;), der Spitzenamplitudenabweichung und der Anzahl von Amplitudenwerten in dem Satz von Amplitudenwerten (A1–AN) bestimmt und einen periodischen Zeitjitter dadurch bestimmt, daß die periodische Amplitudenvariation auf die Steigung (S) der bestimmten Flanke bezogen wird. System gemäß Anspruch 8 oder 9, bei dem die Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung eine Reihe von Abtastwerten eines wiederholten Musters mit einer Abtastrate, die die Wiederholungsrate des wiederholten Musters nicht überschreitet, um zumindest einen Abschnitt des wiederholten Musters zu rekonstruieren, erfaßt und das Triggern verzögert, um mit der bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster zusammenzufallen, basierend auf der erfaßten Reihe von Abtastwerten. System gemäß Anspruch 10, bei dem die bestimmte Flanke in dem wiederholten Muster durch ein Triggern, um eine Reihe von Abtastwerten eines wiederholten Musters mit einer Abtastrate zu erfassen, die die Wiederholungsrate des wiederholten Musters nicht überschreitet, und ein Verzögern des Triggerns, um mit der bestimmten Flanke in dem wiederholten Musters zusammenzufallen, basierend auf der erfaßten Reihe von Abtastwerten, festgelegt wird. System zum Charakterisieren eines Jitter eines wiederholten Musters gemäß einem Triggern, wobei das System folgende Merkmale aufweist:

eine Äquivalentzeit-Abtasteinrichtung, die einen Satz von Amplitudenwerten erfaßt, wobei jeder Amplitudenwert in dem Satz bei einem unterschiedlichen Auftreten einer bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster erfaßt wird; und

einen Prozessor (23), der eine Frequenzbereichsdarstellung des Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN) berechnet, identifizierte Spitzen in der Frequenzbereichsdarstellung abschneidet, um eine abgeschnittene Darstellung zu erhalten, einen RMS-Wert (&sgr;) der abgeschnittenen Darstellung extrahiert, die Spitzenamplitudenabweichung des Satzes von Amplitudenwerten (A1–AN) bestimmt, eine periodische Amplitudenvariation basierend auf dem RMS-Wert (&sgr;), der Spitzenamplitudenabweichung und der Anzahl von Amplitudenwerten in dem Satz von Amplitudenwerten bestimmt und einen periodischen Zeitjitter dadurch bestimmt, daß die periodische Amplitudenvariation auf die Steigung (S) der bestimmten Flanke bezogen wird.
System gemäß Anspruch 12, bei dem die bestimmte Flanke in dem wiederholten Muster durch ein Triggern, um eine Reihe von Abtastwerten eines wiederholten Musters mit einer Abtastrate zu erfassen, die die Wiederholungsrate des wiederholten Musters nicht übersteigt, und ein Verzögern des Triggerns, um mit der bestimmten Flanke in dem wiederholten Muster, zusammenzufallen, basierend auf der erfaßten Reihe von Abtastwerten, festgelegt wird.






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