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Dokumentenidentifikation DE102006026204A1 06.12.2007
Titel Mikroskop mit erhöhter Auflösung
Anmelder Carl Zeiss MicroImaging GmbH, 07745 Jena, DE
Erfinder Kempe, Michael, Dr., 07751 Jena, DE
DE-Anmeldedatum 31.05.2006
DE-Aktenzeichen 102006026204
Offenlegungstag 06.12.2007
Veröffentlichungstag im Patentblatt 06.12.2007
IPC-Hauptklasse G02B 21/00(2006.01)A, F, I, 20060531, B, H, DE
Zusammenfassung Mikroskop mit erhöhter Auflösung durch teilweise räumliche Überlagerung in der Beleuchtung durch einen Anregungsstrahl und einen Abregungsstrahl und/oder einen Umschaltstrahl in einer fluoreszierenden Probe,
wobei das Probenlicht detektiert wird,
wobei im Anregungsstrahl und/oder im Abregungs- und/oder Umschaltstrahl mindestens eine Kombination von die räumliche Phase zirkular und radial beeinflussenden Mitteln angeordnet ist.

Beschreibung[de]

Es sind Verfahren zur Steigerung der optischen Auflösung im Fernfeld über die beugungsbegrenzte Auflösung bekannt, die auf einer nichtlinearen Wechselwirkung von Licht mit der Probe basieren. Dazu gehört die Mikroskopie mittels Stimulated Emission Depletion (STED, US 5,731,588), mittels Grundzustandsentvölkerung (Ground State Depletion – GSD, Hell and Kroug, Appl. Phys. B 60 (1995), 495–497) und das optische Modifizieren (Schalten) von fluoreszierenden Substanzen (US 2004/0212799 A1).

In beiden Fällen wird mittels einer beugungsbegrenzten optischen Lichtverteilung (Abregungslicht) durch eine nichtlineare Wechselwirkung eine beugungsbegrenzte Anregungsverteilung so modifiziert, dass nur von einer Subregion Lichtemission erfolgen kann. Diese Subregion (effektive Point Spread Function: PSF) kann dabei in allen drei Raumrichtungen oder nur in lateraler Richtung eingeschränkt sein. Sinnvolle Beschränkungen der PSF's sind hierbei:

  • 1. 3D-Beschränkung des Anregungsvolumens
  • 2. Laterale Beschränkung des Anregungsvolumens bei erweiterter Tiefenschärfe

Der in Bezug auf die Steilheit der Gradienten wenig effiziente Stand der Technik ist dabei durch die Verwendung von Phasenmasken in der Pupille des Abregungslichtes mit radialem Phasensprung (Literatur: /1/ T. A. Klar, S. Jakobs, M. Dyba, A. Egner, and S.W. Hell, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 97, 8206 (2000)) bzw. durch Phasenmasken mit quadrantenweisem Phasensprung (Literatur: /2/ E. Engel et al. Appl. Phys. B 77, 11–17 (2003)) gegeben.

Die Verwendung von Spiralmasken für die STED Mikroskopie wurde in Ref. /3/ P. Török and P.R.T. Munro. Opt.Expr. 12 (2004), 3605 vorgeschlagen. Allerdings erzeugt die Verwendung einer Spiralmaske wie in der obigen Literatur beschrieben weder eine in allen Raumrichtungen beschränkte Anregungsverteilung noch eine solche mit erweiterter Tiefenschärfe wie im Folgenden beschrieben.

Es ist Aufgabe der Erfindung, Verfahren zu realisieren, die entsprechende Verteilungen vergleichsweise einfach und mit hoher Effizienz (gegeben durch die Steilheit der Gradienten der Verteilungen) erzeugen lassen.

Diese Aufgabe wird durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche gelöst. Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.

Im Vergleich zu Erzeugung der Verteilungen durch die Superposition vieler Punktquellen (Literatur: US 5,866,911 A1) sind die folgenden Lösungen deutlich einfacher. Außerdem wird eine viel effizientere 3D-Beschränkung möglich.

Folgende Realisierungen erfolgen erfindungsgemäss:

  • 1. Anregung: konventionelle PSF Abregung: inkohärente Überlagerung einer Verteilung mit Spiralphase in Pupille mit einer mit Radialphase in Pupille
  • 2. Anregung: inkohärente Überlagerung von konventioneller PSF mit einer mit Radialphase in Pupille Abregung: inkohärente Überlagerung einer Verteilung mit Spiralphase in Pupille und einer mit Spiralphase + Radialphase

3 zeigt eine Radialmaske (a), eine Spiralmaske (b) und eine Kombination aus Radial- und Spiralmaske (c), wobei die Kombination als Hintereinanderstellung von a) und b) oder als fertiges Grauwertdesign denkbar ist.

Hierbei sind Phasenwerte grauwertkodiert (weiß = 0, schwarz = 2&pgr;): R(r) = exp(–j&pgr;) for r < a/√2 S(ϕ) = exp(–jϕ) SR(r,ϕ) = R(r) + S(ϕ)

  • mit r: Radialkoordinate und ϕ: Winkelkoordinate in der Pupille (a: Pupillenradius)

Die folgenden Anordnungen unterscheiden zwischen Anregungs- und Abregungsstrahl und beziehen sich beispielhaft auf STED unter Verwendung kurzer Pulse. In diesem Fall erfolgt zuerst die Anregung und danach mit zeitlicher Verzögerung die Abregung durch stimulierte Emission wie aus dem Stand der Technik bekannt. Die verbliebenen angeregten Moleküle relaxieren unter Emission von Fluoreszenz, die detektiert wird.

Ebenso lassen sich diese Anordnungen aber auch für weitere Verfahren zur Hochauflösung wie a) Ground-State-Depletion (Lit.: S.W. Hell and M. Kroug, Appl. Phys.B 60 (1995)495) oder b) dem Schalten von Farbstoffen (US 2004/0212799 A1) verwenden. In a) wird zunächst durch wiederholte Anregung Farbstoff in den Triplettzustand gebracht, wozu der Abregungsstrahl benutzt wird. Der im Grundzustand verbliebene Anteil des Farbstoffs wird dann durch den Anregungsstrahl angeregt und die Fluoreszenz detektiert. In b) werden durch den Abregungsstrahl Moleküle geschalten und dadurch in einen nichtfluoreszierenden Zustand versetzt. Anschließend erfolgt mit dem Anregungsstrahl die Anregung der Moleküle, wobei die im fluoreszierenden Zustand verbliebenen Moleküle Fluoreszenz abgeben können, die detektiert wird. In beiden Fällen ist die Verwendung von gepulstem Licht (wie bei STED) für den Anregungs- und Abregungsstrahl nicht erforderlich.

Beschreibung der Fig. 1 und Fig. 2:

Die Bezugszeichen bedeuten für beide Figuren:

AN
Anregungsstrahlengang
AB
Abregungsstrahlengang
DE
Detektor
SC
Scanner
O
Objektiv
ST
Strahlteiler
SV
Strahlvereiniger
PO
Pupillenoptik
DL
Delay zur Verlängerung des Lichtweges
SM
Spiralmaske
RM
Radialmaske
PR
Probe

In 1 erfolgt eine Anregung AN mittels einer üblichen PSF beispielsweise eines Punktscanners über die PO, SC und O in Richtung PR.

Der Abregungsstrahlengang AB wird mittels eines Strahlteilers ST in zwei Strahlen aufgespalten. Der eine Strahlengang mit Delay DL (wobei die Länge der Verlängerung, ggf. über Lichtleitfasern, über der Kohärenzlänge der verwendeten Laser liegt) enthält SM, der andere enthält RM, wobei das Delay für eine inkohärente Überlagerung beider Teilstrahlen hinter SV sorgt. Über die Optik PO werden die Masken in die oder in die Nähe einer Objektivpupille abgebildet..

In 2 liegt ein ähnlicher Abregungsstrahlengang AB wie in 1 vor, wobei RM durch die Kombinationsmaske RM/SM ersetzt ist. Der Anregungsstrahlengang AN wird ebenfalls mittels ST2 in zwei Strahlengänge aufgeteilt. In dem Teilstrahlengang mit DL befindet sich eine Radialmaske RM, die in die Objektivpupille oder in deren Nähe abgebildet wird. Das Delay DL sorgt für die inkohärente Überlagerung der Teilstrahlen hinter SV2.

Das Delay muß größer als die Kohärenzlänge der Quelle sein, was bei hochkohärenten Lasern nur sinnvoll mit Fasern zu lösen ist. Eine weitere Möglichkeit der inkohärenten Überlagerung besteht in der Verwendung von Licht leicht verschiedener Wellenlänge (innerhalb des Anregungsspektrums für Fluoreszenz (GSD)/für Schalten bzw. des Emissionsspektrums (STED)). Dies ist insbesondere bei cw Lasern die bevorzugte Ausführung. So kann z.B. für das Schalten und die Anregung des Proteins Dronpa sowohl Licht bei 488 nm als auch bei 477 nm benutzt werden. Somit kann im Abregungsstrahlengang in Anordnung 1 Licht bei 488 nm von der Spiralmaske und solches bei 477 nm von der Radialmaske geformt und unter Verwendung geeigneter dichroitischer Strahlteiler kombiniert werden. Analoges gilt für Anregungs- und Abregungsstrahlengang in Anordnung 2.

Die Pupillenabbildung muss eine stationäre Phasenverteilung in der Pupillenebene des Objektivs erzeugen.

Unabhängig von der Art der Probenwechselwirkung werden Anregungs- und Abregungsstrahl in der Regel zeitlich nacheinander auf die Probe treffen. Entweder wird mit dem Abregungsstrahl die Probe „präpariert" und anschließend mit dem Anregungsstrahl der präparierte Zustand „abgefragt" (GSD und Schalten), oder die Anregung wird durch einen zeitlich verzögerten Abregungsstrahl modifiziert (STED).

Dadurch ist eine inkohärente Überlagerung von Anregungs- und Detektionsstrahl gewährleistet.

Im Weiteren dargestellt sind jeweils Schnitte entlang der lateralen Koordinate (horizontal) und der axialen Koordinate (vertikal), wobei die Verteilungen rotationssymmetrisch bezüglich der axialen (optischen) Achse sind

4 zeigt die entstehenden Verteilungen bei der Abregung und der Realisierung gemäß des ersten Ausführungsbeispieles in 1.

Zu sehen ist, dass eine dreidimensionale Beschränkung desjenigen Gebietes im Fokus (Objektebene PR in 1) (in der Mitte von 4c) auftritt, in dem keine Abregungsstrahlung vorliegt.

5 zeigt die entstehende Verteilung bei der Abregung gemäß 2 Zu sehen ist, dass in der Objektebene PR (5c) ein in axialer Richtung ausgedehntes, lateral beschränktes Gebiet auftritt, in dem keine Abregungsstrahlung vorliegt.

6 zeigt die Verteilung der Anregung in 2 Zu sehen ist, dass in 6c) in der Objektebene PR eine im Vergleich zur normalen PSF (6b) langgestreckte Anregungslichtverteilung entsteht.

Simulationsergebnisse

Die für das Ausschalten verwendete PSFs (in GI. (1) als auf 1 normiert angenommen) führt zu einer Reduktion der Anregbarkeit (oder der Anregung) des Farbstoffs entsprechend A(x,y,z) = exp{-&sgr;·D·PSFs(x,y,z)}(1) wobei &sgr; den Wirkungsquerschnitt des Schaltens (oder der Abregung) und D die Bestrahlungsenergie pro Fläche bezeichnet. Die sich aus der Anregung mit einer PSFa ergebende Gesamt-PSF ist dann PSF(x,y,z) = A(x,y,z)·PSFa(x,y,z)(2)

Unten sind x-z Schnitte durch die PSF für den Fall des schaltbaren Proteins Dronpa gezeigt (lateral = horizontal, axial = vertikal). Dabei wurde das Ausschalten mit einem Wirkungsquerschnitt von 0.07 cm2/mW/s angenommen (Literatur: S. Habuchi et al. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 102, 9511 (2005)). Für eine Bestrahlungsenergie von 3 W/cm2 s (d.h. z.B. 3 mW in 10 &mgr;s auf 1 &mgr;m2 fokussiert) ergeben sich dann für die Realisierung 2 (mit der Abregung entsprechend 5c) und der Anregung entsprechend 6c)) die Verteilung 7a) und für die Realisierung 1 (mit der Abregung entsprechend 4c) und der Anregung entsprechend 6b)) die Verteilung 7b) im Vergleich zur konventionellen PSF (7c)).

Zum Vergleich sei weiterhin die unter gleichen Umständen erhaltene Verteilung nach dem Stand der Technik, nämlich mit einer Maske mit radialem Phasensprung (8a)) bzw. mit Spiralmaske (8b)) im Abregungsstrahlengang, gezeigt. Es ist deutlich zu erkennen, dass man im Fall 8a) zwar eine axiale, aber keine akzeptable laterale Beschränkung der PSF erhält. Als Folge davon ist die Auflösung nur in axialer Richtung signifikant verbessert. Im Fall 8b) gilt das analoge mit Bezug auf eine ausschließlich laterale Verbesserung der Auflösung. Im Gegensatz zu 7a) liegt hier auch keine applikativ relevante Erweiterung der Tiefenschärfe vor.


Anspruch[de]
Mikroskop mit erhöhter Auflösung durch teilweise räumliche Überlagerung in der Beleuchtung durch einen Anregungsstrahl und einen Abregungsstrahles und/oder einen Umschaltstrahl in einer fluoreszierenden Probe,

wobei das Probenlicht detektiert wird

wobei im Anregungsstrahl und/oder im Abregungs- und/oder Umschaltstrahl mindestens eine Kombination von die räumliche Phase zirkular und radial beeinflussenden Mitteln angeordnet ist.
Mikroskop nach Anspruch 1, wobei die Mittel in oder in der Nähe einer Pupillenebene des Beobachtungsobjektives liegen Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, wobei mittels einer scannenden Anordnung die Probe abgetastet wird Mikroskop nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Pupillenoptik zur Übertragung der Mittel in eine Pupillenebene vorgesehen ist Mikroskop nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Radialmaske als räumlich radial beeinflussendes Mittel vorgesehen ist Mikroskop nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Spiralmaske als räumlich zirkular beeinflussendes Mittel vorgesehen ist Mikroskopisches Verfahren mit erhöhter Auflösung, wobei eine fluoreszierende Probe zeitlich nacheinander mit einem Anregungsstrahl und einem Abregungsstrahl und/oder Umschaltstrahl beleuchtet wird, die sich teilweise räumlich überlagern, dadurch gekennzeichnet, dass die Anregungs- und/oder Abregungs- und/oder Umschaltungsstrahlung in ihrer räumlichen Phase gleichzeitig zirkular und radial beeinflusst wird. Mikroskopisches Verfahren nach Anspruch 7, wobei mittels einer scannenden Anordnung die Probe abgetastet wird.






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