Die vorliegende Offenbarung betrifft ein Offset-Frequenz-Schätzverfahren und eine Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung.

Allgemein ist in Systemen, die ein Modulationsverfahren verwenden, wie Phasenumtastung (Phase Shift Keying – PSK) oder Minimum Shift Keying (MSK), die korrekte Schätzung oder angenäherte Bestimmung eines Trägerfrequenz-Offsets von Bedeutung.

Eine herkömmliche Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung empfängt ein Eingangssignal, das komplexe Abtastwerte umfasst. Die empfangenen Abtastwerte können Rauschen enthalten, das während eines Sende-/Empfangsprozesses erzeugt wurde.

Ein Referenzabtastwert ist ein Signal, das keinen Rauschanteil enthält, und kann bestimmt werden, indem die empfangenen Abtastwerte entzerrt und gefiltert werden. Der Referenzabtastwert oder die empfangenen Abtastwerte können konjugiert sein. Ein in Sende- und Empfangssystemen voreingestelltes Signal kann ebenfalls als Referenzabtastwert verwendet werden.

Zur Erleichterung der Beschreibung sei angenommen, dass der Referenzabtastwert konjugiert ist. Herkömmlicherweise multipliziert die Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung die empfangenen Abtastwerte mit einem konjugierten Wert des Referenzabtastwerts. Wenn jedoch die empfangenen Abtastwerte konjugiert sind, multipliziert die Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung den Referenzabtastwert mit einem konjugierten Wert der empfangenen Abtastwerte.

Phasen der empfangenen Abtastwerte, die sich in Abhängigkeit von der Zeit verändern, werden anhand des Ergebnisses detektiert, das sich ergibt, wenn die empfangenen Abtastwerte mit dem konjugierten Wert des Referenzabtastwerts multipliziert werden. Die detektierten Phasen der empfangenen Abtastwerte können in eine Offset-Frequenz umgewandelt werden, wobei ein Verfahren der kleinsten Quadrate zum Einsatz kommt.

Gleichungen 1 bis 4 zeigen einen herkömmlichen Offset-Frequenz-Schätzvorgang. R = S·e^j&ohgr;t(1)

Hierin bezeichnet R einen empfangenen Abtastwert, e^j&ohgr;t bezeichnet einen Rauschanteil, der während eines Signalsübertragungs/empfangsvorgangs erzeugt wurde, und S bezeichnet den Referenzabtastwert, der den Rauschanteil nicht enthält.

X = R·S* = S·e^j&ohgr;t·S* = A·e^j&ohgr;t= A·(cos&ohgr;t + jsin&ohgr;t)(2)

Gleichung 2 zeigt den Fall, bei dem der Referenzabtastwert konjugiert ist. &ohgr;t + &phgr; + &egr; = arctan(sin&ohgr;t/cos&ohgr;t)(3)

Bei dem herkömmlichen Offset-Frequenz-Schätzvorgang, der vorstehend beschrieben wurde, kann aufgrund von fehlerhaften Abtastwerten während des Offset-Frequenz-Schätzvorgangs ein Fehler erzeugt werden. Eine fehlerhafte Offset-Frequenz-Schätzung kann zu einer fehlerhaften Erkennung einer Empfangsfrequenz führen.

Der Erfindung liegt das technische Problem zugrunde, ein Offset-Frequenz-Schätzverfahren und eine Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung anzugeben, die eine fehlerhafte Schätzung der Offset-Frequenz verhindern.

Die Erfindung löst das Problem mittels eines Offset-Frequenz-Schätzverfahrens mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 und mittels einer Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 16.

Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben, deren Wortlaut hiermit durch Bezugnahme in die Beschreibung aufgenommen wird, um unnötige Textwiederholungen zu vermeiden.

Beispielhafte Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung schalten allgemein Offset-Frequenz-Schätzverfahren und -vorrichtungen zum Vermeiden einer fehlerhaften Offset-Frequenz-Schätzung aufgrund fehlerhafter Abtastwerte.

Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung, die nachfolgend im Detail beschrieben werden, sind in den Zeichnungen dargestellt. Es zeigt/zeigen:

1 ein Flussdiagramm zur Darstellung eines Offset-Frequenz-Schätzverfahrens gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;

2 ein Blockdiagramm einer Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;

3A und 3B Flussdiagramme zur Darstellung des Detektierens empfangener Abtastwerte in dem Verfahren gemäß 1;

4 ein Diagramm zur Darstellung eines Ergebnisses, das durch Detektieren von Phasen empfangener Abtastwerte gemäß 1 und 2 bestimmt wurde;

5 ein Diagramm zur Darstellung eines Ergebnisses, das durch Schätzen einer temporären Offset-Frequenz und einer Anfangsphase gemäß 1 und 2 bestimmt wurde;

6 ein Diagramm zur Darstellung von Unterschieden zwischen geschätzten Phasen und detektierten Phasen in dem Verfahren und der Vorrichtung gemäß 1 bzw. 2;

7 ein detailliertes Flussdiagramm zur Darstellung einer Schätzung einer endgültigen Offset-Frequenz, wie sie in dem Verfahren gemäß 1 durchgeführt wird;

8 ein Diagramm zur Darstellung von Fehlerwerten empfangener Abtastwerte der Vorrichtung oder des Verfahrens, die/das in 2 bzw. 7 dargestellt ist;

9 ein Diagramm zur Darstellung von Fehlerwerten, die unter Verwendung der in 1 gezeigten Vorrichtung bzw. des in 7 gezeigten Verfahrens bestimmt wurden, die in Betragsreihenfolge angeordnet sind;

10 ein Diagramm zur Darstellung einer endgültigen Offset-Frequenz, die unter Verwendung des Verfahrens in 1 bzw. der Vorrichtung in 2 bestimmt wurde;

11 ein Diagramm zur Darstellung einer endgültigen Offset-Frequenz, die unter Verwendung des Verfahrens in 1 bzw. der Vorrichtung in 2 bestimmt wurde;

12 ein Diagramm zur Darstellung eines Mittelwerts der endgültigen Offset-Frequenz, die unter Verwendung des Verfahrens in 1 bzw. der Vorrichtung in 2 bestimmt wurde; und

13 ein Diagramm zur Darstellung einer Standardabweichung der endgültigen Offset-Frequenz, die unter Verwendung des Verfahrens in 1 bzw. der Vorrichtung in 2 bestimmt wurde.

1 ist ein Flussdiagramm zur Darstellung eines Offset-Frequenz-Schätzverfahrens 100 gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung.

Bezugnehmend auf 1 beinhaltet das Offset-Frequenz-Schätzverfahren 100 ein Empfangen komplexer Abtastwerte im Schritt S110, ein Detektieren von Phasen der empfangenen Abtastwerte im Schritt 120, ein Schätzen einer temporären Offset-Frequenz und einer Anfangsphase aus den detektierten Phasen der empfangenen Abtastwerte unter Verwendung eines linearen Regressionsanalyseverfahrens im Schritt S130 und ein Schätzen einer endgültigen Offset-Frequenz durch Auslassen fehlerhafter Abtastwerte, die durch die temporäre Offset-Frequenz und die Anfangsphase erkannt wurden, im Schritt S140.

Das lineare Regressionsanalyseverfahren kann beispielsweise ein Verfahren oder eine Methode kleinster Quadrate sein.

2 ist ein Blockdiagramm einer Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung 200 gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung.

Bezugnehmend auf 2 umfasst die Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung 200 einen Empfänger 210, einen Phasendetektor 220, einen ersten Schätzer 230 und einen zweiten Schätzer 240.

Nachfolgend werden Offset-Frequenz-Schätzoperationen detailliert unter Bezugnahme auf die 1 und 2 beschrieben. Bezugnehmend auf die 1 und 2 empfängt der Empfänger 210 im Schritt S110 komplexe Abtastwerte SAM. Die empfangenen Abtastwerte SAM sind durch Gleichung 1 gegeben.

Im Schritt S120 detektiert der Phasendetektor 220 die Phasen phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM, wobei phase_i eine erkannte Phase eines empfangenen Abtastwerts i angibt. Um die Phasen phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM zu detektieren, umfasst der Phasendetektor 220 eine Konjugationseinheit 222, einen Multiplizierer 224 und einen Detektor 226.

Die 3A und 3B sind Flussdiagramme zur Darstellung von Schritt S120 in 1.

Bezugnehmend auf die 2 und 3A erzeugt die Konjugationseinheit 222 im Schritt S121 einen ersten Wert durch Konjugieren eines Referenzabtastwerts REF. Im Schritt S122 erzeugt der Multiplizierer 224 einen zweiten Wert durch Multiplizieren des ersten Werts mit den empfangenen Abtastwerten SAM. Im Schritt S123 bestimmt der Detektor 226die Phase phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM unter Verwendung des zweiten Werts.

Ein Verfahren zum Detektieren der Phase phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM ist in den Gleichungen 2 und 3 angegeben. Die Phase phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM kann gemäß Gleichung 3 den Wert &ohgr;t + &phgr; + &egr; aufweisen. Die Phase phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM wird als eine erkannte Phase phase_i bezeichnet.

Der Referenzabtastwert REF ist ein Signal, das keine in einem Sende-/Empfangsprozess der empfangenen Abtastwerte SAM erzeugte Rauschkomponente aufweist. Der Referenzabtastwert REF kann bestimmt werden, indem der empfangene Abtastwert SAM entzerrt und gefiltert wird. Ein in Sende- und Empfangssystemen voreingestelltes Signal kann ebenfalls als Referenzabtastwert REF verwendet werden.

Bezugnehmend auf die 2 und 3B erzeugt die Konjugationseinheit 222 im Schritt S126 einen dritten Wert durch Konjugieren der empfangenen Abtastwerte SAM. Im Schritt S127 erzeugt der Multiplizierer 224 einen vierten Wert, indem er den ersten Wert mit dem Referenzabtastwert REF multipliziert. Im Schritt S128 bestimmt der Detektor 226 die Phase phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM unter Verwendung des vierten Werts.

Die Phase phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM wird mittels Gleichung 3 bestimmt, selbst wenn der Referenzabtastwert REF oder die empfangenen Abtastwerte SAM konjugiert sind. Allerdings illustriert 2 zur Erleichterung der Beschreibung den Fall, dass der Referenzabtastwert REF konjugiert ist.

4 ist ein Diagramm zur Darstellung eines Ergebnisses, das durch Detektieren der Phasen phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM unter Verwendung des Verfahrens oder der Vorrichtung bestimmt wurde, das/die in Verbindung mit 1 bzw. 2 beschrieben wurde. Bezugnehmend auf 4 sind die Phasen phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM als Punkte dargestellt. Wie in 4 gezeigt, liegen die empfangenen Abtastwerte SAM mit den detektierten Phasen phase_i innerhalb eines vorbestimmten Bereichs. Weiterhin zeigt 4 empfangene Abtastwerte SAM, die erkannte Phasen aufweisen, die sich signifikant von den detektierten Phasen phase_i innerhalb des vorbestimmten Bereichs unterscheiden.

Unter erneuter Bezugnahme auf die 1 und 2 schätzt der erste Schätzer 230 im Schritt S130 eine temporäre Offset-Frequenz &ohgr;^ und eine Anfangsphase &phgr;^ aus den Phasen phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM unter Verwendung des linearen Regressionsanalyseverfahrens, wie beispielsweise eines Verfahrens kleinster Quadrate. Die Anfangsphase &phgr;^ ist eine Phasendifferenz zwischen Sende- und Empfangssystemen, die als Ergebnis einer Synchronisationsfehlabstimmung oder fehlerhaften Synchronisation zwischen dem Senden und Empfangen der empfangenen Abtastwerte SAM erzeugt wird.

Die temporäre Offset-Frequenz &ohgr;^ und die Anfangsphase &phgr;^ können unter Verwendung der Gleichungen 5 bis 7 geschätzt werden. phase_i = &ohgr;·i + &phgr;(5)

Hierin bezeichnen &ohgr; und &phgr; eine tatsächliche Offset-Frequenz bzw. eine tatsächliche Anfangsphase, die in den Sende- und Empfangssystemen existieren, und phase_i bezeichnet eine erkannte Phase eines empfangenen Abtastwerts i. Werte der detektierten Phasen phase_i werden gemäß der Darstellung in 4 bestimmt, sodass ein Prozess zum Schätzen von &ohgr; und &phgr; benötigt wird.

Ein Prozess zum Schätzen von &ohgr; und &phgr; unter Verwendung der Methode der kleinsten Quadrate wird nachfolgend beschrieben. Insbesondere werden 142 empfangene Abtastwerte SAM benutzt, um das Schätzen von &ohgr; und &phgr; zu beschreiben.

Die X- und Y-Matrizen in Gleichung 6 werden in der Methode der kleinsten Quadrate verwendet.

Die temporäre Offset-Frequenz &ohgr;^ und die Anfangsphase &phgr;^ aus Gleichung 7 werden unter Verwendung der Methode der kleinsten Quadrate aus den X- und Y-Matrizen in Gleichung 6 geschätzt. Da die Methode der kleinsten Quadrate dem Fachmann bekannt ist, wird auf eine detaillierte Beschreibung der Methode der kleinsten Quadrate aus Gründen der Vereinfachung verzichtet. Anders als bei der herkömmlichen Offset-Frequenz-Schätzung können das Offset-Frequenz-Schätzverfahren und die Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung gemäß beispielhafter Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung Schätzungen der falschen Offset-Frequenz vermeiden, indem eine Offset-Frequenz und eine Anfangsphase bestimmt werden.

Wenn beispielsweise die empfangenen Abtastwerte SAM, die in 4 gezeigt sind, empfangen werden, werden die temporäre Offset-Frequenz &ohgr;^ und die Anfangsphase &phgr;^ unter Verwendung der Methode der kleinsten Quadrate als 0,0017 bzw. -0,0952 bestimmt.

Durch Invertieren der geschätzten temporären Offset-Frequenz &ohgr;^ und der Anfangsphase &phgr;^ kann eine geschätzte Phase für jeden empfangenen Abtastwert SAM bestimmt werden. Die geschätzte Phase jedes empfangenen Abtastwerts SAM kann unter Verwendung von Gleichung 8 bestimmt werden. phase_i = &ohgr;^·i + &phgr;^(8)

Jede geschätzte Phase wird unter Verwendung des linearen Regressionsanalyseverfahrens bestimmt, bei dem die temporäre Offset-Frequenz &ohgr;^ und die Anfangsphase &phgr;^ als Parameter verwendet werden. Nachfolgend wird die geschätzte Phase als phase_est bezeichnet, um sie von der detektierten Phase phase_i des empfangenen Abtastwerts i in Gleichung 5 zu unterscheiden.

5 ist ein Diagramm zur Darstellung eines Ergebnisses, das durch Schätzen der temporären Offset-Frequenz &ohgr;^ und der Anfangsphase &phgr;^ unter Verwendung des Verfahrens gemäß 1 bzw. der Vorrichtung gemäß 2 bestimmt wurde. Bezugnehmend auf 5 ist die geschätzte Phase phase_est jedes empfangenen Abtastwerts SAM auf einer Geraden A angeordnet, deren Steigung die temporäre Offset-Frequenz &ohgr;^ und deren anfänglicher y-Achsen-Wert die Anfangsphase &phgr;^ ist.

6 ist ein Diagramm zur Darstellung von Unterschieden zwischen geschätzten Phasen und detektierten Phasen, die unter Verwendung des Verfahrens gemäß 1 bzw. der Vorrichtung gemäß 2 bestimmt wurden. 6 zeigt Unterschiede d1, d2 und d3 zwischen detektierten Phasen phase_i und geschätzten Phasen phase_est, die auf einer Geraden A angeordnet sind, die eine der temporären Offset-Frequenz &ohgr;^ entsprechende Steigung und einen der Anfangsphase &phgr;^ entsprechenden anfänglichen y-Achsen-Wert aufweist. Ein empfangener Abtastwert SAM, der einen Unterschied zwischen einer geschätzten Phase phase_est und einer detektierten Phase phase_i aufweist, der größer als ein vorbestimmter Wert ist, wird als fehlerhafter Abtastwert bezeichnet.

Bezugnehmend auf die 1 und 2 schätzt der zweite Schätzer 240 im Schritt S140 eine endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp , indem er fehlerhafte Abtastwerte auslässt, die anhand der temporären Offset-Frequenz &ohgr;^ und der Anfangsphase &phgr;^ erkannt wurden.

Dies bedeutet, dass gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung im Schritt S140 die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp aus detektierten Phasen phase_i empfangener Abtastwerte SAM geschätzt wird, wobei fehlerhafte Abtastwerte unter den empfangenen Abtastwerten SAM ausgeschlossen werden, indem die Methode kleinster Quadrate verwendet wird. Der zweite Schätzer 240 kann einen Fehlerwertberechner 242, eine Einstelleinheit 246 und einen Schätzer 248 umfassen, um die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp zu schätzen.

7 ist ein Flussdiagramm zur Darstellung des Schritts S140 in 1.

Bezugnehmend auf die 2 und 7 berechnet der Fehlerwertberechner 242 im Schritt S141 Fehlerwerte, die Unterschiede zwischen den detektierten Phasen phase_i und den geschätzten Phasen phase_est anzeigen. Die Fehlerwerte können die absoluten Beträge dieser Unterschiede sein.

8 ist ein Diagramm zur Darstellung der Fehlerwerte der empfangenen Abtastwerte SAM der Vorrichtung oder des Verfahrens gemäß 2 oder 7. 8 zeigt die Fehlerwerte ➀ bis ➄ der empfangenen Abtastwerte SAM, die in Reihenfolge des Betrags nummeriert sind.

Unter erneuter Bezugnahme auf die 2 und 7 kann der zweite Schätzer 240 eine Neuordnungseinheit 244 umfassen. Im Schritt S142 ordnet die Neuordnungseinheit 244 die empfangenen Abtastwerte SAM in Reihenfolge des Betrags der Fehlerwerte. 9 ist ein Diagramm zur Darstellung der Fehlerwerte, die unter Verwendung der anhand von 2 beschriebenen Vorrichtung bzw. des anhand von 7 beschriebenen Verfahrens bestimmt wurden, die in Reihenfolge des Betrags angeordnet sind.

Im Schritt S143 setzt oder markiert die Einstelleinheit 246 die empfangenen Abtastwerte SAM, die einen Fehlerwert besitzen, der größer als ein vorbestimmter Wert ist, als die fehlerhaften Abtastwerte unter den empfangenen Abtastwerten SAM. Der vorbestimmte Wert kann in Abhängigkeit von einer Anzahl auszulassender fehlerhafter Abtastwerte eingestellt werden. Bei einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung kann eine fehlerhafte Offset-Frequenz-Schätzung vermieden werden, indem eine geeignete Anzahl auszulassender fehlerhafter Abtastwerte eingestellt wird.

Im Schritt S144 schätzt der Schätzer 248 die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp unter Verwendung der detektierten Phasen phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM unter Ausschluss der fehlerhaften Abtastwerte. Die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp kann unter Verwendung der Methode der kleinsten Quadrate geschätzt werden, wie oben beschrieben.

Ein Verfahren zum Bestimmen der endgültigen Offset-Frequenz &ohgr;^^imp unter Verwendung der detektierten Phasen phase_i der empfangenen Abtastwerte SAM unter Ausschluss der fehlerhaften Abtastwerte kann eine Verwendung der Gleichungen 5 bis 7 beinhalten, die dazu verwendet wurden, die temporäre Offset-Frequenz &ohgr;^ der empfangenen Abtastwerte SAM zu bestimmt. Jedoch kann gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp , die näher an einer tatsächlichen Offset-Frequenz liegt, durch Auslassen der fehlerhaften Abtastwerte bestimmt werden.

Die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp kann durch Verwendung von Gleichung 9 bestimmt werden.

Hierin bezeichnet n die Anzahl auszulassender fehlerhafter Abtastwerte und {·} bezeichnet einen Index der auszulassenden fehlerhaften Abtastwerte.

10 ist ein Diagramm zur Darstellung der endgültigen Offset-Frequenz &ohgr;^^imp , die unter Verwendung des anhand von 1 beschriebenen Verfahrens bzw. der anhand von 2 beschriebenen Vorrichtung bestimmt wurde.

Bezugnehmend auf 10 schätzen das Offset-Frequenz-Schätzverfahren und die Offset-Frequenz-Schätzvorrichtung gemäß den Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp , indem empfangenen Abtastwerte ➀ bis ➄ in der Reihenfolge des Betrags der fehlerhaften Abtastwerte ausgelassen werden. Eine Gerade B weist eine Steigung gemäß der endgültigen Offset-Frequenz

11 ist ein Diagramm zur Darstellung einer endgültigen Offset-Frequenz &ohgr;^^imp , die unter Verwendung des anhand von 1 beschriebenen Verfahrens bzw. der anhand von 2 beschriebenen Vorrichtung bestimmt wurde. Wie in 11 gezeigt, weist die endgültige Offset-Frequenz &ohgr;^^imp , die gemäß beispielhafter Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung bestimmt wurde, einen Wert auf, der verglichen mit der temporären Offset-Frequenz &ohgr;^ näher bei der tatsächlichen Offset-Frequenz liegt. Hierbei sei zur Erleichterung der Beschreibung angenommen, dass ein Referenzcharakter einer Geraden, deren Steigung eine Offset-Frequenz ist, die Offset-Frequenz anzeigt.

Bezugnehmend auf 11 beträgt die endgültige Offset-Frequenz B, die gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung geschätzt wurde, ungefähr 0,0019, während die herkömmliche Offset-Frequenz A ungefähr 0,0017 beträgt. Die tatsächliche Offset-Frequenz I beträgt ungefähr 0,0020. Somit liegt die endgültige Offset-Frequenz B, bei der es sich um eine Offset-Frequenz gemäß einer beispielhaften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung handelt, näher bei der tatsächlichen Offset-Frequenz I als die temporäre Offset-Frequenz A, bei der es sich um eine herkömmliche Offset-Frequenz handelt.

12 ist ein Diagramm zur Darstellung eines Mittelwerts der endgültigen Offset-Frequenz, die durch Verwenden des anhand von 1 beschriebenen Verfahrens bzw. der anhand von 2 beschriebenen Vorrichtung bestimmt wurde. Wie in 12 gezeigt, liegt ein Mittelwert der endgültigen Offset-Frequenz, die gemäß beispielhafter Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung bestimmt wurde, verglichen mit der temporären Offset-Frequenz näher bei einem Mittelwert der tatsächlichen Offset-Frequenz.

13 ist ein Diagramm zur Darstellung einer Standardabweichung der endgültigen Offset-Frequenz, die unter Verwendung des anhand von 1 beschriebenen Verfahrens bzw. der anhand von 2 beschriebenen Vorrichtung bestimmt wurde. Wie in 13 gezeigt, ist die Standardabweichung der endgültigen Offset-Frequenz, die gemäß beispielhafter Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung bestimmt wurde, geringer als diejenige der temporären Offset-Frequenz.

Unter Bezugnahme auf die 12 und 13 liegt der Mittelwert der Offset-Frequenz, die gemäß beispielhafter Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung geschätzt wurde, näher bei einem Mittelwert der tatsächlichen Offset-Frequenz und weist eine Standardabweichung auf, die kleiner ist als diejenige der in herkömmlicher Weise geschätzten Offset-Frequenz. Wie oben beschrieben, kann bei einem Verfahren und einer Vorrichtung zum Schätzen einer Offset-Frequenz gemäß beispielhaften Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung durch adaptives Auslassen fehlerhafter Abtastwerte eine korrektere Offset-Frequenz geschätzt werden.