Die Erfindung betrifft einen homogen-kristalline organische Halbleiterschicht (OSC-Schicht), ein Verfahren zur Herstellung der homogen-kristallinen OSC-Schicht, eine kolloidale Suspension, die zur Herstellung nutzbar ist, und einen organischen Dünnfilmtransistor (OTFT), der die homogen-kristalline OSC-Schicht enthält. Die homogen-kristalline Halbleiterschicht enthält oder besteht aus (i) 30-200 Gewichtsteilen eines organischen Halbleiters (OSC) und (ii) 1-5 Gewichtsteilen an Nanopartikeln, die elektrisch nicht leitend und gegenüber dem OSC inert sind.
Beschreibung[de]
Die Erfindung betrifft eine homogen-kristalline organische Halbleiterschicht
(OSC-Schicht; (OSC = organic semiconductor) ein Verfahren zur Herstellung der homogen-kristallinen
OSC-Schicht, eine kolloidale Suspension, die zur Herstellung nutzbar ist, und einen
organischen Dünnfilmtransistor (OTFT = organic thin film transistor), der die
homogen-kristalline OSC-Schicht enthält.
Der Einsatz organischer Halbleiter (OSC) in einer Vielzahl von technischen
Anwendungsfeldern, wie beispielsweise lichtemittierende Dioden, Feld-Effekt-Transistoren
oder photovoltaischen Zellen, ist bekannt; die verfahrenstechnische Verarbeitung
des Materials erfordert jedoch weitere Optimierungen. Das organische Halbleitermaterial
muss in der Regel für den Einsatz in Transistoren mit einem hohen Ordnungsgrad
der kristallinen Modifikation bereitgestellt werden, um ein für den Einsatz
zweckgeeignetes Leitverhalten aufzuweisen. Dieser Ordnungsgrad kann durch gezielte
Aggregation und Kristallisation des Materials erreicht werden. Das Material sollte
dazu aus sich heraus eine Tendenz zur Selbstordnung/Initiation von Aggregationsprozessen
haben. Bekannt ist beispielsweise die Kristallisation von Pentacen durch Abscheiden
aus der Gasphase, die Bildung regulärer Laminarstrukturen bei Poly(alkylthiophenen)
sowie die Bildung flüssigkristalliner Strukturen bei weiteren organischen Halbleitermaterialien.
Für die meisten flüssigkristallinen Materialien gilt, dass
sich für den Einsatz in Transistoren nur unzureichend große Domänen
gleichen Ordnungsgrades im Material ausbilden, die sich nicht über die gesamte
Länge einer organischen Halbleiterschicht erstrecken. Um dem abzuhelfen, ist
es bekannt, eine weitere Schicht einzubringen, die die gewünschte makroskopische
Ordnung in der aufzubringenden organischen Halbleiterschicht induziert.
Bei dreidimensionalen kristallinen Systemen bilden Partikel und Oberflächendefekte
Ausgangspunkte der Kristallisation. Entsprechend der Dichte dieser Kristallisationspunkte
kann es gelingen, Domänen in der organischen Halbleiterschicht zu erzeugen,
die groß genug sind, sich beispielsweise über die gesamte Source-Drain-Struktur
des OTFT erstrecken. Die Anzahl und Art der Kristallisationspunkte ist jedoch schwer
kontrollierbar und führt zu einem erhöhten Ausschuss im Herstellungsprozess
und Transistoren mit erhöhter Variationsbreite im elektrischen Leitvermögen.
Zusammenfassung der Erfindung
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die geschilderten Unzulänglichkeiten
des Standes der Technik zu überwinden und organische Halbleiterschichten mit
möglichst homogen-kristalliner Modifikation bereitzustellen.
Nach einem ersten Aspekt der Erfindung wird diese Aufgabe durch die
homogen-kristalline organische Halbleiterschicht (OSC-Schicht) nach Anspruch 1 gelöst.
Die erfindungsgemäße OSC-Schicht enthält oder besteht aus
(i) 30 bis 200 Gewichtsteilen eines organischen Halbleiters (OSC); und
(ii) 1 bis 5 Gewichtsteilen Nanopartikeln, die elektrisch nicht leitend und
gegenüber dem OSC inert sind.
Es hat sich gezeigt, dass die Gegenwart von Nanopartikeln die elektrischen
Eigenschaften der OSC-Schicht nicht oder allenfalls nur im geringen Ausmaß
beeinflusst. Die Gegenwart der Nanopartikel während der Herstellung bewirkt
jedoch, dass selbige als Kristallisationskeime agieren und in der Folge homogen-kristalline
Systeme entstehen. Mit anderen Worten, die Nanopartikel dienen der Steuerung des
Kristallisationsprozesses und ermöglichen die Darstellung homogen-kristalliner
organischer Halbleiterschichten, die insbesondere in organischen Dünnfilmtransistoren
Einsatz finden können. Es hat sich gezeigt, dass eine Standardabweichung der
Ladungsträgerbeweglichkeit in den erfindungsgemäßen organischen Halbleiterschichten
sehr viel geringer ist als bei organischen Halbleiterschichten, die unter gleichen
Bedingungen hergestellt wurden, jedoch ohne den Einsatz von Nanopartikeln. Eine
derartige OSC-Schicht besitzt ein hohes Anwendungspotential für elektronische
Bauelemente wie Dioden, Transistoren, photovoltaische Zellen und organische Leuchtdioden.
Ein organischer Halbleiter im Sinne der Erfindung ist eine Verbindung
des Kohlenstoffs (außer dessen Oxide, Kohlensäure und Carbonate), deren
Fermi-Energie in einer Bandlücke liegt und die eine thermische Aktivierung
von Ladungsträgern ermöglicht. Die eingesetzten Halbleitermaterialien
lassen sich nach der Größe der Moleküle klassifizieren; einerseits
in so genannte kleine Moleküle, wie Pentacene oder Anthracene, und andererseits
in Polymere, wie trans-Polyacetylen oder Poly(thiophene). Als organische Halbleitermaterialien für
die Zwecke der Erfindung können sowohl kleinere Moleküle als auch Polymere
eingesetzt werden.
Der organische Halbleiter ist vorzugsweise ausgewählt aus der
Gruppe umfassend Poly-3-alkylthiophene (P3AT), insbesondere Poly-3-hexylthiophen
und Poly-3-decylthiophen; Poly-co-(dioctylfluorenyl-dithiophenyl) (F8T2); Poly(alkyl-triarylamine)
(PTAA); Dihexylsexithiophen (DH6T); sternförmige Oligothiophene; Poly(alkylterthiophene)
(PTT); Poly(alkylquaterthiophene) (PQT); funktionalisierte Pentacene, insbesondere
Bis-(triisopropylsilylethinyl)pentacen (TIPS-Pentacen); und Bis(triehtylsilylethinyl)anthradithiophen
(TES-Anthradithiophen).
Nanopartikel im Sinne der Erfindung bezeichnen einen Verbund von wenigen
bis einigen Tausend Atomen oder Molekülen, deren Abmessungen immer im Nanometerbereich
liegen. Vorzugsweise liegt eine durchschnittliche Teilchengröße im Bereich
von 3 bis 100 nm, besonders bevorzugt 5 bis 20 nm. Die Nanopartikel liegen dabei
vorzugsweise monodispers vor, d.h. es werden Teilchen nur einer Teilchengröße
eingesetzt. Die Herstellung derartiger Nanopartikel ist bekannt, so dass hierauf
nicht näher eingegangen wird.
Die Nanopartikel, die für die Zwecke der Erfindung einsetzbar
sind, müssen elektrisch nicht leitend und gegenüber dem organischen Halbeleiter
inert sein. Mit anderen Worten, die elektrischen Eigenschaften des organischen Halbleiters
sollen durch den geringen Anteil an Nanopartikeln möglichst nicht verändert
werden, noch dürfen chemische Reaktionen mit dem organischen Halbleitermaterial
stattfinden.
Vorzugsweise weist das Material für die Nanopartikel Bandstrukturen
auf, die eine wie auch immer geartete elektromagnetische Wechselwirkung mit den
weiteren Komponenten der Schicht unter OTFT-Bedingungen nicht erlauben. Die Nanopartikel
bestehen insbesondere aus einem oder mehreren der Materialien ausgewählt aus
der Gruppe SiO2, SnO2, TiO2, ZrO2, Glas,
Al2O3, MgO, CaF2 und BaF2. Besonders
bevorzugt bestehen die Nanopartikel aus einem oder mehreren der Materialien ausgewählt
aus der Gruppe SiO2, Glas, Al2O3, MgO, CaF2
und BaF2.
Ein zweiter Aspekt der Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur
Herstellung der homogen-kristallinen organischen Halbleiterschicht auf einem Substrat.
Das Verfahren umfasst die Schritte:
(i) Bereitstellen einer kolloidalen Suspension enthaltend in einem Suspensionsmittel
30 bis 200 Gewichtsteile eines organischen Halbleiters (OSC) und 1 bis 5 Gewichtsteile
an Nanopartikeln, die elektrisch nicht leitend und gegenüber dem OSC inert
sind;
(ii) Aufbringen der kolloidalen Suspension auf dem Substrat;
(iii) Entfernen des Suspensionsmittels.
Im Schritt (i) wird demnach eine kolloidale Suspension bereitgestellt,
die – neben dem Suspensionsmittel – mindestens die beiden Komponenten
Nanopartikel und organisches Halbleitermaterial enthält. Das organische Halbleitermaterial
liegt dabei in einer gelösten Form im Suspensionsmittel vor, während die
Nanopartikel den Feststoffanteil der kolloidalen Suspension bilden.
Die kolloidale Suspension lässt sich beispielsweise derart herstellen,
dass der organische Halbleiter in einem Lösungsmittel gelöst wird und
die Nanopartikel in einem flüssigen Suspensionsmittel dispergiert werden. Die
Lösung und die Nanopartikel enthaltende Suspension werden vereinigt. Vorzugsweise
ist dabei das Lösungsmittel und das Suspensionsmittel für die Nanopartikel
gleicher Zusammensetzung. Grundsätzlich ist es jedoch nur notwendig, dass sich
die Lösung und die Suspension miteinander vermischen lassen, ohne dass es zu
einem Ausfällen des organischen Halbleiters oder zum Auflösen/zur Akkumulation
der Nanopartikel kommt. Vorzugsweise ist das Suspensionsmittel ein organisches Lösungsmittel,
insbesondere Toluol.
Das Suspensionsmittel enthält weiterhin vorzugsweise den organischen
Halbleiter in 0,1 bis 5 Gew.% (sowie eine entsprechend den oben genannten Gewichtsrelationen
angepassten Anteil an Nanopartikeln). Eine derartige kolloidale Suspension ist nach
Kenntnisstand der Anmelderin bisher nicht beschrieben wurden und wird als Zwischenprodukt
des Verfahrens daher gesondert beansprucht.
Im Schritt (ii) wird die kolloidale Suspension auf das Substrat aufgebracht.
Hierbei kann auf herkömmliche Auftragungsverfahren zurückgegriffen werden,
wie beispielsweise dem Spin Coating, Dip Coating oder Druckverfahren.
Das Suspensionsmedium wird im Schritt (iii) entfernt, zumeist durch
Anlegen eines Unterdrucks und unter Zufuhr thermischer Energie.
Ein dritter Aspekt der Erfindung bezieht sich auf organische Dünnfilmtransistoren
(OTFT), die eine homogen-kristalline organische Halbleiterschicht der zuvor beschriebenen
Ausprägung aufweisen.
Ein Dünnfilmtransistor (auch Feld-Effekt-Transistor FET genannt)
besteht im Wesentlichen aus vier verschiedenen Komponenten: einem elektrisch leitenden,
einem isolierenden und einem halbleitenden Material sowie einem Substrat als Träger.
Ein Feld-Effekt-Transistor wird schon dann als organisch bezeichnet, wenn die halbleitende
Schicht aus organischen Molekülen und Polymeren besteht. Hinsichtlich des Aufbaus
des Feld-Effekt-Transistors lässt sich noch nach der relativen Lage der Gate-Elektroden
differenzieren, die oben oder unten liegen können (top gate oder bottom gate).
Ein weit verbreitetes Konzept organischer Feld-Effekt-Transistoren sieht einen leitfähigen
Silizium-Wafer als Substrat und gleichzeitig Gate-Elektrode und eine darüber
liegende SiO2-Schicht als Isolator vor. Auf dieser Schicht werden die
Source- und Drain-Elektroden aus Metall (z.B. Gold) strukturiert aufgebracht. Die
organische Halbleiterschicht wird als oberste Schicht aufgedampft (z.B. Pentacen)
oder aufgeschleudert (Polythiophen).
Die grundlegende Funktionsweise organischer Feld-Effekt-Transistor
gleicht denen herkömmlicher Feld-Effekt-Transistor aus rein anorganischen Werkstoffen.
Mit angelegter Gate-Spannung entsteht ein sehr dünner, leitfähiger Kanal
an der Grenzschicht zwischen Halbleiter und Isolator durch Akkumulation von Ladungsträgern,
so dass ein Strom von der Source- zur Drain-Elektrode fließen kann. Die Stromhöhe
hängt ab von der Gate-Spannung, die die Zahl der Ladungsträger bestimmt,
sowie von der Ladungsträgerbeweglichkeit, als einer Materialeigenschaft, die
ein Maß für die Ladungsträgergeschwindigkeit ist.
Alle bisherigen organischen Feld-Effekt-Transistoren beruhen auf dem
Prinzip der Ladungsträger-Akkumulation. Lochleiter oder p-Typ-Halbleiter können
den Strom schneller leiten und sind wesentlich stabiler als n-Typ-Halbleiter. Daher
sind die meisten organischen Feld-Effekt-Transistoren p-Typ-Transistoren.
Der Mechanismus des Ladungstransports ist noch Gegenstand umfangreicher
Untersuchungen; in Polymeren liegt jedes Loch einen komplizierten Weg in einem nicht
periodischen System zurück. Die Löcher können sich nur entlang der
Polymerketten bewegen und müssen an ihrem Ende zum nächsten Polymer tunneln.
Daher ist die räumliche Anordnung der Polymere für den Transport sehr
wichtig; ein höherer Ordnungsgrad führt zu höheren Ladungsträgerbeweglichkeiten.
Bei kleinen organischen Molekülen (wie z.B. Pentacen) ließen sich Löcherbeweglichkeiten
von etwa 2 cm2/Vs beobachten, in Polymeren liegt die Löcherbeweglichkeit
typischerweise zwischen 10-4 und 0,1 cm2/Vs. Eine hohe Varianz
im Ordnungsgrad der organischen Halbleiter hat demnach unmittelbar Auswirkung auf
die Ladungsträgerbeweglichkeit. Durch den Einsatz von Nanopartikeln konnte
nun die herstellungsbedingte Varianz des Ordnungsgrades deutlich reduziert werden.
Dieser höhere Ordnungsgrad wird im Sinne der Erfindung als homogen-kristallin
bezeichnet.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines Ausführungsbeispiels
und dazugehöriger Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
1: einen schematischen Querschnitt durch einen organischen
Dünnfilmtransistor (OTFT);
2 und 3: Mikroskopiefotografien
eines nach einem herkömmlichen Verfahren gefertigten top gate OTFT und eines
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren gestellten top gate OTFT.
1 zeigt stark schematisiert und in einem Querschnitt
einen organischen Dünnfilmtransistor (OTFT) 10.
Der OTFT 10 weist ein Substrat 12 aus Glas auf.
Eine Source- und Drain-Elektrode 14, 16 aus Gold fasst eine Schicht
18 aus einem organischen Halbleitermaterial ein. Diese Komponenten werden
von einem Isolator 20 bedeckt. Oberhalb des Isolators 20 ist eine
Gate-Elektrode 22 vorhanden. Die drei Elektroden 14,
16, 22 werden herkömmlich miteinander verschaltet (nicht
dargestellt).
Zur Herstellung des schematisch skizzierten OTFT 10 kann
wie folgt vorgegangen werden:
Das Substrat 12 mit den aufgebrachten Source- und Drain-Elektroden
14, 16 (Cr 10 nm Au 40 nm) wurde in herkömmlicher Weise nass-chemisch
gereinigt.
Eine kolloidale Suspension zur Herstellung der homogen-kristallinen
organischen Halbleiterschicht 18 wurde wie folgt hergestellt:
Monodisperse SiO2-Partikel mit einer durchschnittlichen Teilchengröße
von 14 nm (kommerziell erhältlich bei Sigma-Aldrich) wurden mit 0,025 Gew.%
Toluol zugesetzt und unter Ultraschallbehandlung dispergiert. Eine Lösung
von 2 Gew.% des organischen Halbleiters Bis(triisopropylsilylethinyl)pentacen in
Toluol wurde angesetzt und filtriert. Die beiden Lösungen wurden im Volumenverhältnis
1:1 vereinigt und miteinander vermischt. Es entsteht eine kolloidale Suspension.
Das Substrat 12 wurde durch Sauerstoff-Plasmabehandlung aktiviert
und die Oberfläche wurde funktionalisiert mit einer Lösung von 2,3,4,5,6-Pentafluorthiophenol
(Gew.%; kommerziell erhältlich bei Sigma-Aldrich) in 2-Propanol.
Nach dem Trocknen wurde die kolloidale Suspension durch Spin Coating
bei als organische Halbleiterschicht 18 aufgetragen und bei 80°C auf
der Heizplatte getempert.
Anschließend wurde eine Lösung von Poly(1,1,2,4,4,5,5,6,7,7-decafluoro-3-oxa-1,6-heptadiene)
(kommerziell erhältlich bei Sigma-Adlrich) in Perfluortributylamin durch Spin
Coating als Isolator 20 aufgetragen und bei 120°C auf der Heizplatte
getempert.
Schließlich wurde als Gate-Elektrode 22 ein Goldkontakt
von 40 nm Dicke mittels eines thermischen Depositionsverfahren aufgetragen. Die
Strukturierung der Gate-Elektrode wurde durch Schattenmasken realisiert.
Zum Vergleich wurde ein OTFT in gleicher Verfahrensweise, wie zuvor
hergestellt, jedoch unter Verzicht auf die erfindungsgemäße kolloidale
Suspension mit den Nanopartikeln und stattdessen Einsatz einer gleich verdünnten
Lösung des organischen Halbleiters im Suspensionsmittel Toluol.
Die untersuchten Längen-Breiten-Verhältnisse des aktiven
Kanals ergeben sich durch die Struktur und Anordnung der Source- und Drain-Elektroden.
Es wurden unterschiedliche Längen-Breiten-Verhältnisse untersucht, um
zu zeigen, dass diese keinen signifikanten Einfluss auf das Ergebnis haben.
Die elektrische Charakterisierung der organischen Dünnschichttransistoren
erfolgte mittels Halbleiterfester Keithley 4200 und lieferte die benötigten
Transistorparameter, insbesondere die Ladungsträgerbeweglichkeit der einzelnen
OTFTs.
Es wurden Standardabweichungen &sgr; wie folgt ermittelt:
1. Ermittlung der Ladungsträgerbeweglichkeit mehrerer baugleicher organischer
Transistoren
2. Berechnung der Standardabweichungen der Ladungsträgerbeweglichkeiten
mehrerer baugleicher organischer Transistoren ausgehend von der Grundgesamtheit
Die Werte der Standardabweichung &sgr; sind der nachfolgenden Tabelle
zu entnehmen:
Wie ersichtlich, ist die Standardabweichung &sgr; der Ladungsträgermobilität
in den erfindungsgemäßen Halbleiterschichten deutlich verringert.
Die mikroskopischen Darstellungen der 2
und 3 belegen zusätzlich diesen Effekt;
2 verdeutlicht den inhomogenen Aufbau der OSC-Schicht
mit Domänen unterschiedlicher Kristallgröße im Randbereich der Halbleiterschicht
und im mittleren Bereich der Halbleiterschicht. 3 zeigt
die homogene Verteilung der Domäne in einem top gate OTFT, wenn die organische
Halbleiterschicht in Gegenwart der Nanopartikel hergestellt wird.
Anspruch[de]
Homogen-kristalline organische Halbleiterschicht (OSC Schicht) enthaltend
oder bestehend aus
(i) 30-200 Gewichtsteilen eines organischen Halbleiters (OSC); und
(ii) 1-5 Gewichtsteilen an Nanopartikeln, die elektrisch nicht leitend und gegenüber
dem OSC inert sind.Homogen-kristalline OSC Schicht nach Anspruch 1, bei der die Nanopartikel
aus einem oder mehreren der Materialien ausgewählt aus der Gruppe SiO2,
SnO2, TiO2, ZrO2, Glas, Al2O3,
MgO, CaF2 und BaF2 bestehen.Homogen-kristalline OSC Schicht nach Anspruch 2, bei der die Nanopartikel
aus einem oder mehreren der Materialien ausgewählt aus der Gruppe SiO2,
Glas, Al2O3, MgO, CaF2 und BaF2 bestehen.Homogen-kristalline OSC Schicht nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
bei der die Nanopartikel eine durchschnittliche Teilchengröße im Bereich
von 3 bis 100 nm aufweisen.Homogen-kristalline OSC Schicht nach Anspruch 4, bei der die Nanopartikel
eine durchschnittliche Teilchengröße im Bereich von 5 bis 20 nm aufweisen.Homogen-kristalline OSC Schicht nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
bei der die Nanopartikel monodispers vorliegen.Homogen-kristalline OSC Schicht nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
enthaltend oder bestehend aus
(i) 60-100 Gewichtsteilen des organischen Halbleiters (OSC); und
(ii) 1-3 Gewichtsteilen an Nanopartikel.Kolloidale Suspension zur Herstellung einer homogen-kristallinen organischen
Halbleiterschicht (OSC Schicht) enthaltend in einem Suspensionsmittel
(i) 30-200 Gewichtsteile eines organischen Halbleiters (OSC); und
(ii) 1-5 Gewichtsteile an Nanopartikeln, die elektrisch nicht leitend und gegenüber
dem OSC inert sind.Kolloidale Suspension nach Anspruch 8, bei der das Suspensionsmittel
ein organisches Lösungsmittel ist.Kolloidale Suspension nach Anspruch 9, bei der das Suspensionsmittel
Toluol ist.Kolloidale Suspension nach einem der Ansprüche 8 bis 10, bei der
das Suspensionsmittel 0,1 bis 5 Gew.% an organischen Halbleitern (OSC) enthält.Verfahren zur Herstellung einer homogen-kristallinen organischen Halbleiterschicht
(OSC Schicht) auf einem Substrat umfassend die Schritte:
(i) Bereitstellen einer kolloidalen Suspension nach einem der Ansprüche 8 bis
11;
(ii) Aufbringen der kolloidalen Suspension auf dem Substrat; und
(iii) Entfernen des Suspensionsmittels.Organischer Dünnfilmtransistor (OTFT) enthaltend eine homogen-kristalline
organische Halbleiterschicht (OSC Schicht) nach einem der Ansprüche 1 bis 7.