Die Erfindung betrifft ein Scanmikroskop mit einem Laser, der einen
Lichtstrahl einer ersten Wellenlänge emittiert, der auf ein optisches Element
gerichtet ist, das die Wellenlänge des Lichtstrahles zumindest zum Teil verändert.
In der Scanmikroskopie wird eine Probe mit einem Lichtstrahl abgerastert.
Hierzu werden oft Laser als Lichtquelle eingesetzt. Aus der EP
0 495 930: „Konfokales Mikroskopsystem für Mehrfarbenfluoreszenz"
ist beispielsweise eine Anordnung mit einem einzelnen mehrere Laserlinien emittierenden
Laser bekannt. Derzeit werden hierfür meist Mischgaslaser, insbesondere ArKr-Laser,
eingesetzt.
Als Probe werden beispielsweise mit Fluoreszenzfarbstoffen präparierte,
biologische Gewebe oder Schnitte untersucht. Im Bereich der Materialuntersuchung
wird oft das von der Probe reflektierte Beleuchtungslicht detektiert.
Auch Festkörperlaser und Farbstofflaser, sowie Faserlaser und
Optisch-Parametrische-Oszillatoren (OPO), denen ein Pumplaser vorgeordnet ist, werden
verwendet.
Aus der Offenlegungsschrift DE
198 53 669 A1 ist eine Ultrakurzpulsquelle mit steuerbarer Mehrfachwellenlängenausgabe
offenbart, die insbesondere in einem Multiphotonenmikroskop Anwendung findet. Das
System weist einen Ultrakurzimpulslaser zur Erzeugung ultrakurzer optischer Impulse
einer festen Wellenlänge und zumindest einen Wellenlängenumwandlungskanal
auf.
Aus der Patentschrift US 6,097,870
ist eine Anordnung zur Generierung eines Breitbandspektrums im sichtbaren Spektralbereich
bekannt. Die Anordnung basiert auf einer mikrostrukturierten Faser, in die das Licht
eines Pumplasers eingekoppelt wird. Die Wellenlänge des Pumplichtes wird in
der mikrostrukturierten Faser derart verändert, dass das resultierende Spektrum
sowohl Wellenlängen oberhalb-, als auch Wellenlängen unterhalb der Wellenlänge
des Pumplichtes aufweist.
Als mikrostrukturiertes Material findet auch sog. Photonic-band-gap-Material
oder "photon crystal fibres", „holey fibers" oder „microstructured
fibers" Verwendung. Es sind auch Ausgestaltungen als sog. "Hollow fiber" bekannt.
Festkörperlaser, wie beispielsweise die häufig in der Scanmikroskopie
eingesetzten Ti:Saphir-Laser, weisen meist einen gefalteten Resonator in x- oder
z-Geometrie auf, der aus zwei Endspiegeln und zwei Faltspiegeln gebildet ist. Das
Licht eines Pumplasers wird hierbei durch einen der Faltspiegel, die für Licht
der Wellenlänge des Pumplichtes transparent sind, longitudinal in der Resonator
eingekoppelt. Dieses konvertiert im optisch aktiven Medium (im Beispiel Ti:Saphir)
zu einer anderen Wellenlänge und verlässt den Resonator als Ausgangslicht
durch einen der Endspiegel, der für das Ausgangslicht teildurchlässig
ausgebildet ist. Da die Resonatorspiegel für die Wellenlänge des Pumplichtes
nicht vollständig transparent sind, enthält das Ausgangslicht zu kleinen
Bruchteilen noch Licht der Wellenlänge des Pumplichtes. Dies ist ganz besonders
in der Mehrfarbfluoreszenzmikroskopie störend, da die Probe nicht ausschließlich
mit Licht der gewünschten Wellenlänge, sondern auch mit Licht der Wellenlänge
des Pumplichtes beleuchtet und angeregt wird. Dies verursacht unerwünschtes
Fluoreszenzleuchten, Artefakte und führt letztlich, da auch Anteile des Pumplichtes
durch Reflexion und Streuung zum Detektor gelangen, zu falschen Untersuchungsergebnissen.
Alle genannten Anordnungen zur Wellenlängenveränderung weisen
diesen Nachteil auf.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde ein Scanmikroskop zu schaffen,
das die aufgezeigten Probleme löst.
Die objektive Aufgabe wird durch eine Anordnung gelöst, die die
Merkmale des kennzeichnenden Teils des Patentanspruchs 1 beinhaltet.
Die Erfindung hat den Vorteil, dass die unerwünschte Beleuchtung
der Probe mit Licht der ersten Wellenlänge vermieden ist.
In einer einfachen Ausgestaltung ist zur Unterdrückung des Lichtes
der ersten Wellenlänge ein Filter vorgesehen. Dieser ist vorzugsweise als dielektrischer
Kantenfilter oder als Farbglasfilter ausgebildet. Insbesondere bei der Verwendung
von mikrostrukturiertem Material, wie Photonic-Band-Gap-Material, zur Veränderung
der Wellenlänge in der Art, dass ein breites Spektrum entsteht, ist es von
Vorteil, den Filter, beispielsweise durch entsprechende Beschichtung, derart auszugestalten,
dass die erste Wellenlänge nicht vollständig unterdrückt wird, sondern
innerhalb des in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahles dieselbe Leistung
aufweist, wie die übrigen Komponenten gleicher spektraler Breite.
Das Mittel zur Unterdrückung des Lichtes der ersten Wellenlänge
beinhaltet in einer anderen Ausgestaltungsform ein Prisma oder ein Gitter zur räumlich
spektralen Auffächern, dem eine Blendenanordnung nachgeschaltet ist, die nur
Licht der gewünschten Beleuchtungswellenlänge passieren lässt und
Licht, das die erste Wellenlänge aufweist, blockiert.
Das Mittel zur Unterdrückung ist an beliebigen
Stellen innerhalb des Strahlenganges des Scanmikroskops anbringbar. Es ist von besonderem
Vorteil, die Mittel zur Unterdrückung direkt hinter dem optischen Element anzuordnen,
um eine Aufstreuung und Reflexion der Anteile des Lichtes der ersten Wellenlänge
an anderen optischen Bauteilen zu vermeiden, da diese hierdurch zum Detektor gelangen
können,
Das optische Element ist in einer bevorzugten Ausgestaltung des Scanmikroskops
aus einer Vielzahl von mikrooptischen Strukturelementen aufgebaut, die zumindest
zwei unterschiedliche optische Dichten aufweisen.
Ganz besonders bevorzugt ist eine Ausgestaltung, bei der das optische
Element einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich beinhaltet, wobei der erste
Bereich eine homogene Struktur aufweist und in dem zweiten Bereich eine mikroskopische
Struktur aus mikrooptischen Strukturelementen gebildet ist. Von Vorteil ist es außerdem,
wenn der erste Bereich den zweiten Bereich umschließt. Die mikrooptischen Strukturelemente
sind vorzugsweise Kanülen, Stege, Waben, Röhren oder Hohlräume.
Das optische Element besteht in einer anderen Ausgestaltung aus nebeneinander
angeordnetem Glas- oder Kunststoffmaterial und Hohlräumen und ist als Lichtleitfaser
ausgestaltet.
Eine ganz besonders bevorzugte und einfach zu realisierende Ausführungsvariante
beinhaltet als optisches Element eine herkömmliche Lichtleitfaser mit einem
Faserkern, die zumindest entlang eines Teilstücks eine Verjüngung aufweist.
Lichtleitfasern dieser Art sind als sog. „tapered fibers" bekannt. Vorzugsweise
ist die Lichtleitfaser insgesamt 1 m lang und weist eine Verjüngung auf einer
Länge von 30 mm bis 90 mm auf. Der Durchmesser der Faser beträgt in einer
bevorzugten Ausgestaltung 150 &mgr;m außerhalb des Bereich der Verjüngung
und der des Faserkerns in diesem Bereich ca. 8 &mgr;m. Im Bereich der Verjüngung
ist der Durchmesser der Faser auf ca. 2 &mgr;m reduziert. Der Faserkerndurchmesser
liegt entsprechend im Nanometerbereich.
Das optische Element ist in einer anderen Ausführungsform ein
weiterer Laser. Dieser kann als Festkörper-, Gas oder Farbstofflaser oder als
Optisch-Parametrischer-Oszillator (OPO) ausgeführt sein.
In einer besonderen Ausführungsvariante beinhaltet das optische
Element einen Kristall zur Frequenzvervielfachung, wie zum Beispiel KDP-Kristalle
oder LBO-Kristalle.
Eine weitere Ausgestaltungsform beinhaltet ein weiteres optische Element,
das dem optischen Element nachgeordnet ist und das die Wellenlänge des in der
Wellenlänge veränderten Lichtstrahles erneut verändert. Bei dieser
Ausführungsform ist es von besonderem Vorteil, sowohl das Lichtes der ersten
Wellenlänge, als auch das primär in der Wellenlänge veränderte
Licht zu unterdrücken. Im Konkreten beinhaltet eine solche Ausgestaltungsform
beispielsweise eine Hintereinanderanordnung von einem Argon-Ionen-Laser, einem Farbstofflaser
und einem Kristall zur Frequenzverdopplung. Ganz besonders Vorteilhaft ist eine
Hintereinanderschaltung von einem Argon-Ionenlaser, einem Ti:Saphir-Laser und einer
als Lichtleitfaser ausgestalteten mikrooptischen Struktur aus Photonic-Band-Gap-Material.
Das Scanmikroskop kann als Konfokalmikroskop ausgestaltet sein.
In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt
und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben. Dabei zeigen:
1 eine erfindungsgemäßes konfokales Scanmikroskop,
2 einen Teil des Beleuchtungsstrahlenganges eines Scanmikroskops,
3 einen Teil des Beleuchtungsstrahlenganges eines anderen
Scanmikroskops und
4 einen Teil des Beleuchtungsstrahlenganges eines weiteren
Scanmikroskops
5 eine Ausführungsform der Lichtleitfaser aus
Photonic-Band-Gap-Material
1 zeigt ein konfokales Scanmikroskop 1, das
einen Laser 2 zur Erzeugung eines Lichtstrahles 5 einer ersten
Wellenlänge von 800 nm beinhaltet. Der Laser ist als modengekoppelter Titatn-Saphir-Laser
3 ausgeführt. Der Lichtstrahl 5 wird mit einer Einkoppeloptik
7 in das Ende eines optischen Elements 9 zur Wellenlängenveränderung
fokussiert, das als Lichtleitfaser aus Photonic-Band-Gap-Material 11 ausgebildet
ist. Zum Kollimieren des aus der Lichtleitfaser aus Photonic-Band-Gap-Material
11 austretenden, in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahles
15, ist eine Auskoppeloptik 13 vorgesehen. Das Spektrum des in
der Wellenlänge veränderten Lichtstrahles ist über den Wellenlängenbereich
von 300 nm bis 1600 nm nahezu kontinuierlich, wobei die Lichtleistung über
das gesamte Spektrum weitgehend konstant ist; lediglich im Bereich der ersten Wellenlänge
von 800 nm ist eine drastische Leistungsüberhöhung zu verzeichnen. Der
in der Wellenlänge veränderte Lichtstrahl 15 durchläuft
als Mittel zur Unterdrückung 16 einen dielektrischen Filter
17, der in dem in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahl
15 die Leistung des Lichtanteiles im Bereich der ersten Wellenlänge auf
das Niveau der übrigen Wellenlängen des in der Wellenlänge veränderten
Lichtstrahles reduziert. Anschließend wird der in der Wellenlänge veränderte
Lichtstrahl mit der Optik 19 auf eine Beleuchtungsblende 21 fokussiert
und gelangt über den Hauptstrahlteiler 23 zum Scanspiegel
25, der den in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahl
15 durch die Scanoptik 27, die Tubusoptik 29 und das
Objektiv 31 hindurch über die Probe 33 führt. Das von
der Probe 33 ausgehende Detektionslicht 35, das in der Zeichnung
gestrichelt dargestellt ist, gelangt durch das Objektiv 31, die Tubusoptik
29 und die Scanoptik 27 hindurch zurück zum Scanspiegel
25 und dann zum Hauptstrahlteiler 23, passiert diesen und wird
nach Durchlaufen der Detektionsblende 37 mit dem Detektor 39,
der als Photomultiplier ausgeführt ist, detektiert.
2 zeigt den Teil des Beleuchtungsstrahlenganges eines
Scanmikroskops bis zum Hauptstrahlteiler 23. In diesem Ausführungsbeispiel
erzeugt ein Laser 2, der als Argon-Ionen-Laser 41 ausgestaltet
ist, einen Lichtstrahl 43 einer ersten Wellenlänge von 514 nm, der
auf einen Titan-Saphir-Laser 45, der als optisches Element 9 zur
Wellenlängenveränderung dient, gerichtet ist. Der vom Titan-Saphir-Laser
45 ausgehende, in der Wellenlänge veränderte Lichtstrahl
47, weist eine Wellenlänge von ca. 830 nm auf und trifft nachfolgend
auf das Mittel zur Unterdrückung 16 der ersten Wellenlänge, das
als Farbfilter 49 ausgeführt ist und die Anteile der ersten Wellenlänge
nahezu gänzlich herausfiltert, so dass der in der Wellenlänge veränderte
Lichtstrahl im Wesentlichen nur aus Licht von 830 nm Wellenlänge besteht.
3 zeigt den Teil des Beleuchtungsstrahlenganges eines
weiteren Scanmikroskops bis zum Hauptstrahlteiler 23. In diesem Ausführungsbeispiel
erzeugt ein Laser 2, der als Nd-YAG-Laser 51 ausgestaltet ist,
einen Lichtstrahl 53 einer ersten Wellenlänge von 1064 nm, der auf
einen, der als optisches Element 9 zur Wellenlängenveränderung
dient, gerichtet ist. Der vom Optisch-Parametrischen-Oszillator 55 ausgehende,
in der Wellenlänge veränderte Lichtstrahl 57, beinhaltet neben
dem Licht der gewünschten Signal-Wellenlange, Licht der Idler-Wellenlänge
und Licht der ersten Wellenlänge; er wird mit Hilfe eines Prismas
59, als Mittel zur räumlich spektralen Aufspaltung 60, aufgefächert
und trifft anschließend auf eine Blendenanordnung 61, deren Blendenbacken
63, 65 derart positioniert sind, dass das Licht der Idler-Wellenlänge
und Licht der ersten Wellenlänge blockiert wird, so dass der die Blendenanordnung
61 passierende Lichtstrahl im Wesentlichen nur Licht der Signalwellenlänge
beinhaltet.
4 zeigt den Teil des Beleuchtungsstrahlenganges eines
anderen Scanmikroskops bis zum Hauptstrahlteiler 23, der in weiten Teilen
dem in 3 gezeigten Aufbau entspricht. Als Mittel zur
räumlich spektralen Aufspaltung 60 ist hier jedoch ein Gitter
67 eingesetzt.
5 zeigt eine Ausführungsform der Lichtleitfaser
aus Photonic-Band-Gap-Material, die eine besondere wabenförmige Mikrostruktur
69 aufweist. Die gezeigte Wabenstruktur ist für die Generierung von
breitbandigem Licht besonders geeignet. Der Durchmesser der Glasinnenkanüle
71 beträgt ca. 1,9 &mgr;m. Die innere Kanüle 71 ist
von Glasstegen 73 umgeben. Die Glasstege 73 formen wabenförmige
Hohlräume 75. Diese mikrooptischen Strukturelemente bilden gemeinsam
einen zweiten Bereich 77, der von einem ersten Bereich 79, der
als Glasmantel ausgeführt ist, umgeben ist.
Die Erfindung wurde in Bezug auf eine besondere Ausführungsform
beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und Abwandlungen
durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden
Ansprüche zu verlassen.
- 1
- Scanmikroskop
- 2
- Laser
- 3
- Titan-Saphir-Laser
- 5
- Lichtstrahl
- 7
- Einkoppeloptik
- 9
- optisches Element
- 11
- Lichtleitfaser aus Photonic-Band-Gap-Material
- 13
- Auskoppeloptik
- 15
- in der Wellenlänge veränderter Lichtstrahl
- 16
- Mittel zur Unterdrückung
- 17
- dielektrischer Filter
- 19
- Optik
- 21
- Beleuchtungsblende
- 23
- Hauptstrahlteiler
- 25
- Scanspiegel
- 27
- Scanoptik
- 29
- Tubusoptik
- 31
- Objektiv
- 33
- Probe
- 35
- Detektionslicht
- 37
- Detektionsblende
- 39
- Detektor
- 41
- Argon-Ionen-Laser
- 43
- Lichtstrahl
- 45
- Titan-Saphir-Laser
- 47
- in der Wellenlänge veränderter Lichtstrahl
- 49
- Farbfilter
- 51
- Nd-YAG-Laser
- 53
- Lichtstrahl einer ersten Wellenlänge
- 55
- Optisch-Parametrischen-Oszillator
- 57
- in der Wellenlänge veränderter Lichtstrahl
- 59
- Prisma
- 60
- Mittel zur räumlich spektralen Aufspaltung
- 61
- Blendenanordnung
- 63
- Blende
- 65
- Blende
- 67
- Gitter
- 69
- Mikrostruktur
- 71
- Kanüle
- 73
- Steg
- 75
- Hohlraum
- 77
- zweiter Bereich
- 79
- erster Bereich