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No Patent No Titel
1 DE102006013773A1 Mikroskopsystem sowie Verfahren zur berührungslosen Schwingungsmessung einer Probe
2 DE102006023887B3 Anordnung und Verfahren zur konfokalen Durchlicht-Mikroskopie, insbesondere auch zur Vermessung von bewegten Phasenobjekten
3 DE10055176B4 Anordnung zur visuellen und quantitativen 3-D-Untersuchung von Proben
4 DE10065783B4 Verfahren, Anordnung und System zur Ermittlung von Prozessgrößen
5 DE202006004021U1 Vorrichtung zur Bestimmung von Jahrringbreiten
6 DE20221476U1 Optisches Präzisionsmessgerät
7 DE102004022341A1 Vorrichtung und Verfahren zur kombinierten interferometrischen und abbildungsbasierten Geometrieerfassung insbesondere in der Mikrosystemtechnik
8 DE69825657T2 Optische Sonde, Herstellungsverfahren einer optischen Sonde und Rastersondenmikroskop
9 DE10296461T5 Vorrichtung und Verfahren zum Isolieren und Messen einer Bewegung in einer messtechnischen Vorrichtung
10 DE10296462T5 Vorrichtung und Verfahren zum Isolieren und Messen einer Bewegung in einer Messtechnischen Vorrichtung
11 DE10134549C2 Messmikroskop
12 DE10241290A1 Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung eines Objektes
13 DE10134549A1 Messmikroskop
14 DE10065783A1 Verfahren, Anordnung und System zur Ermittlung von Prozessgrößen
15 DE10055176A1 Anordnung zur visuellen und quantitativen 3-D-Untersuchung von Proben
16 DE10036227A1 Mikroskop und Verfahren zur quantitativen optischen Messung der Topographie einer Oberfläche
17 DE10005852C2 Verfahren zur Herstellung von Höhenbildern technischer Oberflächen in mikroskopischer Auflösung
18 DE10005852A1 Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Höhenbildern technischer Oberflächen in mikroskopischer Auflösung
19 DE19757567C2 Einrichtung zur Verstellung des Meßtisches an einem Meßmikroskop
20 DE19757567A1 Einrichtung zur Verstellung des Meßtisches an einem Meßmikroskop
21 DE19647510A1 Mikromeßsystem zum optischen Messen kleiner und kleinster Strukturen
22 DE19626261A1 Beobachtungsvorrichtung
23 DE29520929U1 Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop
24 DE19500355A1 Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop
25 DE68921008T2 PHOTONENABTASTTUNNELEFFEKTMIKROSKOP.
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