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No Patent No Titel
1 DE102006022475A1 Verfahren zum Ausgleichen einer durch eine Temperaturänderung hervorgerufenen Positionsänderung einer Nadelkarte
2 DE112005002693T5 Prüfgerät für elektronische Bauelemente und Verfahren zur Erkennung schadhafter Klemmen
3 DE112005002437T5 Prüfvorrichtung
4 DE112005002859T5 Handhabungsgerät für elektronische Bauelemente, Sockelführung für Prüfkopf und Einsatz und Stössel für das Handhabungsgerät
5 DE60216380T2 GLIED-WECHSLER, VERFAHREN ZUR STEUERUNG DES GLIED-WECHSLERS, IC-UNTERSUCHUNGSVERFAHREN, IC-HANDHABUNGSVORRICHTUNG UND IC-UNTERSUCHUNGSVORRICHTUNG
6 DE69835752T2 PROFILIERUNGSSYSTEM MIT VERTEILTEM WIDERSTAND
7 DE69736566T2 GERÄT UND VERFAHREN ZUR PRÜFUNG VON GEKAPSELTEN SCHALTUNGEN
8 DE602004004977T2 Konduktanz-spannungs-basierende Methode zur Leckstrombestimmung in Dielektrika
9 DE112005002231T5 Vorrichtung zur Messung einer inversen Charakteristik, Vorrichtung zur Kompensation der Verzerrung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium
10 DE102006057419A1 Verfahren und Apparatur zum Messen von FET-Eigenschaften
11 DE112005001751T5 Prüfgerät für elektronische Bauelemente und Verfahren zur Konfiguration des Prüfgerätes
12 DE112005001303T5 Verfahren zum Überwachen einer Einbrennvorrichtung
13 DE112005001249T5 Quellenstrom-Messvorrichtung und Prüfvorrichtung
14 DE102005046814A1 Vorrichtung zum Temperieren und Prüfen elektronischer und/oder elektromechanischer Bauteile
15 DE112005000986T5 Gleichstrom-Prüfvorrichtung
16 DE102005038948A1 Vorrichtung zum Messen von Dickschichtwiderständen
17 DE102005003248A1 Verfahren zum Testen der Gate-Isolation eines integrierten Leistungstransistors und Bauelementanordnung mit einem integrierten Leistungstransistor
18 DE102005062405A1 Verfahren zum Messen der Charakteristiken von FETs
19 DE102004059643A1 Gateansteuerschaltung für einen Leistungstransistor mit isoliertem Gate
20 DE69829945T2 KONDENSATOR MIT EINER ELEKTRODE AUS EINEM SINTERKöRPER AUS TEILWEISE NITRIDIERTEM NIOBPULVER
21 DE69924604T2 VERFAHREN ZUR REGELUNG EINER IC-BEHANDLUNGSVORRICHTUNG UND REGELUNGSSYSTEM UNTER VERWENDUNG DESSELBEN
22 DE102004014389A1 Verfahren zum Testen von Zenerdioden
23 DE102004002707A1 Handler zum Testen von Halbleitervorrichtungen
24 DE69625020T2 VERFAHREN ZUM REINIGEN VON NADELKARTENPRÜFSPITZEN
25 DE69430725T2 Testen von Halbleiterbauelementen
26 DE69525437T2 Methode und Apparat zum automatischen Testen von Halbleiterdioden
27 DE69705857T2 SYSTEM ZUR MESSUNG DES GERÄTERAUSCHENS
28 DE69519056T2 Zuverlässigkeitstestverfahren für Halbleiternutanordnungen
29 DE69506274T2 BUS FÜR EMPFINDLICHE ANALOGE SIGNALE
30 DE69320103T2 Probenhaltermodul für Tests eines optischen Bauelementes
31 DE69318845T2 VERFAHREN ZUR VERKÜRZTEN ALTERUNGSPRÜFUNG VON HALBLEITERBAUSTEINEN
32 DE69316924T2 VERFAHREN UND GERÄT ZUR FESTSTELLUNG DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON HALBLEITERMATERIALIEN
33 DE69221400T2 Verfahren zum Bestimmen eines elektrischen Spektrums
34 DE69217827T2 Schnelle Prüfung von Feld-Effekt-Transistoren
35 DE69211202T2 Verfahren und Gerät zur Beurteilung eines kapazitiven Systems
36 DE69025158T2 Verfahren und Vorrichtung zum analogen Testen von Dünnfilmtransistor-Matrizen
37 DE69203252T2 Gesteuertes Burn-in-System für Halbleiterbauelemente.
38 DE69020420T2 Verfahren und Anordnung zur beschleunigten Bestimmung der Alterung von einem oder mehreren Elementen mit einem elektromagnetischen Alterungsparameter.
39 DE69020442T2 Verfahren zum Einbrennen in weniger als einer Minute.
40 DE69019309T2 Apparat zur Beurteilung von Halbleiterplättchen.
41 DE68919716T2 Verfahren für nichtinvasive Charakterisierung von Halbleitern.
42 DE69013459T2 Messverfahren für die Gleichstrom/Gleichspannungs-Charakteristik von Halbleiterbauteilen.
43 DE69104278T2 Verfahren zur Messung des nichtlinearen Brechungsindex-Koeffizienten eines optischen Bauteils mit bistabilem Hohlraumresonator.
44 DE69103787T2 Verfahren zum Sortieren von variablen Kapazitätsdioden.
45 DE68914733T2 Anordnung zum Charakterisieren von Halbleitern durch Hoch-Resolution-Elektro-Lumineszenz bei niedriger Temperatur.
46 DE69101386T2 Strommess-Schaltung in einem MOS-Leistungstransistor.
47 DE68912982T2 Verfahren und Anordnung zum Testen mehrfacher Speiseverbindungen einer integrierten Schaltung auf einer Printplatte.
48 DE69005820T2 Testkammern.
49 DE68909456T2 Befestigungsanordnung für das Messen der statischen Charakteristika von aktiven Mikrowellenkomponenten mit 3 Anschlüssen.
50 DE68909282T2 Methode und Apparat zur Lebensdauermessung in P-N-Halbleiterübergängen mittels des photovoltaischen Effektes.
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