PatentDe  


No Patent No Titel
1 EP1831707 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM KONTAKTLOSEN PRÜFEN VON RFID-SCHLAUFEN
2 DE10240143B4 Prüfung und Detektion potentialführender Teile und Leiterzüge mittels eines Foliensensors auf der Basis von Streukapazitätsmessungen
3 DE69533775T2 KAPAZITIVER KONTINUITÄTSTEST MIT VERBESSERTER SCHWELLENWERTBESTIMMUNG
4 DE69532626T2 Prüfverfahren zur Bestimmung der Polarität von in elektronischen Anordnungen montierten Elektrolytkondensatoren
5 EP0775318 KAPAZITIVER KONTINUITÄTSTEST MIT VERBESSERTER SCHWELLENWERTBESTIMMUNG
6 EP1393090 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR KAPAZITIVEN KONTAKTLOSEN TESTUNG INTEGRIERTER SCHALTUNGEN
7 EP0722091 Prüfverfahren zur Bestimmung der Polarität von in elektronischen Anordnungen montierten Elektrolytkondensatoren
8 DE10240143A1 Prüfung und Detektion potentialführender Teile und Leiterzüge mittels eines Foliensensors auf der Basis von Streukapazitätsmessungen
9 DE69431844T2 TESTGERÄT FÜR GEDRUCKTE SCHALTUNGEN
10 DE69810681T2 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
11 DE10204125A1 Verfahren zur Programmierung und/oder Funktionsprüfung von einer elektronischen Schaltung
12 DE69809313T2 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
13 EP0862061 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
14 EP0719418 TESTGERÄT FÜR GEDRUCKTE SCHALTUNGEN
15 EP0862062 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
16 DE69327937T2 Kapazitätselektrodenvorrichtung zur Untersuchung von unterbrochenen Lötstellen in Leiterplattenbaugruppen
17 EP0599544 Kapazitätselektrodenvorrichtung zur Untersuchung von unterbrochenen Lötstellen in Leiterplattenbaugruppen
18 DE19742055C2 Vorrichtung zum Testen von Schaltungsplatinen
19 DE69130820T2 Verfahren und Vorrichtung zum Messen elektrischer Eigenschaften von Halbleiterscheiben
20 EP0596584 Einrichtung zur Störungserfassung
21 DE19742055A1 Vorrichtung zum Testen von Schaltungsplatinen
22 EP0477795 Verfahren und Vorrichtung zum Messen elektrischer Eigenschaften von Halbleiterscheiben
23 DE69128189T2 Identifizierung von nichtverbundenen Anschlussstiften durch kapazitive Kopplung durch das Gehäuse der integrierten Schaltung
24 EP0492806 Identifizierung von nichtverbundenen Anschlussstiften durch kapazitive Kopplung durch das Gehäuse der integrierten Schaltung
25 EP0653642 Vorrichtung zur Messung der Unversehrtheit eines elektrischen Kontakts.
26 EP0633478 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Leiterplatten.
27 EP0573159 Identifizierung nichtverbundener Anschlusstifte mittels kapazitiver Kopplung durch das Gehäuse der integrierten Schaltung.
1

IPC
A Täglicher Lebensbedarf
B Arbeitsverfahren; Transportieren
C Chemie; Hüttenwesen
D Textilien; Papier
E Bauwesen; Erdbohren; Bergbau
F Maschinenbau; Beleuchtung; Heizung; Waffen; Sprengen
G Physik
H Elektrotechnik

Anmelder
Datum

Patentrecherche

Copyright © 2008 Patent-De Alle Rechte vorbehalten. eMail: info@patent-de.com