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No Patent No Titel
1 EP0571179 Verfahren und Gerät zur Verbindungsprüfung eines elektronischen Geräts
2 EP0562886 Verfahren und Gerät zur Prüfsequenzgenerierung
3 DE69330479T2 Netzwerk mit eingebautem Selbsttest
4 EP0891559 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERZEUGUNG EINER PROGRAMMIERBAREN VERZÖGERUNG
5 EP0628832 Integrierte Schaltung mit Registerstufen
6 EP0570067 Steuerungseinrichtung zur Schnittstellensteuerung zwischen einer Testmaschine und einer elektronischen Mehrkanalschaltung, insbesondere nach dem "Boundary Test Standard"
7 EP0568239 Netzwerk mit eingebautem Selbsttest
8 EP0628831 Bidirektionale-Boundary-Scan-Testzelle
9 EP0636896 Einheit mit Schnittstellenabtastung.
10 EP0632282 Halbleiter-Integrierte-Schaltungsgerät mit Prüfmodusumschaltfunktion.
11 DE4305442A1 Vorrichtung zum Testen eines elektronischen Gerätes
12 DE4305288A1 Selbsttestverfahren für nicht-reguläre CMOS-Schaltstrukturen mit hoher Defekterfassung
13 DE4223881C2 Bidirektionale digitale Treiberstufe mit zur Implementierung einer taktgesteuerten Schieberegisterprüfarchitektur (Boundary Scan) dienenden Schieberegisterzellen
14 DE4221748C2 Bypass-Abtastpfad und integrierte Schaltkreiseinrichtung mit mindestens einem solchen Bypass-Abtastpfad
15 DE9401892U1 Schaltungsanordnung zum modularen Testen
16 DE4225204C2 Schieberegisterzelle einer Prüfschaltung zur Implementierung einer taktgesteuerten Schieberegisterprüfarchitektur(Boundary-Scan)
17 DE4221435C2 Elektronischer Baustein mit einer taktgesteuerten Schieberegisterprüfarchitektur (Boundary-Scan)
18 EP0589223 Elektronischer Baustein mit einer Schieberegisterprüfarchitektur (Boundary-Scan).
19 DE4232271C1 Elektronischer Baustein mit einer Schieberegisterprüfarchitektur (Boundary-Scan)
20 DE69003891T2 Testvorrichtung für gedruckte Schaltungskarten und ihre Anwendung für das Testen von gedruckten Schaltungskarten, in Form einer Multiplex-Demultiplexeinrichtung für numerische Signale.
21 EP0574026 Halbleiterintegrierte Logikschaltung mit Prüfmodus.
22 DE4221435A1 Elektronischer Baustein mit einer taktgesteuerten Schieberegisterprüfarchitektur (Boundary-Scan)
23 DE4225204A1 Schaltungsanordnung für eine Schieberegisterzelle einer Prüfschaltung zur Implementierung einer taktgesteuerten Schieberegisterprüfarchitektur (Boundary-Scan)
24 DE4221701A1 Verfahren und Meßanordnung zum Testen von wenigstens einer digitalen Schaltungsstruktur
25 DE4223881A1 Bidirektionale digitale Treiberstufe mit zur Implementierung einer taktgesteuerten Schieberegisterprüfarchitektur (Boundary Scan) dienenden Schieberegisterzellen
26 EP0566823 Verfahren zur Prüfgerätkalibrierung mit Einbeziehung der Haltevorrichtung.
27 EP0565866 Hochintegriertes Schaltungsgerät.
28 DE4306463A1 Digitales Datenerzeugungssystem mit programmierbarer Dominanz-Latcheinrichtung
29 DE3879007T2 Steuerkreis für Verarbeitungsimpulse.
30 DE3486064T2 Logische Schaltung mit eingebauter Selbsttestfunktion.
31 DE4221748A1 Bypass-Abtastpfad und integrierte Schaltkreiseinrichtung, die diesen Bypass-Abtastpfad benutzt
32 DE3686073T2 Logischer Schaltkreis.
33 DE4202623A1 Abtastpfadeinrichtung und eine integrierte Halbleiterschaltkreiseinrichtung mit dieser
34 DE4122415C1 In-Circuit-Testverfahren zum Prüfen von applikationsspezifisch programmierbaren Logikbausteinen
35 DE4042262A1 Verfahren zur Analyse der Funktionsweise von digitalen Schaltungen
36 DE4041959A1 Schaltungsanordnung zur Erkennung des Programmierzustandes von Durchbrennelementen
37 DE3913219C2 Integrierte Halbleiterschaltung mit mehreren Schaltungen, die logischen Tests unterworfen werden
38 DE4126767A1 Schnelle Zeitgeberschaltung
39 DE3838939C2 Schaltung mit Testfunktion
40 DE3911840C2 Testschaltung für logische Schaltungen
41 DE4018438A1 Prüfverfahren für eine Speichervorrichtung mit internen seriellen Datenwegen
42 DE3248418C2 Logikanalysator
43 DE9000825U1 Integrierter Schaltkreis
44 DE3237221C2 Logikanalysator
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