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No Patent No Titel
1 DE19949841B4 Einbrennrack-Testgerät und Verfahren zum Testen von Computersystemen
2 EP1687722 MONOLITHISCH INTEGRIERTE ANPASSSCHALTUNG
3 EP1499974 KONTROLLSEQUENZ UND PROGNOSTISCHE ÜBERWACHUNG FÜR DIGITALE SPANNUNGSWANDLUNG UND LASTVERTEILUNG
4 EP1403767 Verfahren und Vorrichtung zur dynamischen Veränderung der Prozessorleistung
5 DE69904644T2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR SCHNELLEN FEHLERERKENNUNG IN EINER INTEGRIERTEN SCHALTUNG
6 EP0889411 Integrierte Schaltung mit Phasenregelschleife und eingebautem Selbsttest von Phase und Phasenzittern
7 DE69717201T2 Verfahren zur Schätzung des Leistungsverbrauchs eines Mikroprozessors
8 EP0939372 Gerät zur Produktionskontrolle der dynamischen Eigenschaften von Komponenten mit serieller Übertragung
9 EP1129407 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR SCHNELLEN FEHLERERKENNUNG IN EINER INTEGRIERTEN SCHALTUNG
10 EP0820010 Verfahren zur Schätzung des Leistungsverbrauchs eines Mikroprozessors
11 DE69710842T2 Verfahren und Einrichtung zur Ruhestrombestimmung
12 DE69712236T2 Fehlerdiagnosevorrichtung für CMOS-integrierte Schaltungen und Diagnoseverfahren
13 DE69709826T2 Mehrere IDDQ Monitore auf einem Chip
14 EP0785513 Fehlerdiagnosevorrichtung für CMOS-integrierte Schaltungen und Diagnoseverfahren
15 EP0840227 Verfahren und Einrichtung zur Ruhestrombestimmung
16 EP0838760 Mehrere IDDQ Monitore auf einem Chip
17 DE68929258T2 Mikrorechner und Prüfverfahren
18 DE69426407T2 Integrierte Schaltung mit Stromüberwachungszellen zum Prüfen
19 DE69517759T2 Integrierte Halbleiterschaltung
20 EP0647905 Integrierte Schaltung mit Stromüberwachungszellen zum Prüfen
21 EP0704802 Mikrorechner und Prüfverfahren
22 EP0699998 Integrierte Halbleiterschaltung
23 EP1010079 VORRICHTUNG ZUR BESTÄTIGUNG DES STROMVERBRAUCHS EINER ELEKTRONISCHEN SCHALTUNG IN EINER PRÜFMASCHINE
24 DE69419589T2 Verfahren zum prüfgerechten Entwurf von CMOS und BICMOS IC's
25 EP0664512 Verfahren zum prüfgerechten Entwurf von CMOS und BICMOS IC's
26 EP0875833 Modular configurierbarer, auf einen ganzen Chip anwendbarer Leistungsprofilgenerator
27 EP0856794 Verfahren und Einrichtung zur Durchführung einer Funktionsprüfung einer integrierten Schaltung
28 DE69128695T2 Verbesserung in mikroprozessorbetriebenen Systemen
29 EP0847553 SYSTEM ZUM TEST EINES IN EINEM STEUERGERÄT EINGEBAUTEN RECHNERS
30 DE69222803T2 Verfahren zur Messung der Wechselstromspezifikationen eines Mikroprozessors
31 DE69031551T2 Integrierte Halbleiterschaltung und Testmethode dafür
32 EP0486222 Verbesserung in mikroprozessorbetriebenen Systemen
33 EP0817056 Zündverfahren und -anordnung für elektrostatische Entladungsprüfung
34 EP0513826 Verfahren zur Messung der Wechselstromspezifikationen eines Mikroprozessors
35 EP0802484 Verfahren zur Metall-Verzögerungsprüfung in Halbleiteranordnungen
36 EP0408299 Integrierte Halbleiterschaltung und Testmethode dafür
37 DE69218636T2 Verfahren zum Testen von Frühausfällen in einer LSI integrierte Schaltung mit Mikroprogrammsteuerung
38 EP0496403 Verfahren zum Testen von Frühausfällen in einer LSI integrierte Schaltung mit Mikroprogrammsteuerung
39 EP0685087 SELBSTTESTVERFAHREN FÜR NICHT-REGULÄRE CMOS-SCHALTSTRUKTUREN MIT HOHER DEFEKTERFASSUNG
40 DE68923850T2 Verfahren und Gerät zur elektrostatischen Entladungsprüfung von Maschinen, die wiederholend ein gespeichertes Programm mit einer Mehrzahl von Programmschritten durchführen.
41 DE68924053T2 LSSD-Abfragepfad zur Berechnung der Wechselstrom-Chipsleistung.
42 EP0691612 Prüfungsschaltkreis eingebetteter Speichermatrizen in gemischter Logistik und Speicherchips
43 EP0671688 Konfiguration und Verfahren zur Prüfung einer Verzögerungsleitung in einen Mikrorechner-Taktgenerator.
44 EP0375919 LSSD-Abfragepfad zur Berechnung der Wechselstrom-Chipsleistung.
45 EP0371336 Verfahren und Gerät zur elektrostatischen Entladungsprüfung von Maschinen, die wiederholend ein gespeichertes Programm mit einer Mehrzahl von Programmschritten durchführen.
46 EP0642082 Burn-in prüfbarer, mikro-programmierter Mikrocomputer.
47 EP0610886 Mikrorechner für IC-Karte.
48 EP0411594 Schaltungsanordnung und Verfahren zur Funktionssicherheitsprüfung für integrierte Halbleiterspeicher.
49 DE3435355A1 Speicheranordnung mit Speicherzellen vom Floating-Gate-Typ
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