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No Patent No Titel
1 EP1870905 Verfahren und Vorrichtung zum elektrischen Programmieren von Halbleiterspeicherzellen
2 EP1869681 VERWENDUNG VON DATENSPERREN BEI DER MEHRPHASIGEN PROGRAMMIERUNG NICHT-FLÜCHTIGER SPEICHER
3 EP1711950 PROGRAMMIERUNG VON NICHTFLÜCHTIGEM SPEICHER
4 EP1864293 LÖSCHEN NICHTFLÜCHTIGER SPEICHER UNTER VERWENDUNG INDIVIDUELLER ÜBERPRÜFUNG UND ZUSÄTZLICHEN LÖSCHENS VON UNTERGRUPPEN VON SPEICHERZELLEN
5 EP1864294 SOFTPROGRAMMIERUNG NICHTFLÜCHTIGER SPEICHER UNTER VERWENDUNG INDIVIDUELLER ÜBERPRÜFUNG UND ZUSÄTZLICHER SOFTPROGRAMMIERUNG VON UNTERGRUPPEN VON SPEICHERZELLEN
6 DE102006044853A1 Speichereinrichtung und Verfahren, um Information in Speicherzellen zu verifizieren
7 EP1864295 NICHTFLÜCHTIGER SPEICHER UND VERFAHREN MIT STEUERGATE-KOMPENSATION FÜR SOURCELEITUNGSFEHLER
8 EP1317756 KOMPRIMIERTES EREIGNISZÄHLVERFAHREN UND SEINE ANWENDUNG AN EINEM FLASH-SPEICHERSYSTEM
9 EP1559112 AUFRECHTERHALTUNG GLEICHFÖRMIGER LÖSCHHÄUFIGKEIT IN EINEM NICHTFLÜCHTIGEN SPEICHERSYSTEM
10 DE102006036070A1 Ladungsfallenspeichervorrichtung und Verfahren für deren Herstellung und Betrieb
11 DE10044505B4 Steuergerät zur Speicherung von Steuerdaten in einem nichtflüchtigen Speicher
12 DE602004005211T2 DETEKTIEREN VON ÜBERPROGRAMMIERTER SPEICHERZELLEN NACH EINER PROGRAMMIERUNG BENACHBARTER SPEICHERZELLEN
13 DE60126383T2 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung
14 DE102006020180B3 Verfahren zum Programmieren eines Blocks von Speicherzellen, nicht-flüchtiger Speicher und Speicherkarte
15 EP1482516 Abnutzungsausgleich in einem nicht flüchtigen Flash-Speicher ohne die Notwendigkeit freier Blöcke
16 EP1556868 AUTOMATISCHER ABNUTZUNGSAUSGLEICH IN EINEM NICHT-FLÜCHTIGEN SPEICHERSYSTEM
17 DE10239487B4 Nichtflüchtiges Halbleiterspeicherbauelement
18 EP1341185 Verfahren zur Reudzierung der Programmier- und Lese-Störungen eines nicht-flüchtigen Speichers
19 EP1812932 SCHNELLES PROGRAMMIERSYSTEM MIT VERRINGERTER ÜBERPROGRAMMIERUNG
20 EP1807841 SPEICHERBAUSTEIN UND VERFAHREN ZUR BEREITSTELLUNG EINES AUF EINER MITTLEREN SCHWELLE BASIERENDEN AUFFRISCHMECHANISMUS
21 EP1592024 Betriebsverfahren mit ladungsausgleichendem Löschen für einen nichtflüchtigen Speicher mit Ladungshaftstellen
22 EP1233421 Verfahren zur Auffrischung der gespeicherten Daten in einem elektrisch lösch- und programmierbaren nichtflüchtigen Speicher
23 EP1798733 Process and device to verify execution of a memory write command
24 EP1788582 LÖSCHVERFAHREN FÜR NICHTFLÜCHTIGE SPEICHERUNG UND NICHTFLÜCHTIGE SPEICHERUNG
25 DE102006005077B3 Verfahren zum Betreiben einer Halbleiterspeicheranordnung und Halbleiterspeicheranordnung
26 EP1630820 Speicherzellenprogrammierverfahren mit Detektion von Transkonduktanzdegradierung
27 EP1772873 Verfahren zur Programmierung und Verifizierung von Zellen eines nicht-flüchtigen Speicher und ein entsprechender NAND Flash Speicher
28 EP1769509 ELEKTRONISCHES GERÄT MIT EINEM NICHT FLÜCHTIGEN BESCHREIBBAREN DATENSPEICHER
29 DE102006041968A1 Speicherelement und Verfahren zum Programmieren eines Speicherelements
30 EP1764805 Verfahren zur Verifizierung der blockweisen Löschung eines Speichers
31 EP1763039 Verfahren und Vorrichtung zum Schutz vor Überlöschen nichtflüchtiger Speicherzellen
32 EP1652191 DETEKTIEREN VON ÜBER-PROGRAMMIERTEN SPEICHERZELLEN NACH DEM PROGRAMMIEREN VON BENACHBARTEN SPEICHERZELLEN
33 EP1751773 LÖSCHUNGSVERIFIKATION FÜR NICHTFLÜCHTIGEN SPEICHER DURCH PRÜFEN DER LEITUNG DER SPEICHERELEMENTE IN EINER ERSTEN UND EINER ZWEITEN RICHTUNG
34 EP1182669 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung
35 DE102006036146A1 Verfahren zum Überprüfen einer Programmieroperation eines NOR-Flash-Speicherelements und NOR-Flash-Speicherelement
36 EP1738374 VARIABLE PROGRAMMIERUNG VON NICHT-FLÜCHTIGEM SPEICHER
37 DE60211987T2 Halbleiterspeichervorrichtung mit nichtflüchtigem Speicher, in den Daten zirkulär geschrieben werden
38 EP1732081 Verfahren zur Steuerung einen nichtflüchtigen Ladungshaftstellen-Speicheranordnungen und Verfahren zur Bestimmung der Programmier-/Löschparameter
39 EP1729306 NAND Flash Speicher mit komprimierter Verteilung der Schwellspannungen der Speicherzellen
40 EP1717817 Halbleiterspeicheranordnung mit Fähigkeit zur Informationsverlusterkennung
41 DE102005060386A1 Programmierverfahren einer Flash-Speichervorrichtung
42 EP1713085 Automatischer Abnutzungsausgleich in nichtflüchtigen Speichersystemen
43 DE102005023057A1 Nichtflüchtiger Speicher
44 EP1688959 Programmierverfahren für Speicheranordnung zur Minimierung der lateralen Kopplungseffekten zwischen Speicherzellen
45 EP1686592 Teil-Löschüberprüfung
46 EP1684308 Verfahren zur Verhinderung von Feststrukturprogrammierung
47 DE102005056493A1 Mehrbit nichtflüchtiges Halbleiterspeicherbauelement und Betriebsverfahren
48 EP1182667 System und Verfahren zum sicheren Hochtemperaturbetrieb eines Flash-Speichers
49 EP1677312 Nichtflüchtige Speicherzellen, Speicherarrays damit und Verfahren zum Betrieb der Zellen und Arrays
50 DE112004001862T5 Speicherbauelement und Verfahren zur Anwendung einer positiven Gatebelastung zur Wiederherstellung einer zu stark gelöschten Zelle
51 EP1671332 NICHTFLÜCHTIGER SPEICHER UND VERFAHREN MIT VON BITLEITUNG ZU BITLEITUNG GEKOPPELTER KOMPENSATION
52 EP1665284 NICHTFLÜCHTIGER SPEICHER UND VERFAHREN MIT VON BENACHBARTEN BETRIEBSARTEN ABHÄNGIGER BITLEITUNGSKOMPENSATION
53 EP1241677 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher mit zirkularem Einschreiben
54 DE102005020808B3 Nichtflüchtige Speichereinrichtung mit einer Programmier- und Löschkontrolle
55 EP1665285 VERFAHREN ZUM IDENTIFIZIEREN NICHTFLÜCHTIGER SPEICHERELMENTE MIT SCHLECHTER SUBSCHWELLENSTEIGUNG ODER SCHWACHER TRANSKONDUKTANZ
56 DE60301839T2 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher und Verfahren zu dessen Betrieb
57 DE102005028631A1 Seitenpuffer und Verifikationsverfahren eines Flash-Speicherbauelements unter Verwendung desselben
58 DE60017838T2 Nichtflüchtiger Speicher Typ NAND
59 EP1599881 NAND-FLASH-SPEICHER, DER PROGRAMMSTÖRUNGEN MIT EINER SELBSTVERSTÄRKENDEN TECHNIK VERMEIDET
60 DE102004059411A1 Flash-Speichervorrichtung und Verfahren zur Steuerung derselben
61 EP1588379 NICHTFLÜCHTIGER HALBLEITERSPEICHER MIT ZYKLUSZÄHLWERTE SPEICHERNDEN GROSSEN LÖSCHBLÖCKEN
62 EP1394809 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher und Verfahren zu dessen Betrieb
63 DE60016104T2 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung
64 DE19851813B4 System und Verfahren zum Bewerten der Abnutzung eines Flash-Speichers
65 DE102005009700A1 Programmier-und Betriebsverfahren sowie Lesetoleranzeinstellverfahren für Speicherzellen und nichtflüchtiger Speicher
66 EP1559113 VERFOLGEN DER AM HÄUFIGSTEN GELÖSCHTEN BLÖCKE EINES NICHTFLÜCHTIGEN SPEICHERSYSTEMS
67 EP1424700 Einzelzelllöschverfahren der Rückgewinnung von progammiergestörte Zellen in nichtflüchtige Speichervorrichtung
68 DE19708441B4 Verfahren zum Schreiben und Lesen von für den Betrieb einer Fahrzeugkomponente relevanten Betriebsparametern in einen bzw. aus einem Schreib/Lese-Speicher
69 DE10158204B4 Programmierverfahren für eine EEPROM-Speichereinrichtung und Schaltung mit einer EEPROM-Speichereinrichtung
70 EP1077450 Nichtflüchtiger Speicher Typ NAND
71 DE69333631T2 Halbleiterspeicheranordnung
72 EP1488429 NEUARTIGES VERFAHREN UND STRUKTUR ZUR EFFIZIENTEN DATENVERIFIZIERUNGSOPERATION FÜR NICHTFLÜCHTIGE SPEICHER
73 DE10335612B3 Speichern von Daten in einem nicht-flüchtigen Speicher eines tragbaren Datenträgers
74 EP1486987 Flash-Speicher mit Mitteln zum Steuern und Auffrischen von Speicherzellen im gelöschten Zustand
75 DE10336225B3 Zustandskennzeichen (Flag) für einen bezüglich Löschen und Schreiben asymmetrischen Speicher
76 EP1073065 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung
77 EP1473739 Flash-Speicher mit Datenverlust-Früherkennung
78 EP1158531 Halbleiterspeicheranordnung
79 DE69333549T2 Halbleiterspeicheranordnung
80 DE69820203T2 Halbleiterspeichervorrichtung und mit dieser versehener Verkaufsprozessor
81 EP1158536 Halbleiterspeicheranordnung
82 DE69333373T2 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher mit elektrisch und gemeinsam löschbaren Eigenschaften
83 DE10352710A1 Flash-Speicherbauelement, Verifizierverfahren und Programmiereinheit hierfür
84 EP1402535 GENAUE VERIFIZIERVORRICHTUNG UND VERFAHREN FÜR NOR-FLASH-SPEICHERZELLEN BEI ANWESENHEIT EINES STARKEN SPALTENLECKENS
85 DE10252059B3 Verfahren zum Betreiben einer Speicheranordnung
86 DE60002798T2 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung und Überlöschungskorrekturverfahren
87 EP1386323 VERDICHTUNG DER EINSATZSPANNUNGS-VERTEILUNG VON NICHTFLÜCHTIGEN SPEICHERN
88 EP1158526 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher mit elektrisch und gemeinsam löschbaren Eigenschaften
89 EP1356473 SCHALTUNG UND VERFAHREN ZUM TEST EINER GRUPPE NICHTFLÜCHTIGER SPEICHERZELLEN
90 EP1350253 VERFAHREN UND SYSTEM FÜR DOPPELBITSPEICHERLÖSCHPRÜFUNG
91 DE10209405A1 Verfahren und Vorrichtung zum Bewerten des Ladezustands eines Speichertransistors mindestens einer Speicherzelle eines mehrfach-programmierbaren Halbleiterspeichers
92 DE10164415A1 Verfahren und Anordnung zur Programmierung und Verifizierung von EEPROM-Pages sowie ein entsprechendes Computerprogrammprodukt und ein entsprechendes computerlesbares Speichermedium
93 EP1316963 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher und diesen verwendendes Speichersystem
94 EP1316965 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung und Überlöschungskorrekturverfahren
95 EP1316964 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher und diesen verwendendes Speichersystem
96 EP1315171 Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher und diesen verwendendes Speichersystem
97 EP1079396 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung und Überlöschungskorrekturverfahren
98 DE10158204A1 Programmierverfahren für eine EEPROM-Speichereinrichtung und Schaltung mit einer EEPROM-Speichereinrichtung
99 EP1113451 Nichtflüchtige Halbleiterspeicheranordnung
100 EP1271552 Verfahren zur Auffrischung der Daten in einem elektrisch lösch- und programmierbaren nichtflüchtigen Speicher
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