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No Patent No Titel
1 DE69936039T2 Prüfungsschaltung zur Messung des Ausganspotentials einer Spannungserhöhungsschaltung in einer Halbleiter-IC-Schaltung
2 EP1859452 MULTIPLIKATIONSREDUNDANTES RAID-SYSTEM UND XOR-EFFIZIENTE IMPLEMENTIERUNG
3 EP1540660 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERKENNUNG VON FEHLERN WÄHREND DES SCHREIBENS IN EINEN NICHTFLÜCHTIGEN SPEICHER
4 DE60313302T2 SPEICHERMODULBAUGRUPPE, DIE TEILWEISE DEFEKTE CHIPS VERWENDET
5 DE60314279T2 2T2C-SIGNALRAUMTESTMODUS UNTER VERWENDUNG EINES RESISTIVEN ELEMENTS
6 EP1394810 Nichtflüchtige Speicheranordnung und Selbstreparatur-Verfahren
7 EP1396863 Halbleiterspeichereinrichtung und Prüfungsverfahren
8 DE112005003012T5 Direktzugriffsspeicher mit Prüfschaltung
9 EP1837881 Halbleiterspeichervorrichtung eines ECC-Speichers mit Redundanzfunktion
10 EP1834337 SRAM-TESTVERFAHREN UND SRAM-TESTANORDNUNG ZUR DETEKTION SCHWACHER ZELLEN
11 DE60124008T2 VERFAHREN ZUM LESEN DER INFORMATION VON HALBLEITER-WAFERN BEI EINEM PARALLELEN TEST- UND EINBRENN-SYSTEM
12 EP1833059 Reduzierung von Störungssummendaten einer Speichervorrichtung für verbesserte Redundanzanalyse
13 DE60129104T2 Halbleiterspeicheranordnung
14 EP1333447 Halbleiterspeicheranordnung und elektronisches Informationsgerät mit dessen Verwendung
15 EP1830366 BIAS-ANWENDUNGSVERFAHREN FÜR SPEICHERUNG UND SPEICHERUNG
16 EP1825479 VERFAHREN UND VORRICHTUNG FÜR EINEN INTEGRIERTEN PROGRAMMIERBAREN SPEICHER-SELBSTTEST (MBIST)
17 DE69936277T2 Synchron-Halbleiterspeichervorrichtung
18 EP1607984 Verfahren zum Verwalten von defekten Speicherblöcken in einem nicht-flüchtigen Speicher und nicht-flüchtiger Speicher zur Ausführung des Verfahrens
19 EP1583102 Sequenzielles Schreib-Prüfverfahren mit Ergebnisspeicherung
20 EP1563510 2T2C SIGNAL MARGIN TEST UNTER VERWENDUNG EINES DEFINIERTEN LADUNGSAUSTAUSCHS ZWISCHEN KOMPLEMENTÄREN BITLEITUNGEN
21 DE112005001371T5 Verfahren und Vorrichtung zur Kopplung zwischen einem Testsystem und einem eingebetteten Speicher für einen Testmodussetzvorgang
22 DE60309157T2 Speichersystem mit Fehlererkennungsvorrichtung
23 EP1665287 VERWALTUNG DEFEKTER BL CKE IN FLASH-SPEICHERN
24 EP1665286 INTEGRIERTE SCHALTUNG UND VERFAHREN ZUM CACHE-UMABBILDEN
25 EP1555675 Vorrichtung zur Bestimmung der Zugriffszeit und/oder der minimalen Zykluszeit eines Speichers
26 DE60311117T2 VERFAHREN UND SCHALTKREISE ZUM IDENTIFIZIEREN SCHWACHER BIT IN EINEM MRAM
27 EP1246200 Halbleiterspeicheranordnung
28 DE602004001679T2 SPEICHERSYSTEM MIT SEQUENZIELL AUSGEFÜHRTEN SCHNELLEN UND LANGSAMEN LESEZUGRIFFEN
29 DE602004002947T2 NAND Flash Speicher mit Speicherredundanz
30 EP1782429 REPARATUR VON SPEICHERZELLEN
31 EP1782430 REKONFIGURIERBARE RECHNERARCHITEKTUR FÜR RAUMANWENDUNGEN
32 DE10107427B4 Halbleiterspeichervorrichtung
33 EP1483722 SPEICHERMODULBAUGRUPPE, DIE TEILWEISE DEFEKTE CHIPS VERWENDET
34 EP1766632 SYSTEM UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINER DATENSPEICHEREINRICHTUNG OHNE ENTHÜLLUNG VON SPEICHERINHALT
35 DE60215291T2 Halbleiter Speicheranordnung
36 DE112005001496T5 Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
37 EP1750282 Speicherarchitektur mit gemeinsam genutzter Redundanz und dieselbe nutzendes Speichersystem
38 EP1745489 KOMPRIMIERUNG VON DATEN-SPUREN FÜR EINE INTEGRIERTE SCHALTUNG MIT MEHREREN SPEICHERN
39 EP1746606 Speicherschaltung mit Paritätszellenmatrix
40 EP1738375 VERFAHREN ZUR ERKENNUNG VON RESISTIV-OFFEN-DEFEKTEN IN HALBLEITERSPEICHERN
41 DE112005000591T5 Testgerät und Testverfahren
42 EP1736995 Prüfverfahren für einen temporären Silospeicher in einer elektronischen Steuereinheit
43 EP1728255 DFT-TECHNIK ZUR BELASTUNG SELBSTZEITGESTEUERTER HALBLEITERSPEICHER ZUR ERKENNUNG VON VERZÖGERUNGSFEHLERN
44 EP1728254 VERFAHREN ZUR ERKENNUNG RESISTIVER BRÜCKENDEFEKTE IN DEM GLOBALEN DATENBUS VON HALBLEITERSPEICHERN
45 EP1720172 HALBLEITERSPEICHERBAUSTEIN UND REDUNDANZSTEUERVERFAHREN FÜR EINEN HALBLEITERSPEICHERBAUSTEIN
46 EP1350254 VERFAHREN ZUM LESEN DER INFORMATION VON HALBLEITER-WAFFERN BEI EINEM PARALLELEN TEST- UND EINBRENN-SYSTEM
47 EP1505608 Speichersystem mit Fehlererkennungsvorrichtung
48 EP1320105 Halbleiter Speicheranordnung
49 EP1701359 Speichertest-Schaltung mit Verzweigung im Testprogramm bei Fehleranzeige
50 EP1699056 Halbleiterspeichermodul und mehrschichtige Leiterplatte zur Herstellung eines Speichermoduls
51 EP1347459 Einbrennsystem und -verfahren für verbesserte Speicherzuverlässigkeit
52 EP1604371 SPEICHERSYSTEM MIT SEQUENZIELL AUSGEFÜHRTEN SCHNELLEN UND LANGSAMEN LESEZUGRIFFEN
53 DE102005005631A1 Speicheranordnung
54 EP1408516 Interface zum Durchbrennen von Schmelzsicherungen für ein Speicherchip
55 DE19928981B4 Vorrichtung und Verfahren zum Testen von Halbleiterspeichern
56 EP1316967 Test eines Halbleiterspeichers mit twin-cell Speicherzellen, jede zum Speichern eines Bits in gewöhnlicher und invertierter Form
57 EP1658619 HUB-BAUSTEIN ZUM ANSCHLIESSEN VON EINEM ODER MEHREREN SPEICHERBAUSTEINEN MIT ADRESSDEKODER ZUM ADRESSIEREN REDUNDANTER SPEICHERBEREICHE
58 EP1658618 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERKENNUNG UND KORREKTUR VON FEHLERN IN EINEM MAGNETOWIDERSTANDS-DIREKTZUGRIFFSSPEICHER
59 DE60205266T8 DATENSCHREIBVORRICHTUNG, DATENSCHREIBVERFAHREN UND PROGRAMM
60 DE19922786B4 Halbleiterspeicher mit Testeinrichtung
61 EP1398796 Unterschiedlichen Operationen eines Flash-Speichers zugeordnete Redundanzschaltungen und zugehörige Betriebsverfahren
62 DE60111324T2 Fehlerdiagnose-RAM eines Speichertesters mit nach Grösse und Geschwindigkeit konfigurierbaren SDRAM Speichereinheiten
63 EP1643509 HALBLEITER-PRÜFEINRICHTUNG UND STEUERVERFAHREN DAFÜR
64 DE60021129T2 Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung einer elektronischen Vorrichtung
65 DE102004022327B4 Integrierter Halbleiterspeicher
66 DE69924296T8 IC-TEST PROGRAMMIERSYSTEM ZUR ZUORDNUNG LOGISCHER FUNKTIONSTESTDATEN VON LOGISCHEN INTEGRIERTEN SCHALTUNG ZU EINER PHYSIKALISCHEN DARSTELLUNG
67 DE60018468T8 VERBRAUCH VON REDUNDANZDATEN FÜR DAS ANZEIGEN DER BITFEHLERKARTEN FÜR HALBLEITERELEMENTE
68 DE102004043051A1 Loop-back-Verfahren zur Vermessung des Interface-Timings von Halbleiterspeichervorrichtungen unter Verwendung des Normal-Mode-Speichers
69 DE60205266T2 DATENSCHREIBVORRICHTUNG, DATENSCHREIBVERFAHREN UND PROGRAMM
70 EP1612807 Random-Zugangsspeicher mit Paritätsbit-Architektur
71 DE102004036786A1 Chip mit Zustandselement, Konfigurationseinrichtung und Ausleseeinrichtung sowie Verfahren zum Betrieb, Konfigurieren und Überprüfen der Konfiguration desselben
72 DE102004036702A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit Testschaltung
73 DE102004006288B4 Integrierter Halbleiterspeicher mit redundanten Speicherzellen sowie Verfahren zum Testen eines integrierten Halbleiterspeichers mit redundanten Speicherzellen und Verfahren zum Betreiben eines integrierten Halbleiterspeichers mit redundanten Speicherzellen
74 DE102004039393A1 Verfahren zum Testen einer Speichervorrichtung und Speichervorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
75 DE10011180B4 Digitale Speicherschaltung
76 DE19924153B4 Schaltungsanordnung zur Reparatur eines Halbleiterspeichers
77 EP1241678 Eingebaute Selbsttestschaltung mit einem Schieberegister mit linearer Rückkopplung
78 DE10323413B4 Prüfverfahren, Prüfsockel und Prüfanordnung für Hochgeschwindigkeits- Halbleiterspeichereinrichtungen
79 EP1408515 Schaltkreis zur Reparatur von Subspalten
80 DE102005026636A1 Nichtflüchtiges Speicherbauelement
81 DE102004027275A1 Integrierter Halbleiterspeicher
82 DE102004030053B3 Halbleiterspeichervorrichtung
83 EP1529293 BUILT-IN-SELF-TEST FÜR FLASH SPEICHERZELLEN
84 DE69732637T2 Selbsttest und Korrektur von Ladungsverlustfehlern in einem Sektorenlöschbaren und-programmierbaren Flashspeicher
85 DE102004025893A1 Testvorrichtung mit Speicherdatenumsetzer für redundante Bit- und Wortleitungen
86 DE102004024668A1 Verfahren zum Testen von elektronischen Schaltungseinheiten und Testvorrichtung
87 DE102004060350A1 Redundanzschaltung für Nand-Flashspeichervorrichtung
88 EP1588380 VERFAHREN ZUR ERKENNUNG UND/ODER KORREKTUR VON SPEICHERZUGRIFFSFEHLERN UND ELEKTRONISCHE SCHALTUNGSANORDNUNG ZUR DURCHFÜHRUNG DES VERFAHRENS
89 DE102004020546A1 Elektronische Speichervorrichtung und Verfahren zur Deaktivierung von redundanten Bit- oder Wortleitungen
90 DE102004020030A1 Testvorrichtung zum Testen einer integrierten Schaltung
91 DE102004021267A1 Verfahren zum Testen eines Speicherbausteins und Prüfanordnung
92 DE102004042252A1 Integrierte Speicherschaltung und Verfahren zum Komprimieren von Fehlerdaten
93 DE10393685T5 Hochgeschwindigkeits-Vektorzugriffsverfahren bei einem Musterspeicher für Prüfsysteme
94 EP1583103 Erzeugung und Auswahl von in einer Testumgebung zu verwendenden Adressen
95 DE102004018235A1 Verfahren zur Verwendung eines teilweise defekten Speichermediums mit reduzierter Kapazität
96 DE102004015269A1 Integrierte Schaltung
97 EP1579460 VERSCHIEDENE VERFAHREN UND VORRICHTUNGEN ZUM VERFOLGEN AUSFALLENDER SPEICHERSTELLEN ZUR ERMÖGLICHUNG VON IMPLEMENTIERUNGEN ZUR INVALIDIERUNG WIEDERHOLT AUSFALLENDER SPEICHERSTELLEN
98 DE102004040432A1 Integrierte Speicherschaltung und Verfahren zum automatischen Erkennen von Fehlern in der integrierten Speicherschaltung
99 DE60105873T2 Halbleiterspeicher-Herstellungssystem und Halbleiterspeicher-Herstellungsverfahren
100 DE102004010783A1 Verfahren und Schaltungsanordnung zum Testen elektrischer Bausteine
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