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301 DE10110627A1 Verfahren und Schaltungsanordnung zum Steuern von Testfunktionen in einem Speicherbaustein
302 DE10206720A1 System und Verfahren zum Betreiben eines programmierbaren Zählers für Spaltenversagen bei Redundanzzuordnung
303 DE10109335A1 Integriertes Halbleiterspeicherbauelement
304 DE10160092A1 Integrierte Halbleiterschaltungsvorrichtung
305 DE10150509A1 Halbleiter-Datenspeicherschaltungseinrichtung, Verfahren zum Prüfen der Einrichtung, und Verfahren zum Befreien der Einrichtung von einer defekten Zelle
306 DE69430598T2 Prüfverfahren für programmierbare nicht flüchtige Halbleiterspeichervorrichtung
307 DE69429225T2 Ruhestromprüfbarer RAM
308 DE10154649A1 Halbleiterspeicherbauelement mit redundanten Zellen und Verfahren zur Durchführung eines Voralterungstests
309 DE69429397T2 Prüfung eines statischen Direktzugriffspeichers
310 DE10201573A1 Redundanter Decoderschaltkreis, zugehöriges Speicherbauelement sowie Zugriffs- und Testverfahren
311 DE69331214T2 Dynamische RAM-Einrichtung mit einem Stromversorgungssystem mit angepasster Vorspannung für Transistoren und Kondensatoren in einem Einbrenntestverfahren
312 DE10158004A1 Schaltkreis zur Speicherung defekter Adressen für ein Halbleiterspeicherbauelement
313 DE69708314T2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM PRÜFEN INTEGRIERTER SCHALTKREISCHIPS IN EINEM INTEGRIERTEN SCHALTKREISMODUL
314 DE10135559A1 Statische Halbleiterspeichervorrichtung mit einem Redundanzsystem
315 DE10061243A1 Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Laufzeit von Daten auf einem Datenbus in einem Halbleiterspeicher
316 DE10139819A1 Verfahren zum Betrieb von Speicherseiten eines DRAM und entsprechende DRAM-Systemstruktur
317 DE10144660A1 Verfahren und Vorrichtung zum Verwalten von Inversionseigenschaften in einem Speichertester
318 DE69523009T2 Schaltungsstruktur und Verfahren zur Belastungsprüfung von Bitleitungen
319 DE10153665A1 Speichertester mit verbesserter Nachdecodierung
320 DE10050771A1 Schaltung zum Testen eines Datenspeichers
321 DE10147910A1 Speichertester weist Speichersätze auf, die für die Verwendung als Fehlererfassungs-RAM, Etiketten-RAM, Pufferspeicher und Stimulus-LOG-RAM konfigurierbar sind
322 DE10144645A1 Verfahren und Vorrichtung zum Manipulieren von Adreßinformationen in einem Speichertester
323 DE69615940T2 Schaltkreis zum Setzen des Testmodus bei einem Halbleiterspeicher
324 DE10147201A1 Halbleiterspeichervorrichtung und Verfahren zum Ersetzen einer Redundanzschaltung
325 DE10050212A1 Verfahren und integrierte Schaltung zum Testen eines Speichers mit mehreren Speicherbänken
326 DE10042620A1 Anordnung zum Testen eines Speichermoduls
327 DE10110111A1 Zuverlässig arbeitende Programmierschaltung mit niedrigem Standby-Strom und Halbleiterspeichervorrichtung mit dieser Programmierschaltung
328 DE10042223A1 Verfahren zum Testen einer integrierten Halbleiterschaltungsanordnung
329 DE10038664A1 Halbleiterspeicher nit Redundanz-Schaltung für Wortleitungen
330 DE10034897A1 Adresszähler zur Adressierung von synchronen hochfrequenten Digitalschaltungen, insbesondere Speicherbauelementen
331 DE10110934A1 Integrierte Halbleiterschaltung, Speicherreparaturverfahren für eine integrierte Halbleiterschaltung und Computererzeugnis
332 DE10063623A1 Halbleiterspeichervorrichtung mit Speichertestschaltung
333 DE10103614A1 Halbleiterspeicher
334 DE10062081A1 Integrierte Halbleiterschaltung und Verfahren zum Testen der integrierten Halbleiterschaltung
335 DE10016719A1 Integrierter Speicher und Verfahren zur Funktionsprüfung von Speicherzellen eines integrierten Speichers
336 DE10014388A1 Verfahren zur Durchführung eines Burn-in-Prozesses eines Speichers
337 DE10011180A1 Digitale Speicherschaltung
338 DE10107427A1 Halbleiterspeichervorrichtung
339 DE10007604A1 Redundanz-Multiplexer für Halbleiterspeicheranordnung
340 DE10050363A1 Schaltung zum Erzeugen eines Reparatursignals
341 DE69426733T2 Halbleiterspeichergerät mit Register zum Halten eines Prüfergebnissignals
342 DE19963689A1 Schaltungsanordnung eines integrierten Halbleiterspeichers zum Speichern von Adressen fehlerhafter Speicherzellen
343 DE10043191A1 Nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher mit Speicherredundanzschaltung und Verfahren zum Auslassen einer ausgefallenen Adresse desselben
344 DE10022697A1 Halbleiterspeichereinrichtung mit einer Prüfmodusentscheidungsschaltung
345 DE19951048A1 Verfahren zur Identifizierung einer integrierten Schaltung
346 DE19947041A1 Integrierter dynamischer Halbleiterspeicher mit redundanten Einheiten von Speicherzellen und Verfahren zur Selbstreparatur
347 DE10033519A1 Integrierte Schaltung mit Testbetriebsmodus und Verfahren zum Testen von integrierten Schaltungen
348 DE69329011T2 Halbleiterspeichergerät mit Prüfmodus
349 DE19933980A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit redundanten Einheiten von Speicherzellen und Verfahren zu seinem Betrieb
350 DE19913570C2 Betriebsverfahren für einen integrierten Speicher und integrierter Speicher
351 DE10035690A1 Halbleiterspeicherbauelement mit einstellbarem Dateneingabe-/Datenausgabemodus
352 DE10035705A1 Verfahren zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in einem Speicher und Speichertestvorrichtung mit einem Fehleranalysator, der von dem Verfahren Gebrauch macht
353 DE10034702A1 Verfahren zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in einem Speicher und Speichertestvorrichtung mit einem Fehleranalysator, der von dem Verfahren Gebrauch macht
354 DE10026993A1 Flash-Speicherbauelement mit einer neuen Redundanzansteuerschaltung
355 DE19930169A1 Testeinrichtung zum Prüfen eines Speichers
356 DE10021347A1 Halbleiterspeicherbauelement sowie Testmodus-Leseverfahren und Testverfahren hierfür
357 DE10029240A1 Halbleiterspeicher mit Redundanzbeurteilungsschaltung
358 DE69423668T2 Nichtflüchtige Halbleiterspeichervorrichtung mit Statusregister und Prüfverfahren dafür
359 DE19924244A1 Integrierter Speicher mit redundanten Einheiten von Speicherzellen und Testverfahren für seine redundanten Einheiten
360 DE69516801T2 PROGRAMMIERBARE LOGISCHE VORRICHTUNG MIT EINER PRÜFSCHALTUNG ZUM KLASSIFIZIEREN VON SCHMELZVERBINDUNGSZUSTÄNDEN ALS GÜLTIG GESCHLOSSEN, GÜLTIG GEÖFFNET ODER UNGÜLTIG
361 DE69516768T2 PRÜFBARER I DDQ- SPEICHER DURCH KUMULATIVE WORT-ZEILEN-AKTIVIERUNG
362 DE19922920C1 Integrierter Speicher mit Redundanzfunktion
363 DE69517072T2 Halbleiter-Speichereinrichtung-Prüfschaltung mit Datenverschlüsslungfunktion
364 DE19804596C2 Verfahren und Schaltungsanordnung zum Test von über Teiladreßdekoder adressierbaren Halbleiterspeichern
365 DE19852430C2 Schaltungsanordnung mit temperaturabhängiger Halbleiterbauelement-Test- und Reparaturlogik
366 DE69422481T2 Multibit-Halbleiterspeicheranordnung
367 DE19680641C2 Fehlerspeicher-Analysiervorrichtung in einem Halbleiterspeichertestsystem
368 DE19731954C2 Verfahren zur Erkennung von fehlprogrammierten Speicherzellen eines Speichers
369 DE19843435C2 Burn-In-Testvorrichtung
370 DE19963611A1 Speicherprüfvorrichtung
371 DE69327858T2 Halbleiterspeichergerät mit einer Prüfschaltung
372 DE19961125A1 Halbleitervorrichtung für die Kompensation eines darin enthaltenen Fehlers
373 DE19959779A1 Vorrichtung zum Erhalten von Fehlverhaltensinformationen sowie diese verwendende Halbleiterspeicher-Prüfvorrichtung
374 DE19819570C2 Anordnung zum Testen mehrerer Speicherchips auf einem Wafer
375 DE19852430A1 Schaltungsanordnung mit temperaturabhängiger Halbleiterbauelement-Test- und Reparaturlogik
376 DE19740933C2 Dynamischer Speicher mit zwei Betriebsarten
377 DE69131872T2 Dynamische Halbleiterspeicherschaltung
378 DE19860871A1 Leistungsunabhängiger Halbleiterspeicherbaustein und Verfahren zur Ansteuerung von dessen Wortleitungen
379 DE69513434T2 Flash EEPROM mit Autofunktion zum automatischen Schreiben und Löschen
380 DE69421572T2 Überprüfung von Redundanzelementen eines IC-Speichers ohne Programmierung redundanter Ersatzelemente
381 DE19950347A1 Mustergenerator für Halbleiterprüfsysteme
382 DE19611709C2 Halbleiterspeichervorrichtung
383 DE19933792A1 Speichertestvorrichtung
384 DE19836578A1 Integrierter Speicher mit Interblockredundanz
385 DE19909808A1 Schaltung zur Verifizierung von ROM-Daten
386 DE19821459A1 Anordnung zur Redundanzauswertung bei einem Halbleiterspeicherchip
387 DE19912467A1 Editiervorrichtung und Erzeugungsverfahren zur Definition der physikalischen Umsetzung
388 DE19860516A1 Halbleiterspeichervorrichtung
389 DE69322433T2 Dynamischer Speicher mit wahlfreiem Zugriff mit Mittelspannungsgenerator zur Energieversorgungsunterbrechung beim Prüfbetrieb
390 DE69414960T2 Halbleiterspeichergerät zur Ausführung einer Speicherprüfung
391 DE29820967U1 Trinkgefäß mit Modul
392 DE19820442A1 Verfahren zum Prüfen von Speicheroperationen unter Verwendung einer Selbstreparaturschaltung und zum Sperren von Speicherstellen auf Dauer
393 DE19736610A1 Halbleiterspeicherbauelement mit Zeilenredundanzschema und Verfahren zur Reparatur einer defekten Zelle desselben
394 DE69118220T2 Halbleiterspeicher mit eingebauter Prüfschaltung
395 DE19501537A1 Multibit-Testschaltung für ein Halbleiterspeicherbauelement
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