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No Patent No Titel
1 DE60308076T2 Einbrennsystem und -verfahren für verbesserte Speicherzuverlässigkeit
2 DE102006036329A1 Testmodus und Testverfahren für erhöhte Belastungstastverhältnisse während der Voralterung
3 DE10103060B4 Verfahren zum Testen einer ein Floating-Gate aufweisenden Speicherzelle und Anordnung zur Durchführung dieses Verfahrens
4 DE102004044150A1 Verbesserte künstliche Alterung von Chips mit Speicher
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IPC
A Täglicher Lebensbedarf
B Arbeitsverfahren; Transportieren
C Chemie; Hüttenwesen
D Textilien; Papier
E Bauwesen; Erdbohren; Bergbau
F Maschinenbau; Beleuchtung; Heizung; Waffen; Sprengen
G Physik
H Elektrotechnik

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