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1 DE102006024016A1 Speicher mit einem Ausgangsregister für Testdaten und Verfahren zum Testen eines Speichers
2 DE10126610B4 Speichermodul und Verfahren zum Testen eines Halbleiterchips
3 DE10331543B4 Verfahren zum Testen einer zu testenden Schaltungseinheit und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens
4 DE102006019908A1 Integrierter Halbleiterspeicher zur Programmierung eines Programmierzustands
5 DE102006019507A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit Testfunktion und Verfahren zum Testen eines integrierten Halbleiterspeichers
6 DE102006009224A1 Auswahl eines Testalgorithmus in einer Steuerung für eingebauten Speicherselbsttest
7 DE102006031038A1 Speicheranordnung
8 DE102006053281A1 Halbleiterbauelement, Testsystem und ODT-Testverfahren
9 DE102006050234A1 Schaltung und Verfahren zum Testen eines Halbleiterspeicherelements und Halbleiterspeicherelement
10 DE102006054161A1 Eingebettete Testschaltung zum Testen eines Dual-Port-Speichers
11 DE102006026448A1 Verfahren und/oder Vorrichtung zum Erkennen und Behandeln von Fehlern in einem Speicher
12 DE102005051996A1 Leseverstärker
13 DE102006029747A1 Halbleiterspeicherchip und Verfahren für den Schutz seines Speicherkerns
14 DE60212103T2 STRUKTURIERTER SPEICHERZELLENTEST
15 DE60304370T2 MODULTEST-CONTROLLER MIT BIST-SCHALTUNG ZUM TESTEN VON EINGEBETTETEN DRAM-SCHALTUNGEN
16 DE102006004848A1 Verfahren und Vorrichtung zum Variieren eines aktiven Arbeitszyklus einer Wortleitung
17 DE4243611B4 Testmodusschaltung für eine Speichervorrichtung
18 DE102005009360B3 Integrierter Halbleiterspeicher mit aktivierbaren Leseverstärkern
19 DE60302473T2 BUILT-IN-SELF-TEST FÜR FLASH SPEICHERZELLEN
20 DE60208117T2 Selbsttest-Schaltung für Cache-Speicher
21 DE102004051345A1 Halbleiter-Bauelement, sowie Verfahren zum Ein- und/oder Ausgeben von Testdaten
22 DE102005050394A1 Simulieren einer Bedingung einer floatenden Wortleitung in einer Speichervorrichtung und verwandte Techniken
23 DE102005040226A1 Nichtflüchtiges Speicherbauelement und Testverfahren
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