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No Patent No Titel
1 DE102005004379B4 Speicherbauelement und Verfahren zum Testen von Speicherbauelementen mit reparaturfähiger Redundanz
2 DE102006028483A1 Verfahren zum Zugreifen auf einen Speicher
3 DE10318771B4 Integrierte Speicherschaltung mit einer Redundanzschaltung sowie ein Verfahren zum Ersetzen eines Speicherbereichs
4 DE102006025291B3 Integrierter elektrischer Baustein mit regulären und redundanten Elementen
5 DE102006016499A1 Speichermodulsteuerung, Speichersteuerung und entsprechende Speicheranordnung sowie Verfahren zur Fehlerkorrektur
6 DE102006048856A1 Reparatur einer Halbleiterspeichervorrichtung über einen externen Befehl
7 DE102006046299A1 Verfahren zur Deaktivierung einer redundanten Wortleitung
8 DE60028139T2 Halbleiterspeichereinrichtung welche zur Zusammenfügung mit einer Logikschaltung geeignet ist
9 DE102005046981A1 Speicher und Verfahren zum Verbessern der Zuverlässigkeit eines Speichers mit einem benutzten Speicherbereich und einem unbenutzten Speicherbereich
10 DE102006033649A1 Speicherbauelement und Verfahren zum Konfigurieren eines Speicherbauelements
11 DE60304642T2 Flashspeicher und Verfahren zum Betrieb desselben
12 DE102005041275A1 Spalten-Redundanz-Wiederverwendung in Speichereinrichtungen
13 DE102004056214B4 Speicherpuffer
14 DE60304746T2 Verfahren und Vorrichtung zur Verifikation eines Gate-Oxide Fuse-Elementes
15 DE102004054968B4 Verfahren zum Reparieren und zum Betreiben eines Speicherbauelements
16 DE102006008504A1 Direktzugriffsspeicher mit selektiver Aktivierung einer Auswahlleitung
17 DE102005015319A1 Elektrisches System mit fehlerhaften Speicherbereichen und Verfahren zum Testen von Speicherbereichen
18 DE102005015002A1 Verfahren zum automatischen Bereitstellen von Reparaturpositionsdaten von Fuse-Elementen in einer integrierten Speicherschaltung
19 DE60302747T2 Schaltkreis zur Reparatur von Subspalten
20 DE102005061374A1 Speicherbauelement und Reparaturverfahren
21 DE102005004379A1 Speicherbauelement und Verfahren zum Testen von Speicherbauelementen mit reparaturfähiger Redundanz
22 DE60208376T2 Verfahren zum Speichern von Fehlern einer Speichervorrichtung in einem Diagnosefeld mit minimaler Speicherkapazität
23 DE102005022768A1 Speichereinrichtung, welche in der Lage ist, den Datenausgangsmodus zu verändern
24 DE102005001520A1 Integrierte Speicherschaltung und Verfahren zum Reparieren eines Einzel-Bit-Fehlers
25 DE102004054874A1 Elektronische Schaltungsanordnung mit externer Speichereinheit zur Speicherung von Reparaturinformationen bei flüchtigen Speichern
26 DE102004056214A1 Speicherpuffer
27 DE102004054968A1 Verfahren zum Reparieren und zum Betreiben eines Speicherbauelements
28 DE19543834B4 Defektzellen-Reparaturschaltkreis und Defektzellen-Reparaturverfahren für eine Halbleiterspeichervorrichtung
29 DE102004047330A1 Integrierter Halbleiterspeicher
30 DE102004047813A1 Halbleiterbaustein mit einer Umlenkschaltung
31 DE102005036567A1 Defektverwaltungsfähiger Pirm und Verfahren
32 DE102005031524A1 Redundanzprogrammierschaltung und Verfahren
33 DE102005028827A1 Flashspeicherbauelement und Verfahren zur Defektblockbehandlung
34 DE102004035549A1 Verfahren zur Wiederherstellung von einem defekten Speicherbaustein
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