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1201 DE102005013478A1 Verfahren und ESD-Schutzvorrichtung zum verbesserten ESD-Schutz einer Halbleiterschaltung sowie entsprechende Halbleiterschaltung
1202 DE102005014176A1 Verfahren zum Erstellen einer Schutzanordnung zum Schutz eines Elektronikbausteins vor elektrostatischen Entladungen und entsprechend ausgebildeter Elektronikbaustein
1203 DE102005013322B3 Schaltung zur Erzeugung eines Datenbitinvertierungsflags (DBI)
1204 DE102005012992A1 Verfahren, Vorrichtung und System zum Bonden eines Halbleiterelementes
1205 EP1510929 Schaltungssystem und Methode zum Verbinden eines Moduls zu, oder dessen Entkopplung von, einem Hauptbus
1206 DE60209620T2 Halbleitervorrichtung zum Ermitteln und Einstellen einer Schwellwertveränderung
1207 EP1437815 Stromversorgungsauswahlschaltung
1208 DE102005022840B3 Verfahren zum Herstellen von Kontaktstrukturen für DRAM-Halbleiterspeicher
1209 DE102005022893B3 Verfahren zum Zugreifen auf Speicherbereiche einer Speicherkarte durch eine anfordernde Anwendung und Speicherkarte
1210 DE102005012047A1 Festkörperelektrolyt-Speicherelement und Verfahren zur Herstellung eines solchen Speicherlements
1211 DE102005013497A1 Steuerbare Frequenzteilerschaltung, Sende-Empfänger mit steuerbarer Frequenzteilerschaltung und Verfahren zur Durchführung eines Loop-Back-Tests
1212 DE102005013830A1 Vorrichtung und Verfahren zum verschlüsselten Übertragen von Daten
1213 DE102006012007A1 Leistungshalbleitermodul mit oberflächenmontierbaren flachen Außenkontakten und Verfahren zur Herstellung desselben
1214 DE102005013881A1 Verfahren zur Signalverarbeitung und Sendeeinrichtung mit digitaler Vorverzerrung, insbesondere für den Mobilfunk
1215 DE102005011653A1 Schaltungsanordnung mit einem Transistor mit verringertem Rückstrom
1216 DE10120660B8 Verfahren zur Strukturierung einer Photolackschicht
1217 DE102005013237A1 Einrichtung in einer Speicherschaltung zum Festlegen von Wartezeiten
1218 DE102005013328B3 Asynchroner Teiler mit einstellbarem Teilungsverhältnis
1219 DE10162912B4 Quarzoszillatorschaltung
1220 DE102004006996B4 Digitaler Phasenregelkreis mit schnellem Einschwingverhalten
1221 DE102005012444A1 Steuervorrichtung und Verfahren zur Verwürfelung der Zuordnung der Referenzen eines Quantisierers in einem Sigma-Delta-Analog-Digital-Umsetzer
1222 DE69534832T2 Verbessertes Plasma-Ätzverfahren
1223 DE102005014427A1 Verfahren zum Verkapseln eines Halbleiterbauelements und Halbleiterbauelement
1224 DE102005013238A1 Verfahren und Einrichtung zum Übertragen von Justierinformation für Datenschnittstellen-Treiber eines RAM-Bausteins
1225 DE102005011891B3 Halbleiterspeicherbauelement und Verfahren zum Prüfen von Halbleiterspeicherbauelementen mit eingeschränktem Speicherbereich (Partial-Good-Memories)
1226 DE102005010643A1 Stromsparende differenzielle Breitbandtreiberschaltung
1227 DE102005011893B3 Halbleiterspeicherbauelement und Verfahren zum Prüfen von Halbleiterspeicherbauelementen mit eingeschränktem Speicherbereich (Partial-Good-Memorys)
1228 DE69833415T2 Platz optimierende Anordnung eines Hauptdatenleitungsschalters
1229 EP1688958 Verfahren und Vorrichtung zur Ansteuerung von Festkörper-Elektrolytzellen
1230 DE102005010006A1 Verfahren und Vorrichtung zum Terminieren einer iterativen Turbo-Dekodierung
1231 DE102005010904A1 Spannungsregelschaltung und Verfahren zum Versorgen eines elektrischen Bauelements mit einer Versorgungsspannung
1232 DE112004002091T5 Start-up-Überwachungsschaltkreis
1233 EP1687897 TAKTSIGNAL-EIN-/AUSGABEVORRICHTUNG, INSBESONDERE ZUR KORREKTUR VON TAKTSIGNALEN
1234 DE102005011107A1 Verfahren und Vorrichtung zum Bearbeiten von Wafern auf Montageträgern
1235 DE102005011894A1 Schaltungsanordnung zum Erzeugen eines Synchronisiersignals
1236 DE10115885B4 Anordnung zur Priorisierung eines Interrupts
1237 DE102005002675A1 Verfahren zum Herstellen einer ebenen Spin-on-Schicht auf einer Halbleiterstruktur und Halbleiterstruktur
1238 DE102005012218A1 Halbleiterbauelement sowie Kühlkörperelement für ein Halbleiterbauelement
1239 DE102005009554A1 Verfahren zur Fokuskorrektur eines Belichtungsgeräts bei der lithographischen Projektion und Verfahren zur Auswertung von Messergebnissen eines Messgeräts für die Fokuskorrektur eines Belichtungsgeräts in einer Halbleiterfertigungsanlage sowie Halbleiterfertigungsanlage
1240 DE102005011874A1 Halbleiterspeicherbauelement und Verfahren zum Prüfen von Halbleiterspeicherbauelementen mit eingeschränktem Speicherbereich (Partial-Good-Memorys)
1241 DE102004040459B4 Halbleiterspeichermodul
1242 EP1402632 ARBEITSPUNKTOPTIMIERUNG VON SENDELEISTUNGSVERSTÄRKERN IN MOBILSTATIONEN
1243 EP1518127 TESTVORRICHTUNG FÜR BAUTEILE INTEGRIERTER SCHALTUNGEN
1244 DE102005011106A1 Verfahren zum Herstellen/Lösen einer Verbindung zwischen zwei Wafern und zugehöriger Wafer-Schichtaufbau
1245 DE102004055466B4 Einrichtung und Verfahren zum Messen von Speicherzell-Strömen
1246 DE102005012216A1 Kühlkörper für oberflächenmontierte Halbleiterbauteile und Montageverfahren
1247 EP1687751 CHIPKARTENLESEVORRICHTUNG UND EINE CHIPKARTE ZUM BETREIBEN AN EINER DERARTIGEN LESEVORRICHTUNG
1248 DE102005012632A1 Verfahren und Schaltungsanordnung zur geschützten Übertragung von Datenworten
1249 DE10327283B4 Verfahren und Analog-Digital-Wandler
1250 DE102005030949B3 Verfahren und Vorrichtung zur Stabilisierung einer Übertragungsfunktion eines digitalen Phasenregelkreises
1251 DE10297355B4 Breitbandhochfrequenz-Signalverstärker
1252 DE102005011892A1 Halbleiterspeicherbauelement und Verfahren zum Prüfen von Halbleiterspeicherbauelementen mit eingeschränktem Speicherbereich (Partial-Good-Memorys)
1253 DE102005009360B3 Integrierter Halbleiterspeicher mit aktivierbaren Leseverstärkern
1254 DE102005012684A1 Verfahren zum Steuern eines CMP-Prozesses und Poliertuch
1255 DE102005009544A1 Bauelementanordnung mit einem Lasttransistor und einem Messtransistor
1256 DE102005008476A1 Leitbahnanordnung sowie zugehörige Herstellungsverfahren
1257 DE19930113B4 Vorrichtung und Verfahren zum Filtern eines einen digitalen Datenstrom repräsentierenden Signals
1258 DE102004050370B9 Schichtdickenmessgerät und Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke einer Linerschicht
1259 DE102005009805A1 Lithographiemaske und Verfahren zum Erzeugen einer Lithographiemaske
1260 DE102005009364A1 Verfahren zur Steuerung der Spannungsversorgung eines Halbleiter-Bauelements; sowie Spannungsversorgungs- Steuereinrichtung
1261 DE102005047413A1 Magnetoresistives Sensorelement und Konzept zum Herstellen und Testen desselben
1262 DE102006010744A1 Speichervorrichtung mit Chipexterntreiberaktivierungsschaltung und Verfahren zum Verringern von Verzögerungen während Leseoperationen
1263 DE102005008724A1 Sensor zum Messen eines Magnetfeldes
1264 DE102004057231B4 Verfahren zum Übertragen eines elektrischen Signals und Ausgangstreiberschaltung für ein zu übertragendes elektrisches Signal
1265 DE102005009806A1 Pufferbaustein für ein Speichermodul, Speichermodul und Speichersystem
1266 DE102005010272A1 Halbleiterbauelement sowie Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements
1267 DE102006009561A1 Stapel aus Chips mit einer flexiblen Verbindung
1268 DE102004049744A1 Schaltungsanordnung
1269 DE112004002180T5 Ein Bauelement und ein Verfahren zum Ausbilden von ferroelektrischen Kondensatorbauelementen und FeRAM-Bauelementen
1270 DE102005011386A1 Schaltungseinheit zur Datenbitinvertierung
1271 EP1290702 ANORDNUNG ZUR KOMPENSATION VON TEMPERATURABHÄNGIGEN SCHWANKUNGEN DES OBERFLÄCHENWIDERSTANDS EINES WIDERSTANDS AUF EINEM CHIP
1272 EP1213822 Frequenzbegrenzung und Überlastungsdetektion in einem Spannungsregler
1273 DE10345468B4 Verfahren zur sicheren Ausführung von Programmen
1274 EP1685486 INTERRUPT- UND TRAP-BEHANDLUNG IN EINEM EINGEBETTETEN MEHRTHREAD-PROZESSOR ZUR VERMEIDUNG VON PRIORITÄTSINVERSION UND ZUR AUFRECHTERHALTUNG VON ECHTZEIT-BETRIEB
1275 DE102006008705A1 Optimierung von Brennpunktebenen-Anpassungsfunktionen für ein Bildfeld auf einem Substrat
1276 DE102006008707A1 Optimierende Brennpunktebenen-Anpassungsfunktionen für ein Bildfeld auf einem Substrat
1277 EP1686590 Integrierter Halbleiterspeicher mit einer Anordnung nichtflüchtiger Speicherzellen und Verfahren
1278 DE102004004561B4 Mikroprozessor mit einer energieeinsparenden Hol- und Dekodiereinheit zum Holen und Decodieren von komprimierten Programmbefehlen und mit einer Programmbefehlsfolgesteuerung
1279 DE10143515B4 Maskenanordnung für einen Abbildungsprozess, Verfahren zu deren Herstellung sowie Verfahren zum optischen Abbilden bzw. zum Herstellen eines Kompensationsbauelements
1280 EP1684303 Pulsgesteuerter Wortleitungstreiber
1281 DE102005009874A1 Verfahren zur Signalisierung eines Zustandes oder Ereignisses
1282 DE112004002181T5 Verfahren und Schaltungskonfiguration zum Auffrischen von Daten in einem Halbleiterspeicher
1283 DE102004042338B4 MRAM mit verbesserten Speicher- und Ausleseeigenschaften
1284 DE102005007840A1 Schräge Kontakte
1285 DE112004001903T5 Optische Messung von Strukturmerkmalen von Bauelementen unter Verwendung einer Beleuchtung durch ein Mikrolinsen-Array
1286 EP1684304 Neuartige Anbindung organischer Moleküle an eine Siliziumoberfläche zur Herstellung von Speicherelementen mit organischen Bestandteilen
1287 EP1332499 MAGNETORESISTIVER SPEICHER (MRAM)
1288 DE102006002889A1 Erzeugen einer internen Referenzspannung zum Testen von integrierten Schaltkreisen
1289 DE102006002888A1 Direktzugriffsspeicher mit niedriger Anfangslatenz
1290 EP1683264 FREQUENZGENERATOR
1291 DE19960557B4 Integrierter dynamischer Halbleiterspeicher mit zeitlich gesteuertem Lesezugriff
1292 EP1389359 GLEICHSPANNUNGSWANDLER MIT SCHALTREGLER
1293 DE102005023911A1 Halbleiterschaltungsvorrichtung und Verfahren zum Betreiben der Halbleiterschaltvorrichtung
1294 EP1278118 Verfahren und Vorrichtung zum Verarbeiten von Befehlen, die in einer Mehrzahl von Gruppen gruppiert sind
1295 EP1181767 QUARTZ-OSZILLATOR
1296 DE102005009083A1 Multithread-Prozessor mit einer Synchronisationseinheit und Verfahren zum Betreiben eines solchen
1297 DE102005008392A1 FeRAM-Speicherzelle sowie FeRAM-Speicherschaltung zum Beschreiben und Auslesen einer FeRAM-Speicherzelle
1298 EP1682922 ORTUNGSANORDNUNG, INSBESONDERE LOSBOXEN-LOKALISIERUNGSSYSTEM, KENNZEICHENEINHEIT UND VERFAHREN ZUR ORTSBESTIMMUNG
1299 DE102005008988A1 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Ausgangsfolge aus einer Eingangsfolge
1300 DE19734928B4 Schaltungsanordnung zur Ansteuerung induktiver Lasten
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