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No Patent No Titel
1401 DE102005004370A1 Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines über eine Übertragungsstrecke zu übertragenden Sendesignals
1402 DE102005004435A1 BAW-RESONATOR
1403 DE102005005326A1 Synchronisations- und Datenrückgewinnungseinrichtung
1404 DE102005003475A1 Neuartige Anbindung organischer Moleküle an eine Siliziumoberfläche zur Herstellung von Speicherelementen mit organischen Bestandteilen
1405 DE60208376T2 Verfahren zum Speichern von Fehlern einer Speichervorrichtung in einem Diagnosefeld mit minimaler Speicherkapazität
1406 DE102005002678A1 Ritzrahmen mit verbesserter Füllroutine
1407 DE102005003000A1 Halbleiterprodukt mit einem Halbleitersubstrat und einer Teststruktur und Verfahren
1408 DE102005002801A1 Verfahren zur Rake-Finger-Platzierung mit zuverlässiger Pfad-Detektion
1409 DE102005002748A1 Behälter sowie System und Verfahren zum automatischen Prüfen der Vollständigkeit des Inhalts des Behälters
1410 DE102005003016A1 Verfahren und Vorrichtungen zur Datenübertragung
1411 DE102005004070B3 Verfahren zum Entfernen von Defektmaterial einer Lithographiemaske
1412 DE102005002812A1 Kühlkörper für oberflächenmontierte Halbleiterbauteile und Montageverfahren
1413 EP0952661 Schaltungsanordnung für eine Ladungspumpe und Spannungsreglerschaltung mit einer derartigen Schaltungsanordnung
1414 DE102005001894A1 Synchroner Parallel-Serienwandler
1415 DE102004049481A1 Analog-Digital-Wandler
1416 DE60303045T2 AUFFRISCHEN VON MEHRPORTSPEICHER IN INTEGRIERTEN SCHALTUNGEN
1417 DE102006003933A1 Integrierte Speichereinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer integrierten Speichereinrichtung
1418 DE102005004425A1 Komparator-Schaltungsanordnung, insbesondere für Halbleiter-Bauelemente
1419 DE102005003025A1 PMC-Speicherschaltung sowie Verfahren zum Speichern eines Datums in einer PMC-Speicherschaltung
1420 EP1408516 Interface zum Durchbrennen von Schmelzsicherungen für ein Speicherchip
1421 DE102004053127B4 Schaltungsanordnung mit schaltbarer Ladungsneutralität und Verfahren zum Betreiben einer Dual-Rail-Schaltungsanordnung
1422 DE112004001843T5 System und Verfahren zum automatischen Erkennen von Softfehlern in Latches einer integrierten Schaltung
1423 DE102005001679A1 Mikroprozessor-Einrichtung, und Branch-Prediktions-Verfahren
1424 DE102005001953A1 Verfahren und Schaltungsanordnung zur Überprüfung eines Datensatzes mit mehreren Datenworten
1425 DE10122621B4 Verfahren zum Bestimmen einer Referenztaktphase aus bandbegrenzten digitalen Datenströmen
1426 EP1242853 ELEKTRONISCHE SCHALTUNG
1427 DE102006001999A1 Signalneuverteilung unter Verwendung einer Brückenschicht für ein Mehrchipmodul
1428 DE102005003139A1 ESD-geschütztes Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
1429 DE102005057448A1 Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines Hochfrequenzsignals
1430 DE102005001025A1 Multithread-Prozessor mit Kontext-Umschaltung ohne Einschränkungen und/oder Zyklenverlust und Verfahren zum Betreiben eines solchen
1431 DE102005001725A1 Identifizierbare Verpackung
1432 DE102005001667A1 Nichtflüchtige Speicherzelle zum Speichern eines Datums in einer integrierten Schaltung
1433 DE102005002862A1 Vefahren zur Herstellung eines FBGA-Bauelementes und Substrat zur Durchführung des Verfahrens
1434 DE102005041266A1 Multichip-Anordnung sowie ein Verfahren zur Herstellung einer Multichip-Anordnung
1435 DE102005003248A1 Verfahren zum Testen der Gate-Isolation eines integrierten Leistungstransistors und Bauelementanordnung mit einem integrierten Leistungstransistor
1436 EP1668515 WORTINDIVIDUELLE SCHLÜSSELERZEUGUNG
1437 EP1668516 ENTSCHLÜSSELUNG BZW. VERSCHLÜSSELUNG BEI SCHREIBZUGRIFFEN AUF EINEN SPEICHER
1438 DE102005002529A1 Verfahren zum Erzeugen eines Abbildungsfehler vermeidenden Maskenlayouts für eine Maske
1439 DE102005002533A1 Verfahren zum Erzeugen eines Abbildungsfehler vermeidenden Maskenlayouts für eine Maske
1440 DE102005003390A1 Substrat für ein FBGA-Halbleiterbauelement
1441 DE102005003184A1 Dreitonmaske, Verfahren zu deren Herstellung und Verwendung einer Dreitonmaske
1442 DE102005003298A1 Elektronisches Bauelement für Hochfrequenz-Anwendungen und Verfahren zum Herstellen eines elektronischen Bauelements für Hochfrequenz-Anwendungen
1443 DE60023583T2 Pulslängendetektor
1444 DE102005001956A1 Verfahren und Vorrichtung zur Datenübertragung mit einer DSL-Technik
1445 DE102005002522A1 Verfahren und Vorrichtung zur Übermittlung eines Kommunikationssignals und eines Datensignals
1446 DE102005001718A1 Integrierte Schaltkreisanordnung und Verfahren zum Herstellen einer elektrischen leitfähigen Verbindung in einer Verdrahtungsebene in einer integrierten Schaltkreisanordnung
1447 EP1521156 Regelungssystem
1448 DE102005001902A1 Verfahren zur Herstellung einer sublithographischen Kontaktstruktur in einer Speicherzelle
1449 EP1668680 VERFAHREN ZUM ERZEUGEN EINER HARTMASKE UND HARTMASKEN-ANORDNUNG
1450 DE102005001684A1 Schnellstartschaltung für Quarz-Oszillatoren
1451 EP1402536 LADUNGSGEKOPPELTE EEPROM ANORDNUNG UND DAZUGEHÖRIGES BETRIEBSVERFAHREN
1452 DE102005001520A1 Integrierte Speicherschaltung und Verfahren zum Reparieren eines Einzel-Bit-Fehlers
1453 DE10354113B4 Übertragungsvorrichtung mit variabler Impedanzanpassung
1454 DE102005001723A1 Anordnung und Verfahren zum Steuern einer Datenverarbeitungseinrichtung unter Verwendung eines graphischen Codes, computerlesbares Speichermedium und Computerprogramm-Element
1455 DE102004028030B4 Katalytisches Beschichtungsverfahren für strukturierte Substratoberflächen und mit einer Siliziumdioxid-Dünnschicht beschichtetes Substrat mit einer strukturierten Oberfläche
1456 DE102006000615A1 Materialien mit hoher Dielektrizitätskonstante
1457 DE102005002570A1 Ansteuerschaltung für zwei Schaltwandlerstufen eines Spannungswandlers
1458 EP1670064 Monolithisch integrierter Kondensator und dessen Herstellungsmethode
1459 DE102004031436B4 Einrichtung und Verfahren zum Kalibrieren eines Halbleiter-Bauelement-Test-Systems, insbesondere einer probecard bzw. eines Halbleiter-Bauelement-Testgeräts
1460 DE102005000688A1 Verfahren zum Bestimmen einer Oberfläche von Vertiefungen in einem Trägersubstrat
1461 DE10007607B4 Ausfallsichere Überspannungsschutzschaltung
1462 DE112004001838T5 Spannungstrimmschaltung
1463 DE102006000614A1 Verfahren zur Steuerung von Grenzflächeneigenschaften für Kondensatoren unter Verwendung einer Metall-Flash-Schicht
1464 DE102004063560A1 Kapazitive Struktur und Verfahren zur Herstellung einer kapazitiven Struktur
1465 DE102005048107A1 Verfahren zum Bestimmen einer optimalen Absorber-Schichtenstapelgeometrie für eine lithographische Reflexionsmaske
1466 EP1664811 ELEKTRONISCHER SHALTKREIS, SCHALTKREIS-TESTANORDNUNG UND VERFAHREN ZUM ERMITTELN DER FUNKTIONSFÄHIGKEIT EINES ELEKTRONISCHEN SCHALTKREISES
1467 DE102005060943A1 Verfahren zur Steuerung der Burstlänge einer Datenübertragung
1468 DE112004001830T5 Datenübertragungssystem mit reduziertem Leistungsverbrauch, Verfahren und Übertragungsschaltung
1469 EP1665104 VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINER ELEKTRISCHEN SCHALTUNG
1470 EP1665105 VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINER ELEKTRISCHEN SCHALTUNG
1471 EP1665529 MASTER-LATCHSCHALTUNG MIT SIGNALPEGELVERSCHIEBUNG FÜR EIN DYNAMISCHES FLIP-FLOP
1472 DE102005005102B3 Photolithographische Maske
1473 DE102005005591B3 Verfahren zur Optimierung der Geometrie von Strukturelementen eines Musters eines Schaltungsentwurfs für eine Verbesserung der optischen Abbildungseigenschaften und Verwendung des Verfahrens zur Herstellung einer Photomaske
1474 DE112004001530T5 Versiegelte Poren in Damascene-Strukturen mit Low-k-Material
1475 EP1184870 Elektronische Treiberschaltung für Wortleitungen einer Speichermatrix und Speichervorrichtung
1476 DE112004001676T5 Direktzugriffsspeicher mit Postampel-Datenübernahmesignal-Rauschunterdrückung
1477 DE102006001082A1 Belastungszykluskorrektor
1478 DE112004001788T5 Ein Verfahren zum Herstellen eines ferroelektrischen Kondensators und ein ferroelektrisches Kondensatorbauelement
1479 DE102004046404B4 Schaltungsanordnung und Verfahren zum Bestimmen einer Frequenzdrift in einem Phasenregelkreis
1480 DE102005001123A1 Kommunikationssystem, Verfahren zum Steuern eines Kommunikationssystems, Netzzugangsvorrichtung und Verfahren zum Steuern einer Netzzugangsvorrichtung
1481 DE102005000812A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit Testschaltung für Leseverstärker
1482 DE102005055651A1 Energieangepasste Schreibimpulse in Phasenwechselspeichern
1483 DE102005055652A1 Mehrimpuls-Rücksetz-Schreibschema für Phasenwechselspeicher
1484 DE102005025167B3 Multi-Bit-Virtual-Ground-NAND-Speichereinheit
1485 DE102005000809A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit nichtflüchtiger Speicherung von Daten
1486 DE102005061911A1 Verzögerungsregelschleife, die eine Synchronspiegelverzögerung verwendet
1487 DE69734112T2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR RUFABSCHALTUNGSERKENNUNG
1488 DE102004062825A1 Kryptographische Einheit und Verfahren zum Betreiben einer kryptographischen Einheit
1489 DE102005000801A1 Vorrichtung, Anordnung und System zum ESD-Schutz
1490 DE102004061738A1 Treiberschaltung für Binärsignale
1491 DE102004063641A1 Nichtflüchtige Speichereinrichtung zum Speichern von Daten und Verfahren zum Löschen oder Programmieren derselben
1492 DE102005011374B3 Sicheres und schnelles Rechenwerk für Addiereschaltungen von Kryptographieprozessoren
1493 DE102004047511B4 Testvorrichtung und Verfahren zum Testen von Analog-Digital-Wandlern
1494 DE102004062282A1 Speicheranordnung und Verfahren zur Verarbeitung von Daten
1495 DE102005057169A1 Variable Pipeline-Schaltung
1496 DE102005056350A1 Integrierte DRAM-Speichervorrichtung
1497 DE102005021653A1 Oberflächenmontierbares Halbleiterbauteil und Schaltungsträger mit oberflächenmontiertem Halbleiterbauteil sowie Verfahren zur Herstellung derselben
1498 DE102005048850A1 Speichervorrichtung und Verfahren zum Empfangen von Instruktionsdaten
1499 DE112004001704T5 Verfahren zum Auffrischen eines Speichers und integrierter Schaltkreis, der einen auffrischbaren Speicher enthält
1500 DE102004062203A1 Datenverarbeitungseinrichtung, Telekommunikations-Endgerät und Verfahren zur Datenverarbeitung mittels einer Datenverarbeitungseinrichtung
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