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No Patent No Titel
1801 DE10123594B4 Integrierte Halbleiterschaltung mit unterschiedlich häufig geschalteten Transistoren
1802 DE102004013635B4 Verfahren zur Vergabe von Buszugriffsrechten in Multimaster-Bussystemen, sowie Multimaster-Bussystem zur Durchführung des Verfahrens
1803 DE102004047702A1 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines Schätzfehlers eines Entscheiders
1804 DE102005042269A1 Speichersystem mit zwei Taktsignalleitungen und einer Speichervorrichtung
1805 DE102004048261A1 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer optimierten Abtastphase zum Abtasten von Daten
1806 DE102004008227B4 Polyphasen-Auswahl in Dezimationseinrichtungen von Mobilfunkempfängern zum Ausregeln einer fraktionalen Verzögerung
1807 EP1614126 MAGNETISCHES ELEMENT MIT GERINGER UMSCHALT-FELDSTÄRKE
1808 DE102004041555A1 Verfahren zur Herstellung von molekularen Speicherfeldern mit selbstorganisierten Monolagen und gedruckten Elektroden
1809 EP1618570 SPEICHER-SCHALTUNGSANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG
1810 DE102004048201A1 Schicht zwischen Grenzflächen unterschiedlicher Komponenten in Halbleiterbauteilen, sowie Verfahren zu deren Herstellung
1811 DE102005047369A1 Flexible Mischvorrichtung
1812 DE102004047659A1 Verfahren zur Herstellung eines Flansches für ein Halbleiterbauelement sowie nach diesem Verfahren hergestellter Flansch
1813 DE102004047764A1 Speicheranordnung, Verfahren zum Betrieb und Verwendung einer solchen
1814 DE102004047510A1 Halbleiterbauteil mit in Kunststoffgehäusemasse eingebetteten Halbleiterbauteilkomponenten
1815 DE112004001023T5 Strukturierung eines magnetischen Tunnelübergangs unter Verwendung von SiC oder SiN
1816 DE102004046699A1 Anordnung zum Verbinden von Kontaktflächen durch eine sich verfestigende Flüssigkeit
1817 DE112004001017T5 Integrationsschema zum Vermeiden von Plasmaschäden in MRAM Technologie
1818 DE102004045727B3 System umfassend einen Mikrocontroller bzw. Mikroprozessor und eine Schnittstellen-Einrichtung, sowie Verfahren zum Betreiben eines derartigen Systems
1819 DE102004047765A1 Spannungsversorgungsanordnung und Verfahren zum Betriebe einer solchen
1820 EP1620790 VERFAHREN UND PROGRAMMGESTEUERTE EINHEIT ZUR BITFELDVERSCHIEBUNG
1821 DE102005047066A1 Verstärkeranordnung mit einstellbarer Verstärkung und Verwendung derselben
1822 EP1407348 VERFAHREN ZUM ANSTEUERN EINER ZENTRALEN VERARBEITUNGSEINHEIT FÜR EINE ADRESSIERUNG BEZÜGLICH EINES SPEICHERS UND CONTROLLER
1823 DE102004047307A1 Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung einer strukturierten Probenoberfläche
1824 DE102004044039A1 Verfahren zur Entwicklung und/oder Herstellung von Halbleiter-Chips
1825 DE102004047666A1 Speicher mit Widerstandsspeicherzelle und Bewertungsschaltung
1826 DE102004047638A1 Nichtflüchtige Speicherzelle und Verfahren zum Betreiben einer nichtflüchtigen Speicherzelle
1827 DE102005042427A1 Speichervorrichtung, Speichersteuereinheit und Speichersystem mit bidirektionalen Taktsignalleitungen
1828 DE102004048238A1 Feldeffekttransistor mit geknicktem oder gebogenem Gatebereich
1829 DE102004046865A1 Identifikations-Datenträger, Lese-Vorrichtung, Identifikations-System und Verfahren zum Betreiben eines Identifikations-Systems
1830 DE102004047058A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit Testschaltung
1831 DE102004047306A1 Leistungs-Halbleiterbauteil
1832 DE102004047249A1 Lithographieverfahren zur Herstellung hochaufgelöster Fotoresiststrukturen
1833 DE10153497B4 Verfahren zur Silylierung von Fotoresists im UV-Bereich
1834 DE10339894B4 Leseverstärker-Zuschalt/Abschalt-Schaltungsanordnung
1835 DE4433738B4 Doppelbrechungsarmer planarer optischer Wellenleiter und Verfahren zu seiner Herstellung
1836 DE102004052865A1 Verfahren zur Ansteuerung eines Schalters in einem freischwingend betriebenen Schaltwandler und Schaltwandler
1837 DE102004043663A1 Halbleitersensorbauteil mit Hohlraumgehäuse und Sensorchip und Verfahren zur Herstellung eines Halbleitersensorbauteils mit Hohlraumgehäuse und Sensorchip
1838 DE102004046483A1 Verfahren zur Herstellung einer Schichtstruktur mit Metall-Isolator-Übergängen auf einem halbleitenden Substrat
1839 DE102004047330A1 Integrierter Halbleiterspeicher
1840 DE102004045210A1 Sensor-Anordnung und Verfahren zum Ermitteln eines Sensorereignisses
1841 DE102004046429A1 Schnittstellen-Einrichtung
1842 DE102004046404A1 Schaltungsanordnung und Verfahren zum Bestimmen einer Frequenzdrift in einem Phasenregelkreis
1843 DE102004041553A1 Testverfahren zum Bestimmen der Verdrahtung von Schaltungsträgern mit darauf angeordneten Bauelementen
1844 DE102004056478B3 Verfahren und Vorrichtung zum Empfang von modulierten analogen Signalen
1845 DE102004013733B4 Halbleiterbauteil in Stapelbauweise mit einem optisch aktiven Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung
1846 DE102004046258A1 Bad und Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Palladium
1847 DE102004046957A1 Verfahren und Schaltungsanordnungen zum Abgleichen von Signallaufzeiten in einem Speichersystem
1848 EP1615122 Gerät zum Berechnen des Logarithmus eines binären Wertes
1849 DE10162260B4 Integrierter Speicher mit einer Vorladeschaltung zur Vorladung einer Bitleitung
1850 EP1191693 Schaltungsanordnung zur Erfassung des Stromes in einem Lasttransistor
1851 DE102004052440B3 Verfahren zum rechnergestützten Verwalten einer Telekommunikations-Konferenz und Telekommunikation-Konferenz-Servereinrichtungen
1852 DE10325884B4 Vorrichtung und Verfahren zum elektrischen Verbinden eines elektrischen Leiters mit einem elektronischen Bauelement
1853 EP1065852 Trelliskode für Kanäle mit eweiterter Teilantwort und Maximalwahrscheinlichkeitsschätzung
1854 DE102004046438A1 Vorrichtung zum Steuern des Zugriffs von Verarbeitungseinrichtungen auf Speicher in einem eingebetteten System
1855 DE102004048202A1 Verfahren zur Vereinzelung von oberflächenmontierbaren Halbleiterbauteilen und zur Bestückung derselben mit Außenkontakten
1856 DE102004042941B3 Hochfrequenzmodul mit Filterstrukturen und Verfahren zu dessen Herstellung
1857 DE102004045709A1 Verfahren zur Einstelllung eines Verstärkers und entsprechende Verstärkerschaltung
1858 DE102004008701B4 Schaltung mit einer veränderbaren Kapazität und Verfahren zum Betreiben einer Schaltung mit einer veränderbaren Kapazität
1859 DE102004046405A1 Copolymer, Zusammensetzung enthaltend das Copolymer und Verfahren zur Strukturierung eines Substrats unter Verwendung der Zusammensetzung
1860 DE102004047511A1 Testvorrichtung und Verfahren zum Testen von Analog-Digital-Wandlern
1861 DE102004045854A1 Halbleitersensor mit einem Hohlraumgehäuse und Verfahren zur Herstellung desselben
1862 DE102004046349A1 Logarithmiererschaltung und hochlineare Differenzverstärkerschaltung
1863 DE102004044982A1 Drucksensorvorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben
1864 DE102005043913A1 Verfahren zur Herstellung einer dotierten Zone in einem Halbleiterkörper
1865 EP1616355 BIPOLARTRANSISTOR UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DESSELBEN
1866 DE10260606B4 Vorrichtung zur Übersetzung mehrerer virtueller Adressen auf eine einzige physikalische Adresse
1867 EP1612936 Taktsteuerzelle
1868 DE10260656B4 Verfahren und Vorrichtung zum Extrahieren einer einem Datenstrom zugrundeliegenden Taktfrequenz
1869 EP1612934 Klasse-D Verstärker
1870 DE102004041921A1 Phasenschiebermaske und Verfahren zu ihrer Herstellung
1871 DE102004043680A1 Verfahren zur Erzeugung eines Ansteuersignals für einen Schalter in einem freischwingenden Schaltwandler und Ansteuerschaltung
1872 DE102004045219A1 Anordnung und Verfahren zum Auslesen von Widerstandsspeicherzellen
1873 DE102004043051A1 Loop-back-Verfahren zur Vermessung des Interface-Timings von Halbleiterspeichervorrichtungen unter Verwendung des Normal-Mode-Speichers
1874 DE102004044422B3 Kalibrierungsschaltung für eine Treibersteuerschaltung und Treibersteuerschaltung
1875 DE69923469T2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER EIGENSCHAFTEN EINES ÜBERTRAGUNGSKANALS
1876 DE102004025576B4 Sende-und Empfangsanordnung mit einer Regelung zur Störsignalunterdrückung
1877 DE102004044150A1 Verbesserte künstliche Alterung von Chips mit Speicher
1878 DE102004047813A1 Halbleiterbaustein mit einer Umlenkschaltung
1879 DE10211932B9 Schaltungsanordnung zum Auslesen, Bewerten und Wiedereinlesen eines Ladungszustandes in eine Speicherzelle
1880 DE102004044407A1 Schaltung zur Bereitstellung eines Selektionssignals für einen Regelwert einer Regelgröße
1881 DE10138883B4 Verfahren sowie Vorrichtung zur synchronen Signalübertragung zwischen Logik-/Speicherbausteinen
1882 DE102004042362B3 Integrierter Halbleiterspeicher mit mindestens einer Wortleitung und Verfahren
1883 DE102004027372B4 DPA-resistente konfigurierbare Logikschaltung
1884 DE10338688B4 Spannungspegelwandleranordnung
1885 DE102004043857B3 DRAM-Zellenpaar und DRAM-Speicherzellenfeld mit Stack- und Trench-Speicherzellen sowie Verfahren zur Herstellung eines DRAM-Speicherzellenfeldes
1886 DE102004042994A1 Verfahren und Vorrichtung zur Echounterdrückung
1887 EP1611514 PROGRAMMGESTEUERTE EINHEIT
1888 EP1611515 PROGRAMMGESTEUERTE EINHEIT
1889 EP1611516 PROGRAMMGESTEUERTE EINHEIT
1890 EP1611517 PROGRAMMGESTEUERTE EINHEIT
1891 DE102004044603A1 Oberflächenmontierbares Halbleiterbauteil und Schaltungsträger mit oberflächenmontiertem Halbleiterbauteil sowie Verfahren zur Herstellung derselben
1892 DE102004046822A1 Verfahren zum Übertragen von Daten zwischen einem Speicher und mehreren peripheren Einheiten mit Hilfe einer Direct Memory Access-Steuerung sowie entsprechende Direct Memory Access-Steuervorrichtung
1893 DE102004042300A1 Lithographieverfahren zur Herstellung hochaufgelöster Fotoresiststrukturen durch Wärmebestrahlung
1894 DE102004044668A1 Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen einer Schaltung auf Einhaltung von Setup- und Holdzeiten
1895 DE102005010622B3 Verfahren sowie Anordnung zur Frequenzmodulation und/oder Frequenzumtastung
1896 DE102004036546A1 Integrierter Halbleiterspeicher
1897 DE102005034667A1 Einkapseln von Leiterbahnen von Halbleiter-Einrichtungen
1898 DE10245928B4 Verfahren zur strukturierten, selektiven Matallisierung einer Oberfläche eines Substrats
1899 DE10134989B4 Chipkarte mit einem Kartenkörper
1900 DE102004063946A1 Transistor
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