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No Patent No Titel
101 DE102006047243A1 Bordnetz mit mindestens einem Leistungstransistor und Verfahren zum Schutz eines Bordnetzes
102 DE102006023429A1 ESD-Schutz-Element und ESD-Schutz-Einrichtung zur Verwendung in einem elektrischen Schaltkreis, Verfahren zum Herstellen eines ESD-Schutz-Elementes
103 DE102006023046A1 Verfahren, Vorrichtung und Ausgangsmaterial zum Bereitstellen eines gasförmigen Precursors
104 DE102006023608A1 Programmierbare resistive Speicherzelle mit einer programmierbaren Widerstandsschicht
105 DE102006023609A1 Programmierbare resistive Speicherzelle mit einer programmierbaren Widerstandsschicht
106 DE102004034768B4 Identifikations-Datenträger
107 DE102006022360A1 Abschirmvorrichtung
108 DE102006022066A1 ESD-Schutzschaltung
109 DE102006019888A1 Verstärker mit ESD-Schutz
110 DE102006001997B4 Halbleiterschaltungsanordnung
111 DE102006022126A1 Verfahren zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes, Verfahren zum Herstellen eines Thyristors, Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors, elektronisches Bauelement, Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor, elektronische Bauelement-Anordnung
112 DE102006022748A1 Halbleiterbauteil mit oberflächenmontierbaren Bauelementen und Verfahren zu seiner Herstellung
113 DE102006022475A1 Verfahren zum Ausgleichen einer durch eine Temperaturänderung hervorgerufenen Positionsänderung einer Nadelkarte
114 DE102006019681A1 Integrierte Schaltungsanordnung zur Stromregelung
115 DE102006008632B4 Leistungshalbleiterbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung
116 DE102006022105A1 ESD-Schutz-Element und ESD-Schutz-Einrichtung zur Verwendung in einem elektrischen Schaltkreis
117 EP1543525 MEHRPORT-SPEICHERZELLEN
118 DE602004004533T2 PHASENMISCHSCHALTUNG MIT VERZÖGERTEM REGELKREIS
119 DE102006022254A1 Halbleiterbauteil mit in Kunststoffgehäusemasse eingebetteten Halbleiterbauteilkomponenten
120 DE102006021959A1 Leistungshalbleiterbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung
121 DE102006023439A1 Halbleiterspeicherbauelement und Herstellungsverfahren für das Halbleiterspeicherbauelement
122 DE60217504T2 VERSTÄRKER MIT VARIABLER VERSTÄRKUNG FÜR EINEN OFFENEN REGELKREIS UNTER VERWENDUNG EINER REPLIKATVERSTÄRKERZELLE
123 DE102007019686A1 Verbindungsstruktur, elektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung derselben
124 EP1630913 Verfahren zum Herstellen eines mit einem Kunststoffgehäuse versehenen optischen oder elektronischen Moduls das eine optische oder elektronische Komponente enthält, sowie optisches oder elektronisches Modul
125 DE102006022067A1 Herstellungsverfahren für ein elektronisches Bauelement und elektronisches Bauelement
126 DE102005044194B4 Messvorrichtung und Verfahren zum Messen von relativen Phasenlagen von digitalen Signalen
127 DE102006021389A1 Schaltungsanordnung und Verfahren zum Betreiben einer Schaltungsanordnung
128 DE102006020869A1 Verfahren zur Stapelung von Halbleiterchips und durch das Verfahren hergestellter Halbleiterchipstapel
129 DE102004041656B4 Phasenregelkreis und Verfahren zum Abgleichen eines Schleifenfilters
130 DE102006007993B4 Testhilfseinrichtung in einem Speicherbaustein
131 DE102006018149A1 Brücken-Treiberschaltung mit integrierter Ladungspumpe
132 DE102006018921A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit Auffrischung von Speicherzellen
133 DE102006020179A1 Halbleiterwiderstandsspeicherbauelement und Herstellungsverfahren
134 DE102005027691B4 Schaltanordnung zur Aktivierung eines Schaltungsblocks und Verfahren hierzu
135 DE102004039830B4 Verstärkerschaltung mit einstellbarer wertdiskreter Verstärkung, Verwendung der Verstärkerschaltung und Verfahren zum Betreiben eines wertdiskret einstellbaren Verstärkers
136 DE102006019902A1 Verfahren zur Bestimmung eines Flächeninhalts einer Oberfläche eines Grabens sowie Verwendung zur Herstellung eines Grabenkondensators
137 DE102005061995B4 Speicherschaltung mit einem Widerstandselement und Verfahren zum Betreiben einer solchen Speicherschaltung
138 DE102004012555B4 Verfahren zur Ausbildung einer integrierten Schaltung mit Grabenisolation
139 DE102006012739B3 Leistungstransistor und Leistungshalbleiterbauteil
140 DE102006019962A1 Imprint-Maske und Verfahren zum Ausrichten der Imprint-Maske
141 DE102006019887A1 Multifunktions-RF-Schaltung
142 DE69934937T2 Integrierte Schaltung mit Ausgangstreiber
143 DE102006019505A1 Verfahren zur Herstellung einer strukturierten Bodenelektrode in einem piezoelektrischen Bauelement
144 DE102006019886A1 Radarsystem
145 DE10335643B4 Vorrichtung und Verfahren zum Steuern des Zugriffs von mehreren Datenverarbeitungseinrichtungen auf einen Speicher
146 EP1548938 Dünnfilmresonator-Abzweigfilter und Verfahren zur Erdung dieser Filter
147 DE102006019889A1 Digitale Matched-Filter-Empfängerschaltung
148 DE102006019885A1 Verfahren zum Betrieb einer digitalen Empfängerschaltung und digitale Empfängerschaltung
149 DE102004010002B4 Maskenhalter zum Halten einer lithografischen Reflexionsmaske und Verfahren
150 DE102004017527B4 Transceiverschaltung und Verfahren zur Bereitstellung von Lokaloszillatorsignalen in einer Transceiverschaltung
151 DE102006005818B4 Fehlererkennungsvorrichtung und Verfahren zur Fehlererkennung für einen Befehlsdecoder
152 DE102006020098A1 Speicherschaltung und Verfahren zum Auffrischen von dynamischen Speicherzellen
153 DE10147956B4 Halbleiterspeichereinrichtung
154 DE102006019908A1 Integrierter Halbleiterspeicher zur Programmierung eines Programmierzustands
155 DE102006019507A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit Testfunktion und Verfahren zum Testen eines integrierten Halbleiterspeichers
156 DE102006024215A1 Fehlerreduzierte Halbleiterspeichereinrichtung und Zuordnungsverfahren
157 DE102007018316A1 Speichervorrichtung mit gemeinsam genutzter Referenz und entsprechendes Verfahren
158 DE102006019925A1 Chipmodul, Chipkarte und Verfahren zum Herstellen dieser
159 DE102006009978A1 Leistungshalbleitermodul
160 EP1523695 DUESENANORDNUNG ZUM AUFBRINGEN EINER FLUESSIGKEIT AUF EIN SUBSTRAT
161 DE10333280B4 Halbleiter-Speicherbauelement, Vorrichtung mit Halbleiter-Speicherbauelement und Verfahren zum Betrieb eines Halbleiter-Speicherbauelements, wobei Speicherzellen aktiviert, und fallweise vorzeitig deaktiviert werden
162 DE102005053625B4 Speichermodul mit einer Mehrzahl von Speicherbausteinen
163 DE102006020107B3 Datenempfänger mit Taktrückgewinnungsschaltung
164 DE102006008284B3 Schaltung mit einer Anordnung zur Detektion einer unterbrochenen Anschlussleitung
165 EP1443647 Komparatorschaltung und Verfahren dazu
166 DE102006017048A1 Verfahren und Vorrichtung zur Bereitstellung einer geregelten Spannung an einem Spannungsausgang
167 DE102006018874A1 Schaltungsanordnung zur Koppelung einer Spannungsversorgung an ein Halbleiterbauelement, Verfahren zur Herstellung der Schaltungsanordnung sowie Datenverarbeitungsgerät umfassend die Schaltungsanordnung
168 DE102006018474A1 Testvorrichtung für Halbleiterelemente auf einem Halbleiterwafer sowie ein Testverfahren unter Verwendung der Testvorrichtung
169 DE102006018765A1 Leistungshalbleiterbauelement, Leistungshalbleiterbauteil sowie Verfahren zu deren Herstellung
170 DE60215151T2 DAW RÜCKKOPPLUNG IN EINER ANALOGEN EINGANGSSCHALTUNG
171 DE102005052702B4 Synchronisationsschaltung zur Synchronisation von PWM-Modulatoren
172 DE102006019244A1 Nutzen und Halbleiterbauteil aus einer Verbundplatte mit Halbleiterchips und Kunststoffgehäusemasse sowie Verfahren zur Herstellung desselben
173 DE102006016536A1 Schaltungsvorrichtung mit einer einstellbaren Stromversorgungseinheit
174 DE102006015114A1 Integrierter Halbleiterspeicher mit Erzeugung von Daten
175 DE102004057485B4 Leistungshalbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
176 DE102006016345A1 Halbleitermodul mit diskreten Bauelementen und Verfahren zur Herstellung desselben
177 DE102006015789A1 Prozessor-Anordnung, Verfahren zum Austauschen von Konfigurationsdaten und/oder Kommunikationsdaten zwischen einem ersten Prozessor und mehreren zweiten Prozessoren und Computerprogrammelement
178 DE102006015782A1 Vorrichtung zur Speicherung und drahtlosen Übertragung von Daten
179 DE69934717T2 LEISTUNGSTRANSISTORANORDNUNG HÖHER FREQUENZ
180 DE102006017252A1 Einstellen einer spektralen Sendeleistungsdichte eines Teilnehmergeräts eines Kommunikationsnetzes
181 DE102006017059A1 Halbleiter-Bauelement-System, sowie Verfahren zum Modifizieren eines Halbleiterbauelements
182 DE102006017668A1 Verfahren zur Herstellung von Leistungshalbleiterbauteilen und Verwendung von Farbstoffen
183 EP1628216 Verfahren und System zum Teilen eines Speichermoduls
184 DE102006017546A1 Verfahren und System zum Testen einer Speichervorrichtung
185 DE102004062885B4 Anordnung mit einer elektronischen Leiterplatte und mindestens einem Halbleiterbaustein und Verfahren
186 DE102004007398B4 Konfigurierbare Gate-Array-Zelle mit erweiterter Gate-Elektrode
187 DE102006014795A1 Vorrichtung und Verfahren zur Datenübertragung zwischen durch ein Gelenk verbundene Baueinheiten
188 DE102006017768A1 Integrierter Speicherbaustein sowie Verfahren zum Betrieb eines integrierten Speicherbausteins
189 DE102006017767A1 Speichersystem mit integrierten Speicherbausteinen sowie Verfahren zum Betrieb eines Speichersystems
190 DE102006017245A1 Datenübertragungsvorrichtung
191 DE102006017115A1 Halbleiterbauteil mit einem Kunststoffgehäuse und Verfahren zu seiner Herstellung
192 DE102006017307A1 Front-End-Modul mit zwei Eingängen zum Entgegennehmen von Sendesignalen
193 DE102006016761A1 Sendevorrichtung und Verfahren zum Übertragen eines Datensignals
194 EP1495863 Verfahren und eine Vorrichtung zur Herstellung eines Flächengebildes
195 DE102006016419A1 Chipkartenmodul und Verfahren zum Schützen eines Chipkartenmoduls vor Überspannungen
196 DE10240132B4 Verfahren und Vorrichtung zur Interpolation von Eingangswerten bzw. Verfahren zum Einrichten einer Interpolationsvorrichtung
197 EP1433249 ABGLEICHVERFAHREN FÜR EINE NACH DER ZWEI-PUNKT-MODULATION ARBEITENDE SCHALTUNG UND PLL-SCHALTUNG MIT EINER ABLGLEICHVORRICHTUNG
198 DE102006028672B3 Single-Chip-Einzelhalbleiter-Optobauelement, insbesondere Optotyristor oder Optotriac
199 DE102006016514A1 Schaltung und Verfahren zum Konfigurieren einer Schaltung
200 DE102006017283A1 Verfahren und Messvorrichtung zur ellipsometrischen Vermessung von Strukturelementen und Verwendung der Messvorrichtung
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