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No Patent No Titel
801 DE102005036860A1 Empfänger mit Einheiten zur Korrektur eines Frequenzversatzes
802 DE10134900B4 Haltevorrichtung mit Diffusionssperrschicht für Halbleitereinrichtungen
803 DE102005043914A1 Halbleiterbauelement für Bondverbindung
804 DE102005042141A1 Konferenz-Kommunikationssystem, Verfahren zum Betreiben eines Konferenz-Kommunikationssystems, Notifizierungseinrichtung und Verfahren zum Notifizieren eines Kommunikationsendgeräts
805 DE102005042310A1 CMOS-Schaltkreis-Anordnung
806 DE102005043270A1 Vorrichtung zur Temperaturüberwachung von planaren Feldeffekttransistoren sowie zugehöriges Herstellungsverfahren
807 DE102005043271A1 Vorrichtung zur Messung der Temperatur in vertikal aufgebauten Halbleiterbauelementen bei laufendem Betrieb und kombinierte Teststruktur zur Erfassung der Zuverlässigkeit
808 DE102004020576B4 Datenverarbeitungsvorrichtung mit schaltbarer Ladungsneutralität und Verfahren zum Betreiben einer Dual-Rail-Schaltungskomponente
809 EP1444724 PHOTOLITHOGRAPHISCHES STRUKTURIERUNGSVERFAHREN MIT EINER DURCH EIN PLASMAVERFAHREN ABGESCHIEDENEN KOHLENSTOFF-HARTMASKENSCHICHT MIT DIAMANTARTIGER HÄRTE
810 DE102005037573A1 Thyristor mit Freiwerdeschutz in Form eines Thyristorsystems und Verfahren zur Herstellung des Thyristorsystems
811 DE102005040109A1 Halbleiterspeichersystem und Halbleiterspeicherchip
812 DE102006019423A1 Speichersystem und Verfahren für den Zugriff zu Speicherchips eines Speichersystems
813 DE102005039668A1 Verfahren zum rechnergestützten Bilden einer Konferenzsitzungs-Einladungsnachricht, Verfahren zum rechnergestützten Erzeugen einer Konferenzsitzung, Verfahren zum rechnergestützten Verarbeiten von Nachrichten in einer Konferenzsitzung, Konferenzsitzungs-Einladungsnachricht-Erzeugungseinheit, Konferenzsitzungs-Erzeugungseinheit und Kommunikations-Endgeräte
814 DE102005042769A1 Verfahren und Vorrichtung zur Formkorrektur eines dünngeschliffenen Wafers
815 DE102004009095B4 Verfahren zum Bestimmen der Überlagerungsgenauigkeit einer Maskenstruktur auf einer Halbleiterschicht anhand von Justiermarken
816 DE10206187B4 Bildgebender, elektronischer Sensor
817 DE10211957B4 Ternäre inhaltsadressierbare Speicherzelle
818 DE102006004031B3 Leistungshalbleitermodul mit Halbbrückenkonfiguration
819 DE102005059189B3 Anordnung von Halbleiterspeichereinrichtungen sowie Halbleiterspeichermodul mit einer Anordnung von Halbleiterspeichereinrichtungen
820 DE102006004396B3 Verfahren zum Entfernen von Refraktärmetallschichten und zur Silizierung von Kontaktflächen
821 EP1148511 MRAM-Speicher
822 DE102004062203B4 Datenverarbeitungseinrichtung, Telekommunikations-Endgerät und Verfahren zur Datenverarbeitung mittels einer Datenverarbeitungseinrichtung
823 DE102006032419B3 Verfahren Anordnung, Chip und Vorrichtung zum Erzeugen eines Startwertes für einen Pseudo-Zufallszahlengenerator und Computerprogramm
824 DE102005041879A1 Verfahren zur Herstellung eines IGBT mit einer Isolationsschicht zwischen Body-Zone und Driftzone und IGBT
825 DE69933028T2 VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUM WÄHLEN VON VERSORGUNGSSPANNUNG
826 DE102005015822B4 Sensoranordnung
827 DE102005040072A1 Vorrichtung zum verpolungssicheren Versorgen einer elektronischen Komponente mit einer Zwischenspannung aus einer Versorgungsspannung
828 DE102005039394A1 Verfahren zum Suchen potentieller Fehler eines Layouts einer integrierten Schaltung
829 DE102005044142B3 Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitenden Füllung in einem Graben eines Halbleitersubstrats und Grabenkondensator
830 DE102005040110A1 Verfahren und Schaltungsanordnung zur Einstellung einer Übertragungscharakteristik-Steilheit
831 DE102004012240B4 Verfahren zur Herstellung einer Lochmaske zur lithographischen Strukturierung mittels geladener Teilchen
832 DE102005040557A1 Integrierte Speicherschaltung mit einem resistiven Speicherelement sowie ein Verfahren zur Herstellung einer solchen Speicherschaltung
833 DE102005046398B3 Signalverarbeitungsschaltung und Verfahren zum Verarbeiten eines HF-Eingangssignals
834 DE10160457B4 Verfahren zur Überprüfung von integrierten Schaltungen
835 DE102005038736A1 Phasenverschiebungsvorrichtung
836 DE102005039165A1 Halbleiterleistungsbauteil mit vertikalem Strompfad durch einen Halbleiterleistungschip und Verfahren zu dessen Herstellung
837 DE60121945T2 ANORDNUNG ZUR KOMPENSATION VON TEMPERATURABHÄNGIGEN SCHWANKUNGEN DES OBERFLÄCHENWIDERSTANDS EINES WIDERSTANDS AUF EINEM CHIP
838 DE102004053602B4 Speichersystem und Verfahren zur Steuerung eines Speicherbauelements, um verschiedenartige Charakteristika auf ein und demselben Speicherbauelement zu erzielen
839 DE102005018347B4 Flash-Speicherzelle, Flash-Speichervorrichtung und Herstellungsverfahren hierfür
840 DE102005041295B3 Verfahren und Vorrichtungen zum Einschalten und Ausschalten einer Spannungsversorgung einer Spannungsdomäne einer Halbleiterschaltung und entsprechende Halbleiterschaltung
841 DE102005038219A1 Integrierte Schaltungsanordnung mit Kondensator in einer Leitbahnlage und Verfahren
842 DE10204427B4 Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation dynamischer Fehlersignale eines Chopped-Hall-Sensors
843 DE102005002675B4 Verfahren zum Herstellen einer ebenen Spin-on-Schicht auf einer Halbleiterstruktur
844 EP1742227 Bistabile Kippstufe mit nichtflüchtiger Zustandsspeicherung
845 DE102006029281A1 Halbleiterbauelement mit einer vergrabenen Gateelektrode und Verfahren zu seiner Ausbildung
846 DE102005039323A1 Leitbahnanordnung sowie zugehöriges Herstellungsverfahren
847 DE10131708B4 Integrierte Schaltung zum Empfang eines Taktsignals, insbesondere für eine Halbleiterspeicherschaltung
848 DE102005046993B3 Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines Leistungssignals aus einem Laststrom
849 DE102005020318B4 Verfahren zum Ermitteln eines Modells für ein elektrisches Netzwerk und Verwendung des Verfahrens
850 DE60029800T2 Frequenzbegrenzung und Überlastungsdetektion in einem Spannungsregler
851 DE102005038441A1 Feldeffekthalbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung desselben
852 EP1153475 GATE-VORSPANNUNGSVORRICHTUNG
853 DE102005039352A1 Schaltungsanordnung zur Erfassung einer Einrastbedingung eines Phasenregelkreises und Verfahren zum Bestimmen eines eingerasteten Zustandes eines Phasenregelkreises
854 DE102004057490B4 Vorrichtung und Verfahren zum Verarbeiten eines Programmcodes
855 DE102005039138A1 Mittels eines Widerstandes programmierbare und eine Referenzstromquelle aufweisende Schaltung
856 DE102005038938A1 Speicherelement
857 DE102005026899B4 Kompensationsschaltung zur Takt-Jitter-Kompensation
858 DE102005037635A1 Hardwaresteuerung für den Wechsel des Betriebsmodus eines Speichers
859 EP1738183 UMVERDRAHTUNGSSUBSTRATSTREIFEN MIT MEHREREN HALBLEITERBAUTEILPOSITIONEN
860 DE102006029235A1 Piezoelektrischer Stress-Liner für Masse und SOI
861 EP1130735 Schaltungsanordnung zur Regelung der Sendeleistung eines batteriebetriebenen Funkgeräts
862 EP1739829 BAW-Vorrichtung
863 DE102005040288B3 Verfahren zur Verringerung einer Desorption von HBr bei der Hertellung von Halbleiterbauelementen
864 DE102006027586A1 Integrierte Schaltungen mit Induktionsspulen in mehreren leitenden Schichten
865 DE102005050811B3 DRAM-Halbleiterspeichervorrichtung mit erhöhter Lesegenauigkeit
866 DE102005028927B4 BAW-Vorrichtung
867 EP1091290 Prozessorsystem mit Speicher- oder Ladebebefehl mit Trenninformation
868 DE102005034669A1 Photolithographische Maske und Verfahren zum Bilden eines Musters auf der Maske
869 DE102005032076B3 Verfahren zum Herstellen eines Schaltungsmoduls
870 DE102005035150A1 Verstärkerschaltung und Verfahren zum Verstärken eines zu verstärkenden Signals
871 DE102005035393A1 Bauelement mit einem oder mehreren Chips sowie Verfahren zur Herstellung eines solchen
872 DE102006009540A1 Substrat für ein substratbasiertes elektronisches Bauelement und elektronisches Bauelement mit verbesserter Zuverlässigkeit
873 DE10303452B4 Verfahren zur Steuerung der Unterbrechung und/oder der Aufzeichnung von Ausführungsdaten eines Programms in einem Mikrocontroller und Mikrocontroller mit einer Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
874 DE102005034387A1 Trench-DRAM-Halbleiterspeicher mit reduziertem Leckstrom
875 DE102005002522B4 Verfahren und Vorrichtung zur Übermittlung eines Kommunikationssignals und eines Datensignals
876 DE102004057237B4 Verfahren zum Herstellen von Kontaktlöchern in einem Halbleiterkörper sowie Transistor mit vertikalem Aufbau
877 DE10109560B4 Lesevorrichtung für Fingerabdrücke
878 DE102005030886B3 Schaltungsanordnung mit einem Transistorbauelement und einem Freilaufelement
879 DE102005003000B4 Halbleiterprodukt mit einem Halbleitersubstrat und einer Teststruktur und Verfahren
880 DE112004002761T5 Eine nicht verbleite Halbleiterbaugruppe und ein Verfahren, um diese zusammenzusetzen
881 DE102005035445A1 Nichtflüchtige, resistive Speicherzelle auf der Basis von Metalloxid-Nanopartikeln sowie Verfahren zu deren Herstellung und entsprechende Speicherzellenanordnung
882 DE10058952B4 Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines analogen Eingangssignals
883 DE102005034440A1 Verstärkeranordnung, Polartransmitter mit der Verstärkeranordnung und Verfahren zur Signalverstärkung
884 DE102005033941A1 Verfahren und System zur Beseitigung von Datenübertragungsfehlern
885 EP1734657 Schaltungsanordnung zum Schutz gegen Überströme und Überspannungen sowie gegen auf den Leitungen auftretenden Kurzschlüssen und Verfahren
886 DE102005034506A1 Verfahren und System zum Unterdrücken eines Störsignals
887 DE102005036528A1 Speicherbaustein und Verfahren zum Betreiben eines Speicherbausteins
888 DE102006031055A1 Halbleiterspeichervorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
889 EP1733475 PULSGENERATOR-SCHALTKREIS UND SCHALTKREIS-ANORDNUNG
890 DE102005035385A1 Digital-Analog-Umsetzer und Verfahren zur Digital-Analog-Umsetzung eines Signals
891 DE102005033473A1 Speicheranordnung und Verfahren zum Betrieb einer Speicheranordnung
892 DE102005031517A1 Elektronisches Bauelement in Hybridbauweise mit hohem Skalierungspotential und Verfahren zur Herstellung desselbigen
893 DE102005034011A1 Halbleiterbauteil für Hochfrequenzen über 10 GHz und Verfahren zur Herstellung desselben
894 DE102005021586B3 Halbleiterchip und Verfahren zur Überprüfung der Unversehrtheit von Halbleiterchips
895 DE102005026408B3 Verfahren zur Herstellung einer Stoppzone in einem Halbleiterkörper und Halbleiterbauelement mit einer Stoppzone
896 DE102005033469A1 Halbleitersubstrat, Verfahren zu dessen Herstellung sowie Verfahren zum Herstellen eines Schaltungsmoduls
897 DE102005037357B3 Logikschaltung und Verfahren zum Berechnen eines maskierten Ergebnisoperanden
898 EP0933711 Anordnung und Verfahren zum Bereitstellen von Daten zur Charakterisierung von verschiedenen Einheiten an einem Bussystem
899 DE102005028211B4 Schaltungsanordnung zum Verbinden eines ersten Schaltungsknotens mit einem zweiten Schaltungsknoten und zum Schutz des ersten Schaltungsknotens vor einer Überspannung
900 DE102005023882B3 Hochgeschwindigkeitsdiode
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